Final inspectionとは 意味・読み方・使い方

An inspection unit 15 inspects at least the flaw in a final inspection region excepting the non-inspection region, which is specified by the control unit 14, from the semiconductor pattern using the pattern image acquired by the acquisition unit 11 and outputs final inspection results showing the flaw in the final inspection region.例文帳に追加

検査部１５は、取得部１１が取得したパターン画像を用いて、半導体パターンから制御部１４にて特定された非検査領域を除いた最終検査領域内の欠陥を少なくとも検査し、その最終検査領域内の欠陥を示す最終検査結果を出力する。 - 特許庁

The final inspection station Sn reads and records the label of the inspection indicating slip, and outputs an inspection result slip 250.例文帳に追加

最終検査ステーションＳｎでは、検査指示票のラベルを読み取り記録するとともに検査結果票２５０を出力する。 - 特許庁

Implementation of the final inspection in government laboratory on the sample detected any reaction,例文帳に追加

反応があったサンプルについては、政府検査所で最終的な検査を実施。 - 経済産業省

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁

If the collation result is OK, it is discriminated whether the circuit is on the final inspection point or not in S13, and when the circuit is not on the final inspection point, the next circuit checking is performed.例文帳に追加

この照合結果がＯＫの場合、Ｓ１３で当該回路が最終検査ポイントか否かを判別し、最終検査ポイントでない場合は次の回路のチェックを行う。 - 特許庁

(d) The financial institution shall be informed that the final views of the inspection department/bureau will be presented in the inspection results notice, and that even after the completion of on-the-spot inspection, the inspection itself will continue until the inspection results notice is given.発音を聞く 例文帳に追加

ニ．検査部局としての最終的な見解は検査結果通知により示される旨、及び立入検査は終了しても検査自体は検査結果通知まで継続する旨を被検査金融機関に伝達し、今後の手続について説明を行う。 - 金融庁

To provide a defect inspection analysis system and a defect inspection analysis method capable of improving the efficiency of a series of inspection analysis processes, including the defect inspection of a wafer at the manufacturing of a semiconductor device and a final defect analysis result of a target portion, and to provide a management computer that uses the defect inspection analysis method.例文帳に追加

半導体装置製造時のウエハの欠陥検査や注目部の最終的な欠陥解析結果を含む一連の検査解析工程を高効率化することができる欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータを提供する。 - 特許庁

It is thus possible to automate visual inspection of the wafer 2 to final defect classification, eliminate the need for inspection by visual observation (review), and substantially shortening the time required for inspection.例文帳に追加

このため、ウェハ２の外観検査を最終的な欠陥分類に至るまで自動化でき、目視検査（レビュー）が不要となり、検査時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁