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H scanとは 意味・読み方・使い方

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機械工学英和和英辞典での「H scan」の意味

H scan


「H scan」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 26



例文

At the scan test time, the scan test signal TE becomes H level.例文帳に追加

一方、スキャンテスト時、テスト信号TEはHレベルとなる。 - 特許庁

The horizontal scan period H includes a plurality of selection terms Ts (data output periods Pk) and a write period PWR.例文帳に追加

水平走査期間Hは、複数の選択期間Ts(データ出力期間Pk)と、書込期間PWRとを含む。 - 特許庁

In an electro-optic device, each selection period H of a scan line includes a precharge period TPRE and a writing period TWRT.例文帳に追加

走査線の各選択期間Hは、プリチャージ期間TPREと書込期間TWRTより成る。 - 特許庁

Here, the K_H is predicted from a high resolution scan, and the K_L and the L are predicted from a reduced image, respectively.例文帳に追加

ここでK_Hは、高解像度走査から予測され、K_LおよびLは、縮小された画像から、それぞれ予測される。 - 特許庁

For the scan chain including the failure, a shift operation is performed by fixing a scan chain input terminal to L or H, and data are set in a flip-flop on the scan chain without being influenced by the failure.例文帳に追加

故障を含むスキャンチェーンに対し、スキャンチェーン入力端子をLまたはHに固定してシフト動作を行い、故障の影響を受けずにスキャンチェーン上のフリップフロップにデータを設定する。 - 特許庁

Further, the pulse signals ASCLK, BSCLK are turned to a shorter time 'H' than a time being that the scan-clock SCLK is 'H', periods of 'H' of the pulse signals ASCLK and BSCLK are not overlapped.例文帳に追加

尚、パルス信号ASCLK,BSCLKは、スキャンクロックSCLKが“H”である時間よりも短い時間“H”となり、パルス信号ASCLK,BSCLKの“H”の期間は重ならない。 - 特許庁

例文

The counter 1 is cleared at the rear edge, counts a horizontal synchronizing signal PH(P) of the system at each clearing and outputs a scan signal L(P)i.例文帳に追加

カウンタは、その後縁でクリアされ、クリア毎に該方式の水平同期信号P_H(P)を計数し、走査信号L_(P)iを出力する。 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「H scan」の意味

H scan

走査

「H scan」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 26



例文

When a scan signal Ysi supplied to a scan line 112 is set to a high (H) level, the data signal Sj having a voltage corresponding to a gradation and a write polarity is applied to the data line 114.例文帳に追加

走査線112に供給される走査信号YsiをHレベルにした場合に、階調に応じ、かつ、書込極性に応じた電圧のデータ信号Sjをデータ線114に印加する。 - 特許庁

A selecting circuit 51 connects a pixel electrode 22 corresponding to a scan line of a selected row to a signal line 45 in a selection period H and insulates it from the signal line 45 the selection period H later.例文帳に追加

選択回路51は、選択行の走査線41に対応した画素電極22を選択期間Hにて信号線45に接続し、選択期間Hの経過後に信号線45から絶縁する。 - 特許庁

Consequently, when one beam β deviates from the object range H during a deflecting operation for one scan by the polygon mirror 4, the object range H is scanned with the other beam α, so the object range H can continuously be scanned.例文帳に追加

これにより、ポリゴンミラー4によって偏向される一走査分の偏向動作中で一方ビームβが走査対象範囲Hから外れるときに他方のビームαが走査対象範囲H内で走査されるので、走査対象範囲Hを連続的に走査させることができる。 - 特許庁

An electro-optical device 100 includes data lines 16 blocked in each of a pieces of data lines, pixel circuits U arranged in response to each intersection with scan lines 120, selection parts MP arranged in response to blocks, and a drive circuit 20 for driving each pixel circuit U in a cycle of horizontal scan period H.例文帳に追加

電気光学装置100は、a本毎にブロック化されたデータ線16と、走査線120との各交差に対応して配置された画素回路Uと、ブロックに対応して配置される選択部MPと、各画素回路Uを水平走査期間Hの周期で駆動する駆動回路20とを備える。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン11に‘H’レベルの信号Aを入力して内部回路12をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路13により内部ピン14aを経由してセル14の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路12に印加してIDDQテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁

In the case of displaying a pixel 100 in black, if a first data line 114A is set to an H level and a second data line 114B is set to an L level when a scan line 112 is at an H level, a TFT 131 is turned on and a TFT 132 is turned off.例文帳に追加

画素100を黒の表示にする場合、走査線112がHレベルである時に第1データ線114AをHレベル、第2データ線114BをLレベルにすると、TFT131はオンとなり、TFT132はオフとなる。 - 特許庁

A potential control circuit 53 sets each control line 43 to a potential VL (<LCCOM) in the positive-polarity writing or a potential VH (>LCOOM) in the negative-polarity writing in the selection period H wherein the scan line 41 corresponding to the control line 43 is selected, and then to the potential LCCOM the selection period H later.例文帳に追加

電位制御回路53は、各制御線43を、当該制御線43に対応した走査線41が選択される選択期間Hにて、正極性書込時には電位VL(<LCCOM)に設定し、負極性書込時には電位VH(>LCCOM)に設定する一方、当該選択期間Hの経過後に電位LCCOMに設定する。 - 特許庁

例文

In the case of displaying the pixel 100 in white, if the first data line 114A is set to an L level and the second data line 114B is set to an H level when the scan line 112 is at an H level, the TFT 131 is turned off and the TFT 132 is turned on.例文帳に追加

画素100を白の表示にする場合、走査線112がHレベルである時に第1データ線114AをLレベル、第2データ線114BをHレベルにすると、TFT131はオフとなり、TFT132はオンとなる。 - 特許庁

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