H scanとは意味・読み方・使い方

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機械工学英和和英辞典での「H scan」の意味

H scan

Hスコープ，H走査

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「H scan」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 26件

例文

At the scan test time, the scan test signal TE becomes H level.例文帳に追加

一方、スキャンテスト時、テスト信号ＴＥはＨレベルとなる。 - 特許庁

The horizontal scan period H includes a plurality of selection terms Ts (data output periods Pk) and a write period PWR.例文帳に追加

水平走査期間Ｈは、複数の選択期間Ts（データ出力期間Pk）と、書込期間PWRとを含む。 - 特許庁

In an electro-optic device, each selection period H of a scan line includes a precharge period TPRE and a writing period TWRT.例文帳に追加

走査線の各選択期間Ｈは、プリチャージ期間ＴPREと書込期間ＴWRTより成る。 - 特許庁

Here, the K_H is predicted from a high resolution scan, and the K_L and the L are predicted from a reduced image, respectively.例文帳に追加

ここでＫ_Hは、高解像度走査から予測され、Ｋ_LおよびＬは、縮小された画像から、それぞれ予測される。 - 特許庁

For the scan chain including the failure, a shift operation is performed by fixing a scan chain input terminal to L or H, and data are set in a flip-flop on the scan chain without being influenced by the failure.例文帳に追加

故障を含むスキャンチェーンに対し、スキャンチェーン入力端子をＬまたはＨに固定してシフト動作を行い、故障の影響を受けずにスキャンチェーン上のフリップフロップにデータを設定する。 - 特許庁

Further, the pulse signals ASCLK, BSCLK are turned to a shorter time 'H' than a time being that the scan-clock SCLK is 'H', periods of 'H' of the pulse signals ASCLK and BSCLK are not overlapped.例文帳に追加

尚、パルス信号ＡＳＣＬＫ，ＢＳＣＬＫは、スキャンクロックＳＣＬＫが“Ｈ”である時間よりも短い時間“Ｈ”となり、パルス信号ＡＳＣＬＫ，ＢＳＣＬＫの“Ｈ”の期間は重ならない。 - 特許庁

例文

The counter 1 is cleared at the rear edge, counts a horizontal synchronizing signal PH(P) of the system at each clearing and outputs a scan signal L(P)i.例文帳に追加

カウンタは、その後縁でクリアされ、クリア毎に該方式の水平同期信号Ｐ_H(P)を計数し、走査信号Ｌ_(P)iを出力する。 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「H scan」の意味

H scan

Ｈ走査

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「H scan」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 26件

例文

When a scan signal Ysi supplied to a scan line 112 is set to a high (H) level, the data signal Sj having a voltage corresponding to a gradation and a write polarity is applied to the data line 114.例文帳に追加

走査線１１２に供給される走査信号ＹｓｉをＨレベルにした場合に、階調に応じ、かつ、書込極性に応じた電圧のデータ信号Ｓｊをデータ線１１４に印加する。 - 特許庁

A selecting circuit 51 connects a pixel electrode 22 corresponding to a scan line of a selected row to a signal line 45 in a selection period H and insulates it from the signal line 45 the selection period H later.例文帳に追加

選択回路５１は、選択行の走査線４１に対応した画素電極２２を選択期間Ｈにて信号線４５に接続し、選択期間Ｈの経過後に信号線４５から絶縁する。 - 特許庁

Consequently, when one beam β deviates from the object range H during a deflecting operation for one scan by the polygon mirror 4, the object range H is scanned with the other beam α, so the object range H can continuously be scanned.例文帳に追加

これにより、ポリゴンミラー４によって偏向される一走査分の偏向動作中で一方ビームβが走査対象範囲Ｈから外れるときに他方のビームαが走査対象範囲Ｈ内で走査されるので、走査対象範囲Ｈを連続的に走査させることができる。 - 特許庁

An electro-optical device 100 includes data lines 16 blocked in each of a pieces of data lines, pixel circuits U arranged in response to each intersection with scan lines 120, selection parts MP arranged in response to blocks, and a drive circuit 20 for driving each pixel circuit U in a cycle of horizontal scan period H.例文帳に追加

電気光学装置１００は、ａ本毎にブロック化されたデータ線１６と、走査線１２０との各交差に対応して配置された画素回路Ｕと、ブロックに対応して配置される選択部ＭPと、各画素回路Ｕを水平走査期間Ｈの周期で駆動する駆動回路２０とを備える。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン１１に‘Ｈ’レベルの信号Ａを入力して内部回路１２をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路１３により内部ピン１４ａを経由してセル１４の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路１２に印加してＩＤＤＱテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁

In the case of displaying a pixel 100 in black, if a first data line 114A is set to an H level and a second data line 114B is set to an L level when a scan line 112 is at an H level, a TFT 131 is turned on and a TFT 132 is turned off.例文帳に追加