Kelvin probeとは 意味・読み方・使い方

To provide a Kelvin probe instrument, across which a large voltage drop will not generate, even if a large current is made to flow.例文帳に追加

大きな電流を流しても大きな電圧降下が生じないケルビン検査用治具を提供する。 - 特許庁

To provide a two-probe Kelvin probe for being used for a circuit inspection in the case an electrode to be measured is arranged in a random order.例文帳に追加

被測定電極の配置がランダムの場合の回路検査に使用することのできる２探針ケルビンプローブを提供する。 - 特許庁

A probe card in an inspection apparatus includes probe needles for Kelvin contacts each comprising a coil type probe needle and a pogo pin type probe needle disposed in the inside thereof, and a probe needle for two-terminal measurement.例文帳に追加

検査装置のプローブカードは、コイル型プローブ針とその内側に配置されたポゴピン型プローブ針とで構成されたケルビンコンタクト用プローブ針および２端子測定用プローブ針を備えている。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁

Hereby, since the contact resistance when the probe needle 2b and the probe needle 2c are brought into contact with the electrode 1b is small, the highly accurate measurement is enabled and the accurate Kelvin type measurement can be realized.例文帳に追加

プローブニードル２ｂとプローブニードル２ｃが電極１ｂに接触したときの接触抵抗が小さく、高精度の測定を可能とし、正確なケルビン式測定ができる。 - 特許庁

Next, the scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A wherein the work function A of the probe 2A is concretely calculated is used to measure the surface potential (y) of an unknown sample different from the standard sample 3A.例文帳に追加

次に、深針２Ａの仕事関数Ａが具体的に算出された導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡を用いて、標準試料３Ａとは異なる未知試料の表面電位ｙを測定する。 - 特許庁

To provide a probe, which can surely and easily establish Kelvin connection on an electrode surface, even if an object to be measured becomes minute, and which can accurately and easily perform four-terminal measurement, even if it is on-board.例文帳に追加

被測定物が極小化しても、その電極面において確実且つ容易にケルビン接続を行うことができ、またオンボードであっても、四端子測定を高精度且つ簡単に行うことができるプローブを提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning Kelvin probe microscope in which a frequency component not required to detect potential information on the surface of a sample to be measured is suppressed and in which the S/N ratio of the potential information on the surface of the sample is enhanced.例文帳に追加

走査型ケルビンプローブ顕微鏡において、試料表面の電位情報を検出する場合に不要となる周波数成分を抑圧し、測定される試料表面の電位情報のＳ／Ｎを向上させることを目的とする。 - 特許庁