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Si fieldとは 意味・読み方・使い方

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Weblio専門用語対訳辞書での「Si field」の意味

Si field

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「Si field」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 71



例文

SI THYRISTOR INDUCTION FIELD POWER GENERATOR例文帳に追加

SIサイリスタ誘導電動界磁発電機。 - 特許庁

Si/SiGe HETEROSTRUCTURE FOR HIGH-SPEED COMPOSITE P-CHANNEL FIELD EFFECT DEVICE例文帳に追加

電界効果デバイス用高速複合pチャネルSi/SiGeヘテロ構造 - 特許庁

METHOD FOR FORMING STRAINED Si LAYER, METHOD FOR MANUFACTURING FIELD EFFECT TRANSISTOR, SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND FIELD EFFECT TRANSISTOR例文帳に追加

歪みSi層の形成方法と電界効果型トランジスタの製造方法、及び半導体基板と電界効果型トランジスタ - 特許庁

On a Si substrate 120 of a semiconductor device, a field oxide film 101 is provided.例文帳に追加

半導体装置のSi基板120上には、フィールド酸化膜101が設けられている。 - 特許庁

To provide a method for forming a strained Si layer, a method for manufacturing a field effect transistor, a semiconductor substrate and a field effect transistor in which a strained Si layer of good quality can be formed thicker than a conventional one.例文帳に追加

歪みSi層の形成方法と電界効果型トランジスタの製造方法、及び半導体基板と電界効果型トランジスタにおいて、良質な歪みSi層を従来より厚く成膜すること。 - 特許庁

METHOD FOR FORMING SILICON/GERMANIUM LAYER, METHOD FOR FORMING DISTORTED Si LAYER USING THE SAME, METHOD FOR MANUFACTURING FIELD-EFFECT TRANSISTOR, SEMICONDUCTOR WAFER, Si WAFER USING THE SAME AND FIELD-EFFECT TRANSISTOR例文帳に追加

SiGe層の形成方法及びこれを用いた歪みSi層の形成方法と電界効果型トランジスタの製造方法、並びに半導体ウェーハ及びこれを用いた歪みSiウェーハと電界効果型トランジスタ - 特許庁

例文

A non-SI unit detection deletion part 105 detects the industrial unit codes of non-SI units from among device specifications acquired by a field equipment data acquisition part 104 by using a non-SI unit definition dictionary file 103.例文帳に追加

非SI単位検出削除部105が、非SI単位定義辞書ファイル103を用い、フィールド機器データ取得部104が取得したデバイス仕様の中より、非SI単位の工業単位コードを検出する。 - 特許庁

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「Si field」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 71



例文

To provide a semiconductor device having a high speed field effect transistor with low power consumption by using the combination of Si and Ge having the same family element as Si.例文帳に追加

Siおよびこれと同族元素であるGe等の組合せを用いて、低消費電力で高速な電界効果トランジスタを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF FORMING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, FIELD TRANSISTOR, AND SiGe LAYER, AND METHOD OF FORMING DISTORTED Si LAYER AND METHOD OF MANUFACTURING FIELD EFFECT TRANSISTOR UTILIZING THE FORMING METHOD例文帳に追加

半導体基板と電界効果型トランジスタ並びにSiGe層の形成方法及びこれを用いた歪みSi層の形成方法と電界効果型トランジスタの製造方法 - 特許庁

Further, the efficiency is enhanced to a maximum extent while reducing a leak current, by optimizing the film thickness of the strained Si layer having a channel region, the inactivation of defects, a field plate structure, etc.例文帳に追加

更に、チャネル領域を有する歪Si層の膜厚、欠陥の不活性化、或いはフィールドプレート構造の最適化などによってリーク電流を低減しつつ最大限に効率を高める。 - 特許庁

In this Al-Mg-Si aluminum alloy sheet, the number of Mg-Si compounds with the size of ≥1 μm is300 pieces in the range of a visual field of 1 mm2 by SEM.例文帳に追加

Al−Mg−Si系アルミニウム合金板は、大きさが1μm以上であるMgSi系化合物がSEM観察による1mm^2の視野の範囲内に300個以下である。 - 特許庁

The electrons injected from the n-type Si-semiconductor substrate 1 are accelerated by the strong electric field, and thus electrons having energy exceeding the work function of the thin-film electrode 4 are emitted into a vacuum.例文帳に追加

n型Si半導体基板1から注入された電子は、この強電界で加速を受け、薄膜電極4の仕事関数を越えるエネルギーを有する電子が真空中へ放射される。 - 特許庁

(6) In all documents units of measure shall be expressed in terms of the SI System. If a different system is used units of measure shall be expressed also in terms of the SI System. In general use shall be made of technical terms signs and symbols generally accepted in the field in question where such terms signs or symbols are used.例文帳に追加

(6) すべての書類において,計測単位は,SI系により表示する。他の単位系を用いる場合は,計測単位は,SI系でも表示しなければならない。一般に,専門用語,符号及び記号を用いる場合は,当該分野で一般に受け入れられている専門用語,符号及び記号を用いなければならない。 - 特許庁

After a poly-Si layer 4 is located on a silicon substrate 1 including an upper surface of a field-oxide film 3, the poly-Si layer 4 is patterned, thereby, the poly-Si layer 4a remains in a region constituting a gate electrode in a MOSFET-formed region and a poly-Si layer 4b also remains in a poly-Si resistive-element-formed region.例文帳に追加

フィールド酸化膜3の上を含むシリコン基板1の上にPoly−Si層4を配置したのち、Poly−Si層4をパターニングすることで、MOSFET形成領域のうちゲート電極を構成する領域においてPoly−Si層4aを残すと共に、Poly−Si抵抗体形成領域においてPoly−Si層4bを残す。 - 特許庁

例文

An insulating film 105 and a cover insulating film 108 are provided over the Si substrate 120 and the field oxide film 101.例文帳に追加

Si基板120およびフィールド酸化膜101の上部には、絶縁膜105およびカバー絶縁膜108が設けられている。 - 特許庁

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