X‐ray spectroscopic analysisの英語

To provide a new spectroscopic analyzer in which a fluorescent X-ray spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on constituent elements and a Raman spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on atomic coupling are skillfully combined with each other.例文帳に追加

構成元素に関する情報が得られる蛍光Ｘ線分光分析装置と、原子の結合に関する情報が得られるラマン分光分析装置との組み合わせ方に工夫を凝らした新しい分光分析装置を提供する。 - 特許庁

The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.例文帳に追加

得られた再生処理後の触媒について、金属種のＸ線回折分析及び／又はＸ線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁

In the surface carbon film, the bond between the carbons has an sp3 bonding/sp2 bonding ratio of 5%-90% by X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加

該表面炭素膜において、炭素同士の結合が室温のＸ線光電子分光分析でｓｐ３結合／ｓｐ２結合比が５％〜９０％である。 - 特許庁

To provide an electron beam source used for X-ray spectroscopic analysis or the like which achieves less time degradation, excellent reproducibility, high luminance, and stability.例文帳に追加

Ｘ線分光分析等に使用される電子線源であって、経時劣化が少なく再現性に優れた、高輝度かつ安定な電子線源を提供する。 - 特許庁

To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.例文帳に追加

試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁

To improve waveform resolution in a device for performing spectroscopic analysis of an X-ray generated from a fine domain on a sample such as EPMA, and to enable selection between the waveform resolution and analysis sensitivity corresponding to an analysis purpose or the like.例文帳に追加

ＥＰＭＡ等、試料上の微小領域から発生するＸ線を分光分析する装置における波長分解能を向上させるとともに、分析目的等に応じて波長分解能と分析感度とを選択することを可能とする。 - 特許庁

To provide a method for simply and easily analyzing a high resistance sample in X-ray photoelectron spectroscopic analysis and secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

本発明は、Ｘ線光電子分光分析方法及び2次イオン質量分析方法で従来法以上に簡便に高抵抗試料の分析を行なう方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The developer carrier has a specific relation between the proportion of the sulfur atoms and the molybdenum atoms present in the surface of the conductive resin coating layer measured by X-ray photoelectron spectroscopic analysis and the proportion of the sulfur atoms and the molybdenum atoms present at a depth of 2 μm from the surface.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析により測定される該導電性樹脂被覆層の表面おける硫黄原子、モリブデン原子の存在率と、表面から２μｍの深さにおける硫黄原子、モリブデン原子の存在率が特定の関係を有する。 - 特許庁