To provide a base for a microscope capable of realizing the improvement of the aligning accuracy of a microscope and the prevention of the blur of the microscope after the alignment.例文帳に追加

顕微鏡の位置合わせ精度の向上及び位置合わせ後における顕微鏡のブレ防止を可能にする顕微鏡台を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanism aligning chips and an optical fiber with a simple method by using a mirror without aligning them under the use of a microscope.例文帳に追加

チップと光ファイバーを顕微鏡の下で整列させるのではなく、ミラーを使って簡単な方法で調整する機構を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR ALIGNING ROTARY AXIS OF CHUCK TABLE AND CENTER OF MICROSCOPE IN CUTTER例文帳に追加

切削装置におけるチャックテーブルの回転軸と顕微鏡の中心との位置合わせ方法 - 特許庁

To provide a base for a microscope capable of accurately and easily aligning a microscope to a specified position and supporting the microscope in a stable state.例文帳に追加

所定の位置への顕微鏡の位置合せを高精度且つ容易に行うことができ、しかも、安定した状態で顕微鏡を支持することができる顕微鏡台を提供する。 - 特許庁

To provide a low-cost scanning probe microscope capable of acurately aligning a laser beam to a cantilever.例文帳に追加

レーザー光のカンチレバーへの位置合わせを正確に行える低コストの走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The cores and optical fiber can be positioned through a microscope because of the geometric shape of the cores 3, so the aligning operation is facilitated.例文帳に追加

コア３の幾何学的な形状により、顕微鏡下でコアと光ファイバとの位置決めができるため、調芯作業が容易になる。 - 特許庁

To provide a low-cost positioning unit for aligning positions of optical units, each having at least one optical element, on a beam path of a microscope between the observe side of an eye to be observed and an objective lens of the microscope.例文帳に追加

少なくとも一つの光学的素子を有する光学的ユニットを、観察対象の眼の正面と、顕微鏡の対物レンズとの間における顕微鏡のビーム経路において位置合わせするコストが低い位置決めユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

This device is provided with an optical microscope aligning mark 76, that is a guiding mark for controlling a position of a measuring cantilever C2 with respect to a specimen measuring terminal face using the optical microscope, on a back face of a measuring cantilever C2.例文帳に追加

計測用カンチレバー［Ｃ２］の背面に、光学顕微鏡を用いて被検体測定端子面に対するカンチレバーの位置を制御するためのガイド用のマークである光学顕微鏡位置合せマーク［７６］を設けた。 - 特許庁

When a pattern formed on a specimen is tested by using a scanned electron microscope, and optically aligning the specimen put on a specific position of the scanned electron microscope, light used for alignment is obliquely cast on the specimen and alignment is performed by using the obtained image information of the pattern.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて試料に形成されたパターンを検査において、試料を走査型電子顕微鏡の所定の位置に載置する光学的なアライメントを行う際に、アライメントに用いる光を試料に斜めから照射して、これにより得られたパターンの画像情報を用いて行う。 - 特許庁

To prevent reduction of a resolution capacity of an image by limiting dispersed electrons in a small scanning electron microscope using a condensing lens which excludes an adjusting function such as axis aligning and intensity.例文帳に追加

本発明は、軸合せや強度の調整機能を省いたコンデンサレンズを使用した小型の走査電子顕微鏡において、散乱電子を制限して画像の分解能の低下を防止する。 - 特許庁

By supplying air to the bearing part 21 and making a rolling body 22 float in the midst of aligning the microscope A, a base board 16 floats and is freely moved with respect to the top board 17.例文帳に追加

そして、顕微鏡Ａの位置合わせ中において、ベアリング部２１にエアーを供給して転動体２２を浮上させることで、ベース板１６が浮上し、天板１７に対しベース板１６を自由に移動させることができる。 - 特許庁

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。 - 特許庁

By aligning a cutting point 12 of the diamond cutter 11 with the marker displayed within the visual field of the microscope of the diamond-cutter adjusting apparatus 21, the alignment of the cutting point 12 is performed simply in a short time and accurately.例文帳に追加

そして、ダイヤモンドカッタ１１のカッティングポイント１２の位置合わせは、ダイヤモンドカッタ調整装置２１の顕微鏡の視野内に表示されるマーカーとカッティングポイント１２との位置を合わせることによって、簡単に短時間に且つ正確に行われる。 - 特許庁

When aligning the crystal direction of the sample to an optical axis of a scanning transmission electron microscope, accurate and quick crystal direction alignment can be performed since a direction for inclining the sample can be directly determined from the shape of the electron beam diffraction image.例文帳に追加

本発明によれば、ＳＴＥＭの光軸に対して試料の結晶方位を合わせる際、試料を傾斜させるべき方向を電子線回折像の形状から直接判断することができるため、正確かつ迅速な結晶方位合せが可能となる。 - 特許庁