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arrangement testとは 意味・読み方・使い方
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「arrangement test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 129件
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST TERMINAL ARRANGEMENT METHOD例文帳に追加
半導体集積回路装置とテスト端子配置方法 - 特許庁
TEST PIECE SUPPLY ARRANGEMENT AND URINE EXAMINATION DEVICE USING IT例文帳に追加
試験片供給装置とこれを用いた尿の検査装置 - 特許庁
To provide a semiconductor test device 1 capable of making a test with compact simple arrangement.例文帳に追加
コンパクト化された簡易な構成で検査を行うことができる半導体検査装置１を提供する。 - 特許庁
Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加
したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁
The arrangement of the test bench needed for the verification program is described within the verification program, whereby a mechanism is constructed which is executed after the test bench conforming to the test bench arrangement described is automatically constructed from the test bench of the largest arrangement.例文帳に追加
検証用プログラムに必要なテストベンチの構成を検証用プログラム内に記述することで、記述されたテストベンチ構成にしたがったテストベンチが最大構成のテストベンチから自動的に構築されてから実行される仕組みを構築する。 - 特許庁
To change setting of pin arrangement in a test of a plurality of devices to be tested having the same pin arrangement.例文帳に追加
同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験において、ピン配置の設定を変更する。 - 特許庁
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「arrangement test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 129件
As the result, it is possible to test the wiring in the matter of minutes by the device with the simple arrangement.例文帳に追加
その結果、簡単な構成の装置で、しかも短時間に配線の検査を行うことができる。 - 特許庁
To apply a test pattern in which physical arrangement of a cell is adopted to a memory after relieving processing.例文帳に追加
救済処理後のメモリ対して、セルの物理的配置を考慮したテストパターン印加を行うこと。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of improving the arrangement density of devices under test.例文帳に追加
被測定素子の配置密度を高めることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁
A system test information generation means 14 generates system test information showing arrangement order of the function test arranged correspondingly to arrangement order of the business step composing the business flow in each business flow shown in the flow information from the function test information.例文帳に追加
システムテスト情報生成手段１４は、機能テスト情報から、フロー情報に示された業務フローごとに、業務フローを構成する業務ステップの並び順に対応して並べた機能テストの並び順を示すシステムテスト情報を生成する。 - 特許庁
A test pattern order change means 103 changes the arrangement according to the order starting from least number of uncertain value for a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generation means 102.例文帳に追加
初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数テストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数が少ない順番に並び替えを行う。 - 特許庁
Along at least one edge of a chip, a bonding pad 3 and a pad 4 exclusively used for wafer test which are used together when test is performed are arranged on the same arrangement line having a prescribed arrangement relation.例文帳に追加
チップにおける少なくとも１辺に沿ってテスト時に共に用いられるボンディングパッド３とウエハテスト専用パッド４とを同一の配列上に所定の配置関係で設ける。 - 特許庁
An angle calculated concerning each specific ECG test is compared with the reference set of an angle in order to judge in which of a standard ECG electrode arrangement, alternative electrode arrangement and a wrong electrode arrangement an electrode is placed.例文帳に追加
各特定のＥＣＧテストについて計算された角度は、電極が標準ＥＣＧ電極配置、代替電極配置、または誤った電極配置のいずれに置かれているかを判定するために、角度の基準セットと比較される。 - 特許庁
The arrangement region of a test pad used for inspection can be optimized by arranging an input test pad 20a at a pattern region adjacent to the space area of the arrangement region (group 21) of an output test pad 10, thus miniaturizing the semiconductor package.例文帳に追加
出力テストパッド１０の配置領域（グループ２１）の空き領域に隣接するパターン領域の入力テストパッド２０ａを配置することにより、検査時に用いるテストパッドの配置領域を最適化できるため、半導体パッケージの小型化を図ることができる。 - 特許庁
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