classification of failuresとは 意味・読み方・使い方

The determination part is configured to extract the base point failures from among the classification results of one layer, and to extract the relevant failures matched with the combination conditions from among the classification results of the other layers, and to perform the grouping of the extracted base point failures and relevant failures, and to apply the combination failure designations.例文帳に追加

前記判定部は、１つのレイヤの前記分類結果から前記基点不良を抽出し、他のレイヤの前記分類結果から前記組合せ条件に合致する前記関連不良を抽出し、抽出した前記基点不良及び前記関連不良をグループ化して前記組合せ不良名称を付与する。 - 特許庁

To provide a defect classification system capable of performing classification similar to human judgement on defects such as resist coating irregularities, exposure failures, flaws, the adhesion of dust without having to register defect data in micro-inspections principally on semiconductor wafers and liquid crystal panels.例文帳に追加

主に半導体ウェハ及び液晶パネルのマクロ検査におけるレジストの塗付ムラや露光不良、キズ、塵埃の付着などの欠陥に関して、欠陥データの登録を必要とせず、より人間の判断に近い分類を可能にする欠陥分類装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inter-unit connection device capable of preventing failures to joint connectors for a power source between units or connectors for signal circuits, and a ballot classification device equipped with the same.例文帳に追加

ユニット間の電源又は信号回路用のコネクタの結合忘れを防止できるユニット間接続装置及びこれを備えた投票用紙分類装置を提供する。 - 特許庁

A test result totaling part 300 totals failures discriminated as a test result of the program registered in a test result original file 20 by every processing classification to sort the program into plural program parts and by every processing form to divide each program part into plural program re-dividing parts and stores the totaled failures in a test result totaling file 40.例文帳に追加

テスト結果集計部３００は、テスト結果原ファイル２０に登録された、プログラムのテストの結果判別した不良を、プログラムを複数のプログラム部分に区分する処理分類別及び各プログラム部分を複数のプログラム再分割部分に区分する処理形態別に集計し、テスト結果集計ファイル４０に記憶する。 - 特許庁

Plural diagnosing means for conducting classification to a partition based on properties and failure occurrence frequencies of constitutive components, and a partition based on a degree of detailness in contents of the failures to diagnose the IC tester are provided in the device of the present invention.例文帳に追加

本装置は、ＩＣテスタの構成部品の性質と故障発生頻度とによる区分と故障内容の詳細度による区分とにより分けられ、ＩＣテスタの診断を行う複数の診断手段を設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To prevent measurement difference by coarse particles by improving classification performance and quickly detecting failures or the like of a DPF (diesel particulate filter) with high detection precision at low costs in a particulate matter detection sensor of an electrical resistance system used for PM detection in exhaust gases of an internal-combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の排気ガス中のＰＭ検出に用いられる電気抵抗式の粒子状物質検出センサにおいて、分級性を高めて粗大粒子による測定誤差を防止し、低コストかつ高い検出精度で、ＤＰＦの故障等を速やかに検知する。 - 特許庁

After bringing the ASW 1-n into a nonconducting state by two types of OFF-state voltages Vgs with different voltage values and holding signals for test written in auxiliary capacitances 13 for a predetermined time, the written signals for test are each read, and signal waveforms obtained from the two signals for test are compared with each other to facilitate the determination of the presence or absence of off-leak failures and classification.例文帳に追加

電圧値の異なる２種類のオフ電圧ＶｇｓでそれぞれＡＳＷ１〜ｎを非導通状態とし、補助容量１３に書き込んだテスト用信号を所定時間保持した後、それぞれ書き込んだテスト用信号を読み取り、２つのテスト用信号から得られた信号波形を比較してオフリーク不良の有無や分類を容易にした。 - 特許庁