combinational testとは 意味・読み方・使い方

Hereby, the combinational circuit part 4 can be operated individually by propagating an individual signal at the test time, relative to the same signal linking to the combinational circuit part 4 at the ordinary operation time.例文帳に追加

これにより、通常の操作時には組合せ回路部４に繋がる同一信号に対して、テスト時には個別信号を伝播させて組合せ回路部４を個別に動作させることができるようになる。 - 特許庁

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

The test circuit 5 measures characteristics of the combinational logics 2, 4 themselves and detects failures therein as well as locating failures in the memory cells 3.例文帳に追加

このテスト回路５により、組み合わせ回路２，４自体の特性測定や故障検出して、且つメモリセル３の故障箇所を検出する。 - 特許庁

A test circuit 5 composed of through-gates and scan cells disposed near memory cells 3 sends output signals from a combinational logic 2 to a following combinational logic 4, without passing through the memory cells 3 or after collecting the signals.例文帳に追加

本発明は、スルーゲート及びスキャンセルにより構成されたテスト回路をメモリセルの近傍に配置し、組み合わせ回路２からの出力信号をメモリセル３を通過させずにスルー、或いは取りまとめて、後段の組み合わせ回路４に出力する。 - 特許庁

To provide a scanning test circuit capable of easily improving a failure detection rate of a combinational circuit, and reducing the pattern length, while suppressing increase of a test circuit scale.例文帳に追加

テスト回路規模の増大を抑えながら、組合せ回路の故障検出率を容易に向上させ、かつパタン長を削減することができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for scan test, wherein a circuit scale is reduced, as compared with that in a conventional inspection and the test time can be shortened when a combinational circuit is inspected by using the scan test.例文帳に追加

スキャンテストを用いて組み合わせ回路の検査を実行する場合において、従来の検査に比べて回路規模を縮小するとともに、テスト時間を短縮することができるスキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This method performs a scan test of an integrated circuit 1 provided with combinational circuits 10, 11, 12 and a flip-flop constituting a scan chain 20.例文帳に追加

組み合わせ回路１０、１１、１２と、スキャンチェーン２０を構成するフリップフロップと、を備える集積回路１のスキャンテストを行う方法である。 - 特許庁