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critical voltage methodとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 臨界電圧法
「critical voltage method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 14件
In addition, using the method, programming voltage, erasing voltage, and read voltage of the transistor are decreased with critical voltage being maintained within a predetermined range.例文帳に追加
また、限界電圧は所望の範囲を維持しつつ、トランジスタのプログラミング電圧、消去電圧、及び読出し電圧を下げる。 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING CRITICAL CURRENT DENSITY AND CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTIC OF SUPERCONDUCTOR THICK FILM例文帳に追加
超伝導厚膜の臨界電流密度及び電流・電圧特性の測定方法、及び装置 - 特許庁
The accuracy of the critical voltage method is ultimately limited by the Debye-waller factors of the material and the contrast of the intensity minimum.発音を聞く 例文帳に追加
臨界電圧法の精度は、究極的にはその材料のデバイワラー因子と強度の最小値のコントラストによって制限される。 - 科学技術論文動詞集
To provide a display device capable of reducing the amount of transition of a critical voltage, despite its having amorphous thin-film transistors, and to provide a drive method thereof.例文帳に追加
非晶質シリコン薄膜トランジスタを備えながらも臨界電圧の遷移量を低減することができる表示装置及びその駆動方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of fabricating electronic components capable of compensating a threshold voltage variation caused by a variation in a critical dimension of a gate electrode to secure a process margin and reduce defects.例文帳に追加
ゲート電極の臨界ディメンションの変化によるスレッショルド電圧変動を補償して工程マージン確保と不良減少が可能な電子素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a measuring method and instrument for nondestructively and noncontactingly measuring exactly a critical current density and a current-voltage characteristic of a superconductor thick film.例文帳に追加
非破壊的かつ非接触で的確に測定できる超伝導厚膜の臨界電流密度および電流・電圧特性の測定方法、及び装置を提供する。 - 特許庁
A programming method for a multilevel nitride memory cell is used for storing a plurality of different programming states which correspond to a plurality of different critical voltage levels, respectively.例文帳に追加
マルチレベル窒化物メモリセルのプログラミング方法であって、複数の異なる臨界電圧レベルにそれぞれ対応する複数の異なるプログラミング状態を記憶するために用いられる。 - 特許庁
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「critical voltage method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 14件
To provide: a continuous critical current measurement apparatus, which can continuously measure the critical current of a superconducting tape using wheel-type current and voltage terminals without burning out the superconducting tape while continuously supplying the superconducting tape using a reel-to-reel device; and a method of measuring a continuous critical current using such an apparatus.例文帳に追加
リールツーリール装置によって超伝導線材を連続的に供給しながら、ホイールタイプの電流端子および電圧端子によって超伝導線材の損傷なしで臨界電流を連続的に測定することが可能な連続臨界電流測定装置、およびこれを用いた連続臨界電流測定方法を提供する。 - 特許庁
In a method and a device for a dynamic voltage scaling (DVS) system, actual activities and critical paths inside a microprocessor core are measured using an embedded delay checker (EDC).例文帳に追加
ダイナミック電圧スケーリング(DVS)システムのための方法と装置は、埋め込まれた遅延チェッカー(EDC)セルを用いてマイクロプロセッサーコア内の実際の行動とクリティカルパスを測定する。 - 特許庁
The current-voltage characteristic of the superconductor thick film is measured by changing frequency of the alternating current to measure the critical current densities a plurality of times, using the method.例文帳に追加
さらに、この方法を用い、この交流電流の周波数を変化させて臨界電流密度を複数回測定することによって、超伝導厚膜の電流・電圧特性を測定する。 - 特許庁
The operation method of the storage device includes a procedure that two or more write-in voltages higher than the initial critical voltage are set and the write-in voltages provide data values to the storage device by switching it respectively.例文帳に追加
不揮発性記憶装置の動作方法は、初期臨界電圧より高い複数の書き込み電圧を設定し、各書き込み電圧からスイッチングされた状態にデータ値を与えることを含む。 - 特許庁
To provide a method and device for evaluating a superconductor capable of accurately measuring voltage occurrence behavior by increasing the ratio to a noise component of voltage signal intensity obtained when current of a critical current value or lower is carried through the superconductor.例文帳に追加
超電導導体に臨界電流値以下の電流を通電した際に得られる電圧信号強度のノイズ成分に対する比率を向上させて電圧発生挙動を高い精度で測定することのできる超電導導体の評価方法および装置を提供する。 - 特許庁
This system includes a discrimination part 118 which discriminates whether a cell connected to a critical path has the voltage drop violation, an improvement method decision part 116 which selects an optimum one of plural relocation patterns prepared for improving the voltage drop violation and a voltage drop improvement part 117 which executes the relocation according to the selected relocation pattern.例文帳に追加
クリティカルパスに接続するセルに電圧降下違反があるか否かを判別する判別部118と、電圧降下違反を改善するための複数の再配置パターンの中から最適なものを選択する改善手法決定部116と、選択された再配置パターンに基づき再配置を行う電圧降下改善部117を備える。 - 特許庁
To achieve the compatibility of the reduction of critical current density J_C, the improvement in output voltage, and the prevention of malfunction in order to obtain a large capacity (exceeding G bit) MRAM by spin-transfer torque writing method MRAM (STS-MRAM), being related to a magnetic storage device and its method of operation.例文帳に追加
磁気記憶装置及びその動作方法に関し、スピン注入磁化反転方式MRAM(STS−MRAM)で大容量(Gbit超)MRAMを得る為、臨界電流密度J_C の低減、出力電圧の向上及び誤動作防止の両立を実現しようとする。 - 特許庁
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