diffraction peaksとは 意味・読み方・使い方

When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed as the diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that of the primary diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane is observed.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されない。 - 特許庁

The target for ion plating used for forming the zinc oxide-based electroconductive film comprises a sintered compact mainly containing zinc oxide and has diffraction peaks by (100), (002) and (101) planes in X-ray diffraction pattern, wherein any of the diffraction peaks has a half-value width of ≤0.110°.例文帳に追加

酸化亜鉛主体の焼結体からなり、Ｘ線回折パターンにおいて（１００）、（００２）、（１０１）面による回折ピークを有し、該回折ピークの何れかの半値幅が０．１１０度以下である酸化亜鉛系導電膜形成用のイオンプレーティング用ターゲットを開示する。 - 特許庁

When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁

Preferably, it is preferred to measure a plurality of amplitudes of different diffraction peaks for determining the corrections of the errors.例文帳に追加

好適には、複数の異なる回折ピークの振幅は、修正を決定するために測定することが好ましい。 - 特許庁

When diffraction peaks are not detected, the amplitude of the AC voltage applied to the piezoelectric element 34 is increased.例文帳に追加

回折ピークが検出されない場合はピエゾ素子３４に印加する交流電圧の振幅を大きくする。 - 特許庁

This is characterized by strong (104) growth texture and low strength of (012), (110) and (113) diffraction peaks.例文帳に追加

これは、強い（１０４）成長テクスチャー及び（０１２）、（１１０）及び（１１３）回折ピークの低い強度を特徴とする。 - 特許庁

To provide a sample position adjusting device, capable of detecting the diffraction peaks of radiation, such as X rays, neutron beams, etc. with high accuracy in short time, a radiation diffraction device and a radiation diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線及び中性子線等の放射線の回折ピークを高精度且つ短時間で検出可能とする試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法を提供する。 - 特許庁

This crystalline titanium oxide has diffraction peaks at Sleast 2θ=24.10°, 2θ=28.22°例文帳に追加

Ｘ線回折において、少なくとも２θ＝２４．１０°、２θ＝２８．２２°、２θ＝４８．１６°に回折ピークを有する結晶質酸化チタン。 - 特許庁