「diffraction peaks」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 5.0, 16.1,18.8,19.1,20.7,21.1 and 23.9 degree at a diffraction angle (2θ±0.1 in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、５．０、１６．１、１８．８、１９．１、２０．７、２１．１および２３．９度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

To provide a diffraction grating reducing the occurrence of abnormal peaks of diffraction light occurring by repeated exposure to allow sharp spectroscopy with few abnormal peaks, and to provide a highly precise spectral analysis device by using the diffraction grating.例文帳に追加

繰り返し露光で生じる回折光の異常ピークの発生を抑制し、急峻で異常ピークの少ない分光が可能な回折格子を実現し、この回折格子を用いることで高精度な分光分析装置を提供する。 - 特許庁

When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed as the diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that of the primary diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane is observed.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されない。 - 特許庁

The target for ion plating used for forming the zinc oxide-based electroconductive film comprises a sintered compact mainly containing zinc oxide and has diffraction peaks by (100), (002) and (101) planes in X-ray diffraction pattern, wherein any of the diffraction peaks has a half-value width of ≤0.110°.例文帳に追加

酸化亜鉛主体の焼結体からなり、Ｘ線回折パターンにおいて（１００）、（００２）、（１０１）面による回折ピークを有し、該回折ピークの何れかの半値幅が０．１１０度以下である酸化亜鉛系導電膜形成用のイオンプレーティング用ターゲットを開示する。 - 特許庁

When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁

Preferably, it is preferred to measure a plurality of amplitudes of different diffraction peaks for determining the corrections of the errors.例文帳に追加

好適には、複数の異なる回折ピークの振幅は、修正を決定するために測定することが好ましい。 - 特許庁

When diffraction peaks are not detected, the amplitude of the AC voltage applied to the piezoelectric element 34 is increased.例文帳に追加

回折ピークが検出されない場合はピエゾ素子３４に印加する交流電圧の振幅を大きくする。 - 特許庁

This is characterized by strong (104) growth texture and low strength of (012), (110) and (113) diffraction peaks.例文帳に追加

これは、強い（１０４）成長テクスチャー及び（０１２）、（１１０）及び（１１３）回折ピークの低い強度を特徴とする。 - 特許庁

To provide a sample position adjusting device, capable of detecting the diffraction peaks of radiation, such as X rays, neutron beams, etc. with high accuracy in short time, a radiation diffraction device and a radiation diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線及び中性子線等の放射線の回折ピークを高精度且つ短時間で検出可能とする試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法を提供する。 - 特許庁

This crystalline titanium oxide has diffraction peaks at Sleast 2θ=24.10°, 2θ=28.22°例文帳に追加

Ｘ線回折において、少なくとも２θ＝２４．１０°、２θ＝２８．２２°、２θ＝４８．１６°に回折ピークを有する結晶質酸化チタン。 - 特許庁

The crystal of (2R,4R)-monatin potassium salt shows an X-ray powder diffraction pattern having characteristic peaks at diffraction angles 2θ of 5.5°, 7.2°, 8.1°, 8.9° and 16.3°, by powder X-ray diffraction (Cu-Kα ray).例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線による粉末Ｘ線回折で得られるＸ線回折パターンにおいて、５．５°、７．２°、８．１°、８．９°および１６．３°に回折角２θの特徴的ピークを有する、（２Ｒ，４Ｒ）−モナティンのカリウム塩結晶。 - 特許庁

The hydrobromide salt of the donepezil or a crystal of a solvate thereof has diffraction peaks at 6.6° and 26.9° diffraction angles (2θ±0.2°), etc., in powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）６．６°及び２６．９°などに回折ピークを有する、１−ベンジル−４−［（５，６−ジメトキシ−１−インダノン）−２−イル］メチルピペリジンの臭化水素塩又はその溶媒和物の結晶。 - 特許庁

Each of the titania-based porous bodies consists essentially of titania and has X-ray diffraction peaks assigned to lattice-planes having 0.290±0.002 nm interplanar spacing and contains also crystals other than anatase phase crystals.例文帳に追加

チタニアを主成分とする多孔体であり、面間隔 0.290± 0.002nmの格子面に帰属されるＸ線回折ピークをもつ。 - 特許庁

A solid IM-11 with the LTA-type structure has an X-ray diffraction pattern having at least its peaks shown in Table 1.例文帳に追加

ＬＴＡ型構造を有する固体のＩＭ−１１は、少なくとも表１に示す線を持つＸ線回折図を有する。 - 特許庁

The hydroxygallium phthalocyanin crystal exhibits major diffraction peaks at the Bragg angles of (2θ+0.2°) of 7.9°, 8.3°, 14.6°, 17.3°, 22.8°, 24.0°, 26.0°, and 28.9° in the X-ray diffraction spectrum by the CuK α-rays.例文帳に追加

ＣｕＫα線によるＸ線回折スペクトルにおいてブラッグ角（２θ±０．２°）７．９°、８．３°、１４．６°、１７．３°、２２．８°、２４．０°、２６．０°、２８．９°に主たる回折ピークを示すヒドロキシガリウムフタロシアニン。 - 特許庁

The bis-maleic acid salt (a mixture of bis-maleic acid salt form I and bis-maleic acid salt form III) and free base forms of the compound have peaks at specific diffraction angles in a powder X-ray diffraction pattern.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図において、特定の回折角にピークを有するビスマレイン酸塩（ビスマレイン酸塩Ｉ型、ビスマレイン酸塩ＩＩＩ型）及び遊離塩基型化合物。 - 特許庁

More preferably, the compound has an X-ray powder diffraction pattern comprising peaks, in terms of 2θ, at about 13.7° and about 14.9°.例文帳に追加

この化合物は、より好ましくは、２θに関して、約１３．７°および約１４．９°にピークを含むＸ線粉末回折パターンを有する。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法において、２θ＝２８．９°、３２．８°、４１．４°、４２．６°及び４４．３°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

The spread shapes in the peaks A, B measured by the X-ray diffraction are standardized again, thus newly creating a profile for comparison.例文帳に追加

Ｘ線回折で測定されたピークＡ、Ｂの拡がりの形状を規格化しなおすことにより、比較用プロファイルを新たに作製する。 - 特許庁

A grid pattern 107a of the hologram lens 107 is constituted with a plurality of inclined surfaces to have at least two peaks within one period of a diffraction grid and, thereby, the effect due to unnecessary -1-order diffraction light and +2-order diffraction light is reduced.例文帳に追加

ホログラムレンズ１０７の格子パターン１０７ａを、回折格子の１周期内で少なくとも２つの山を有するように複数の斜面で構成し、不要な−１次回折光及び＋２次回折光の回折効率を低減させる。 - 特許庁

This invention relates to: the azo pigment that is represented by formula (1) and has characteristic X-ray diffraction peaks at 7.5°, 25.8° and 26.9° of Bragg angle (2θ±0.2°) in CuKα characteristic X-ray diffraction; or an tautomer thereof.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．５°、２５．８°及び２６．９°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁

The μ-oxo-aluminum phthalocyanin dimer has crystal transformation exhibiting diffraction peaks at Bragg angles (2θ±0.2°) of 6.9°, 9,7°, 13.8°, 15.4°, 23.9° and 29.5°in a X-ray diffraction spectrum using CuKα rays.例文帳に追加

CuKα線によるＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度（２θ±０．２°）６.９°、９.７°、１３.８°、１５.４°、２３.９°及び２９.５°に回折ピークを示す結晶変態を有する、μ−オキソ−アルミニウムフタロシアニンダイマー。 - 特許庁

The azo pigment, or a tautomer thereof, is represented by formula (1) and has distinctive X-ray diffraction peaks at Bragg angles (2θ±0.2°) of 7.2°, 13.4°, 15.0° and 25.9° in CuKα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．２°、１３．４°、１５．０°及び２５．９°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁

A polybasic salt of a complex metal having a specified chemical composition and X-ray diffraction peaks is used as a stabilizer for a chlorine- containing polymer.例文帳に追加

特定の化学組成及びＸ線回折ピークを有する複合金属多塩基性塩を塩素含有重合体用安定剤として用いる。 - 特許庁

Crystal A: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 8.7 to 9.4° range, 12.2 to 12.8° range and 24.8 to 25.4° range diffraction angle 2θ in a powder X-ray diffraction measurement at a Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ａ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが８．７°〜９．４°の範囲内、１２．２°〜１２．８°の範囲内および２４．８°〜２５．４°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

Crystal B: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 20.8 to 21.4° range, 26.7 to 27.3° range and 29.7 to 30.3° range diffraction angle 2θ in the powder X-ray diffraction measurement at the Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ｂ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが２０．８°〜２１．４°の範囲内、２６．７°〜２７．３°の範囲内および２９．７°〜３０．３°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

This perylene hybrid pigment is characterized in that an X-ray diffraction pattern of the pigment obtained by including one or more metal atoms has the diffraction peaks at 6.2, 10.1 and 12.2 expressed in terms of 2θ (2θ±0.2) angles in the Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

１つ以上の金属原子を含有させて得られる顔料のＸ線回折パターンがＣｕ−Ｋα特性Ｘ線回折の２θ（２θ±０．２）角度で少なくとも６．２、１０．１、１２．２、に回折ピークを有することを特徴とするペリレン混成顔料。 - 特許庁

In the powder X-ray diffraction by using a Cu-Ka beam as a beam source, the crystal modification shows strong peaks at 11.22, 8.93, 6.23, 3.42 and 3.27 Å.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋａ線を線源とした粉末Ｘ線回折において、１１．２２、８．９３、６．２３、３．４２、３．２７オングストロングに強いピークを示す結晶変態である。 - 特許庁

Furthermore, when diffraction peaks are detected, the amplitude of the AC voltage, applied to the piezoelectric element 34, is decreased and the center voltage is changed.例文帳に追加

また、回折ピークが検出された場合は、ピエゾ素子３４に印加する交流電圧の振幅を小さくするとともに、中心電圧を変更する。 - 特許庁

The inclusion of the TiC-based compound is confirmed by that a finding the diffraction line peaks at 2θ=36.2°, 42.3°, and 61.6° by X-ray diffraction method of the obtained Ti-C-based material correspond to (111), (200), and (220) in TiC.例文帳に追加

ＴｉＣ系化合物の含有は、得られたＴｉ−Ｃ系材料のＸ線回折法による、２θ＝36.2°、42.3°、および61.6°の回折線ピークがＴｉＣにおける(111)、(200)、および(220)に対応することにより確認された。 - 特許庁

The seed material 12 is one in which a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that corresponding to the (111) crystal plane are not observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

シード材１２は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されないものである。 - 特許庁

An aqueous pigment dispersion contains a colorant, a dispersant and water, and is characterized in that the colorant is composed of an azo pigment represented by formula (1) or an azo pigment represented by formula (2) which has characteristic X-ray diffraction peaks at specific positions in CuKα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折における特定位置に特徴的Ｘ線回折ピークを有する、式（１）のアゾ顔料、又は式（２）のアゾ顔料を着色剤とした、分散剤、水を含む水系顔料分散物。 - 特許庁

The above problem can be solved by using a coloring agent composed of a pseudo-unidimensional crystalline organic color pigment exhibiting X-ray diffraction spectrum having the refraction line showing the maximum intensity and its n-th order ((n) is an integer of ≥2) diffraction lines as main peaks.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線とそのｎ次（ｎ：２以上の整数）の回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性カラー有機顔料からなる着色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

In a sputtering target of high-purity TaN, the intensity peak ratio (101) plane:(110) plane is 1: 0.49±30%, where the intensity peaks are measured on the surface of the target through an X-ray diffraction method.例文帳に追加

高純度ＴａＮからなるスパッタターゲットであって、ターゲット表面においてＸ線回折法で測定された (101)面のピーク強度と (110)面のピーク強度の比（(101)/(110))が0.49±30% 以内である。 - 特許庁

The conductive compound has a main peak similar to a main peak of AgNiO_2 (X=Y=1) in X-ray diffraction, and is formed of a crystal where peaks of Ag_2O and AgO do not appear.例文帳に追加

この導電性化合物は、Ｘ線回折においてＡｇＮｉＯ_2（Ｘ＝Ｙ＝１）の主ピークと同じ主ピークを有し、Ａｇ_2ＯおよびＡｇＯのピークが現れない結晶からなる。 - 特許庁

<Positions (lattice plane distance d/Å) by the lattice plane distance display of the peaks in the X-ray diffraction pattern>: 12.4±0.8, 10.8±0.5, 9.0±0.3, 6.0±0.3, 3.9±0.3, 3.4±0.1.例文帳に追加

＜Ｘ線回折パターンにおけるピークの格子面間隔表示による位置（格子面間隔ｄ／Å）＞１２．４±０．８、１０．８±０．５、９．０±０．３、６．０±０．３、３．９±０．３、３．４±０．１ - 特許庁

A water-insoluble monoazo dyestuff has a crystal transformation characterized by an X-ray diffraction pattern (CuKα) showing a strong peak at a diffraction angle (2θ) of about 11.1° and four intermediate peaks at about 8.1°, about 21.8°, about 23.1° and about 25.2°, and is represented by the formula.例文帳に追加

回析角（２θ）約１１．１°に１本の強いピーク、更に約８．１°、約２１．８°、約２３．１°、約２５．２°に４本の中間ピークを示すＸ線回析図（ＣｕＫα）により特徴づけられる結晶変態を有する下記構造式で示される水不溶性モノアゾ染料。 - 特許庁

The feed material 11 is one in which a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than that corresponding to the (111) plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

フィード材１１は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。 - 特許庁

This thin film of the wax composition consists of a composition containing the wax and has >1.0 value of a ratio (Ib/Ia) of diffraction intensity Ia in the normal direction of surface of the thin film of the wax composition in X-ray diffraction peaks developed by accompanying with the orientation of the crystallized wax to diffraction intensity Ib in a direction making right angle to the normal direction.例文帳に追加

本発明のワックス組成物薄膜は、ワックスを含有する組成物からなり、結晶化した前記ワックスの配向に伴い発現するＸ線回折ピークの前記ワックス組成物薄膜表面の法線方向の回折強度Ia及び該法線方向と９０度をなす方向における回折強度Ibの比Ib/Iaが１．０より大きい値である。 - 特許庁

This glass substrate for a display, comprising a glass substrate on whose surface a metal ion diffusion-preventing film 2 is formed, characterized in that the metal ion diffusion-preventing film 2 is a crystalline SnO2 film having a half-value width of ≤1 at one or more diffraction peaks at diffraction angles of about 26.5°, about 37.9° and about 51.6° by X-ray diffraction.例文帳に追加

表面に金属イオン拡散防止膜２が形成されたガラス基板よりなるディスプレイ用ガラス基板において、該金属イオン拡散防止膜２がＸ線回折による回折角約２６．５°、約３７．９°及び約５１．６°のいずれか１以上の回折ピークにおける半値幅が１°以下の結晶性ＳｎＯ_２膜であるディスプレイ用ガラス基板。 - 特許庁

The evaluation can be executed based on the change of the position of the center of gravity by utilizing a coefficient on an envelope joining smoothly peaks of a spot row appearing the diffraction pattern or the like, or by selecting the spot row.例文帳に追加

評価は、回析パターンに現れるスポット列のピークを滑らかに結ぶ包絡線についての係数等を利用たり、スポット列を選択して、重心位置の変化に基づいて行うことができる。 - 特許庁

This layer has a clear (012) growing aggregated structure measured using XRD, and almost total existence is characterized by diffraction peaks of (104), (110), (113), and (116).例文帳に追加

この層は、ＸＲＤを使用して測定された明瞭な（０１２）成長集合組織、及びほとんどの合計存在が（１０４）、（１１０）、（１１３）及び（１１６）の回折ピークによって特徴付けされる。 - 特許庁

The electrophotographic photoreceptor is prepared by using crystalline dichloro-tin phthalocyanine of which the X-ray diffraction spectrum with Cu-Kα ray has peaks at Bragg angles 2θ (±0.3°) of 8.6°, 11.4°, 15.7°, and 25.7°.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３°）＝８．６°、１１．４°、１５．７°及び２５．７°にピークを示す結晶型ジクロロスズフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁

This electrophotographic photosensitive member uses a Piransron compound, having a crystal structure showing peaks at the Bragg angles of 12.3°, 20.5°, 25.3°, and 28.3° in an X-ray diffraction spectrum that has CuKα as radiation source.例文帳に追加

ＣｕＫαを線源とするＸ線回折スペクトルにおけるブラッグ角１２．３°、２０．５°、２５．３°、及び、２８．３°にピークを示す結晶構造を有するピランスロン化合物を用いる電子写真感光体。 - 特許庁

The crystalline oxytitanium phthalocyanine shows peaks at 7.6, 14.5 and 26.7° Bragg angle 2θ(±0.3°) in the X ray diffraction spectrum for Cu-Kα line, and the compound is used for the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３゜）７．６、１４．５及び２６．７゜にピークを示す結晶型オキシチタニウムフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁