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divergence measurementとは 意味・読み方・使い方
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「divergence measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
MEASUREMENT METHOD OF BEAM WIDTH AND DIVERGENCE ANGLE OF ION BEAM, AND ION IMPLANTATION DEVICE例文帳に追加
イオンビームのビーム幅、発散角の測定方法およびイオン注入装置 - 特許庁
A small portion of the radiation beam 3 is extracted, and its divergence is measured in a beam measurement unit 8.例文帳に追加
また、このビーム３の極一部を取出してビーム測定ユニット８の中でビーム発散性を測定する。 - 特許庁
The implanter includes an ion beam collecting device, a device to make parallelism and a measurement device to measure the parallel degree and the divergence angle to control the collecting device and the device to make parallelism so as to fit the parallel degree and the divergence angle of the ion beam into prescribed values.例文帳に追加
イオン注入装置において、該イオン注入装置は、イオンビームの収束装置と、平行化装置と、平行度及び発散角度を測定する測定装置とを備え、イオンビームの平行度及び発散角度が設定値内に収まるように収束装置及び平行化装置を制御する。 - 特許庁
To provide an electron beam type measurement and inspection apparatus and a measurement and inspection method featuring a reduced divergence in electron beam scanning caused by a mirror body current noise.例文帳に追加
鏡体電流ノイズで発生する電子ビーム走査ずれを低減した電子ビーム式計測および検査装置と計測および検査方法を提供する。 - 特許庁
If a divergence width of a measurement waveform of an inspecting printed board and a standard waveform of a reference printed board is not enough to determine whether or not the board is good, measurement again takes place after changing the output impedance of the pulse generator 41.例文帳に追加
検査用プリント基板の測定波形と参照用プリント基板の基準波形との乖離幅が十分でなく良否判定が困難な場合には、パルス発生器４１の出力インピーダンスを変更して再測定を行なう。 - 特許庁
By setting the output impedance to increase the divergence width between the measurement waveform and the standard waveform depending on a state of the region to be inspected such as short-circuiting/open-circuit, the determination can be done accurately and easily.例文帳に追加
短絡／開放など検査部位の状態に応じて測定波形と基準波形との乖離幅が大きくなるように出力インピーダンスを設定することにより、精度良く容易に良否判定を行なうことができる。 - 特許庁
The measurement condition is, X-ray source: CuKα line (CuKα=1.5418 Å), divergence slit: 1°, scattering slit: 1°, light receiving slit: 0.2 mm and step width: 0.05°.例文帳に追加
[測定条件] Ｘ線源：ＣｕＫα線（ＣｕＫα＝１．５４１８Å） 発散スリット：1° 散乱スリット：1° 受光スリット：０．２ｍｍ ステップ幅：０．０５° - 特許庁
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「divergence measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
The measurement device to measure the parallel degree and the divergence angle is provided with a beam split slit and a movable Faraday cup to measure a current amount of the ion beam passed through the slit.例文帳に追加
また、平行度及び発散角度を測定する測定装置は、ビーム分割スリットと、このビーム分割スリットを透過したビームの電流量を計測する可動式ファラデーカップを具備している構成とした。 - 特許庁
To provide a method for easy, safe, accurate measurement and control of the quality characteristics, such as size and divergence, of a beam projected by a lithographic projection apparatus by slightly modifying the existing apparatus.例文帳に追加
リソグラフィ投影装置の投影ビームのサイズや発散性のようなビーム品質特性を、既存の装置のわずかな変更で、容易且つ安全・正確に測定および制御できる方法を提供すること。 - 特許庁
The ion beam emittance measuring mechanism 15 comprises an ion beam emittance measuring instrument 151 which is inserted into the passage of ion beam, that is, on a beam line at the time of measurement, and is controlled so as to be outside of the beam line at the time other than measurement, and can inspect at least divergence degree of ion beam.例文帳に追加
イオンビームエミッタンス測定機構１５は、測定時にイオンビームの経路すなわちビームライン上に挿入され、測定時以外はビームラインから外れるように制御され、イオンビームの少なくとも発散度合いが検査可能なイオンビームエミッタンス測定器１５１を有する。 - 特許庁
To provide an ion beam distribution detection apparatus for electrically measuring the amount of irradiation of an ion beam irradiated to any location to be processed with the ion beam and detecting the divergence of the ion beam on the basis of measurement results and to provide an ion beam orientation processing apparatus.例文帳に追加
任意のイオンビーム処理位置に照射されるイオンビームの照射量を電気的に測定し、この測定結果をもとに、このイオンビームのダイバージェンスを検出するイオンビーム分布検出装置およびこれを用いたイオンビーム配向処理装置を提供すること。 - 特許庁
The arithmetic means performs comparison between an average value and divergence of one piece of information and with the other one piece of information with the adjacent detection object area, etc. as relativity determination, and calculates the measurement result for information other than information determined to be the one with the abnormalities.例文帳に追加
演算手段は、その相対性判断として平均値に対する一の情報の乖離度合いや、一の情報と検出対象領域が隣接する他の一の情報との比較などを行い、異常有と判断した情報以外の情報について測定結果を算出する。 - 特許庁
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