electron diffraction analysisとは 意味・読み方・使い方

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

An analysis of the effects of temperature on extinction distances in electron diffraction is given by Howie and Valdre (1967).発音を聞く 例文帳に追加

電子回折における消衰距離に対する温度の影響の解析は、HowieとValdre (1967)によって与えられている。 - 科学技術論文動詞集

ANGLE RESOLVING ELECTRON SPECTROSCOPE OF DIFFRACTION PLANAR APERTURE TRANSMISSIVE ENERGY CONTROL TYPE, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME例文帳に追加

回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光器及びこの分光器を用いた分析方法 - 特許庁

The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).例文帳に追加

その露出させた面に対し、ＴＥＭにより電子線を照射して、その強誘電体膜のＴＥＭ像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.例文帳に追加

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

A considerable amount of work has been conducted on the analysis of crystal structures using point or ring electron diffraction patterns, based mainly on the kinematical theory (with some dynamical corrections).発音を聞く 例文帳に追加

かなりの(量の)研究が、(ある動力学的補正を伴った)主に運動学的理論に基づき、「点状の」または「環状の」電子回折図形を使って、結晶構造の解析について行われた。 - 科学技術論文動詞集