electron diffraction dataとは 意味・読み方・使い方

One magnetic domain structural image data M_xy against one electron diffraction figure D_xy is calculated by performing the following (a)-(c) processing on each obtained electron diffraction figure D_xy.例文帳に追加

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に以下の（ａ）〜（ｃ）の処理を行って、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁区構造画像データＭ_ｘｙを求める。 - 特許庁

Thus, the magnetic domain structural image is obtained on the basis of the magnetic domain structural image data M_xy calculated at each electron diffraction figure D_xy.例文帳に追加

そして、電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に求めた磁区構造画像データＭ_ｘｙに基づいて磁区構造画像を得る。 - 特許庁

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.例文帳に追加

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁

The interference fringe and the diffraction grating pattern are plotted by an electron beam lithographing device based on an image data generated by calculation by a computer.例文帳に追加

干渉縞や回折格子パターンは、コンピュータによる演算に基いて生成された画像データに基き、電子線描画装置によって描画される。 - 特許庁

A measuring surface S1 is scanned by an electron beam B2 and the detection of an electron beam back scattering diffraction pattern by a detection part 6 and the analysis of data D1 by a data processing part 9 are performed in relation to the respective pixels in the measuring surface S1 to obtain the two-dimensional distribution data K1 of a crystal orientation related to the measuring surface S1.例文帳に追加

電子ビームＢ２によって測定面Ｓ１を走査し、測定面Ｓ１内の各ピクセルに関して、検出部６による電子線後方散乱回折パターンの検出、及び、データ処理部９によるデータＤ１の解析を行うことにより、測定面Ｓ１に関する結晶方位の二次元分布データＫ１が得られる。 - 特許庁

When determined that it is a periodic structure, the electron beam diffraction image and a limited visual field image are preserved as one data group together with an observation condition including the position of the sample stage, an X-ray spectrum or the like.例文帳に追加

周期構造であると判定したら、電子線回折像、及び、制限視野像を、試料ステージの位置を含む観察条件、Ｘ線スペクトル等と共に１つのデータ群として保存する。 - 特許庁

The substance identification part 4 retrieves the database for the retrieval to identify the substance, based on the lattice spacing transmitted from the electron beam diffraction image analytical part 3 and an element data transmitted from the EDX analytical part 2.例文帳に追加

物質同定部４は、電子線回折像解析部３から送信された格子面間隔データ、ＥＤＸ分析部２から送信された元素データをもとに検索用データベースを検索して物質を同定する。 - 特許庁