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意味・対訳 電子パラメータ

JST科学技術用語日英対訳辞書での「electron parameter」の意味

electron parameter


「electron parameter」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 12



例文

To provide a plasma measuring device capable of measuring a plasma density, an electron temperature, and a plasma parameter of plasma potential with high accuracy even when the contamination caused by plasma is deposited thereon.例文帳に追加

プラズマにより生じる汚れが付着しても精度良くプラズマ密度、電子温度及びプラズマポテンシャルのプラズマパラメータを測定できるようにする。 - 特許庁

The carbon catalyst is prepared, which has a defect in a carbon structure thereof and is characterized in that a parameter W of an X-band electron spin resonance spectrum appearing at 3,200-3,500 gauss is11 gauss.例文帳に追加

炭素構造の中に欠陥を有し、3200〜3500ガウスに現れるX−バンド電子スピン共鳴スペクトルのパラメータWが11ガウス以下であるカーボン触媒を調製した。 - 特許庁

To provide a waste gas decomposition method using plasma and capable of controlling plasma electron energy without exerting substantial influence on the parameter except the plasma electronic energy.例文帳に追加

プラズマ電子エネルギー以外のパラメータに実質的な影響を与えることなく、プラズマ電子のエネルギーを制御することが可能なプラズマを用いた排ガスの分解処理を提供する。 - 特許庁

To provide a drawing method with high accuracy for determining a correction parameter η of exposure doses by an easy method without increasing the number of conditions upon drawing in an electron beam drawing device.例文帳に追加

電子線描画装置の描画において、条件数を増加させることなく、簡便な方法により、露光量の補正パラメータηを設定する、高精度の描画方法を提供することにある。 - 特許庁

This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。 - 特許庁

By controlling magnetic filter strength which is conventionally uniform, and making it optimal strength according to a partial parameter of plasma, low electron-temperature plasma is obtained over a wide area, and uniform negative ions are generated in the wide area.例文帳に追加

従来一様であった磁気フィルター強度を制御し、プラズマの局所パラメータに応じて最適強度とすることによって大面積に渡って低電子温度プラズマを実現し、一様な負イオンを大面積に生成する。 - 特許庁

例文

A host computer 9 displays an electron beam diffraction-image as a digital image of 256 gradations and uses a lattice constant as a parameter by simultation to perform fitting by using a predetermined program, thereby calculates the lattice constant of the semiconductor device 1.例文帳に追加

ホストコンピュータ9は、電子線回折像を256階調のディジタル画像として表示し、シミュレーションにより格子定数をパラメータとして所定のプログラムを用いてフィッティングを行い、半導体装置1の格子定数を算出する。 - 特許庁

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「electron parameter」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 12



例文

To provide an electron microscope allowing anyone to easily set a beam shower mode with optimum conditions and return each parameter to an original analysis mode or observation mode correctly in a short time after a beam shower operation finishes.例文帳に追加

ビームシャワーモードの設定を誰もが最適な条件で簡単に行なうことができ、また、ビームシャワー動作が終了した後には、電子顕微鏡の各パラメータを元の分析や観察のモードに短時間に正確に戻すことができる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

In addition to a basic electron microscope, this device comprises means for inputting a required space resolution in a holography observation, a calculating device for calculating an electron beam bi-prism and a specimen position for realizing a required space resolution from an input value and a parameter unique to the device, and a mechanism for moving these two positions for realizing the found calculation results.例文帳に追加

基本的な電子顕微鏡本体に加え、ホログラフィ観察において要求する空間分解能を入力する手段と、入力された値及び装置固有のパラメータから要求された空間分解能を実現する電子線バイプリズム及び試料位置を算出するための計算装置及び、得られた計算結果を実現するためのこれら二つの位置を移動させる機構を設ける。 - 特許庁

The method for evaluating the fatigue of a solder junction containing Sn as a main component includes the steps of enlarging a cut section of the junction by an electron microscope, measuring a phase size (d) of an Sn phase 20 and an Ag_3Sn phase 22, and biquadrating the measured value (d) to a phase growth evaluating parameter S.例文帳に追加

Snを主成分とするはんだの接合部の疲労評価方法において、はんだ接合部の切断面を電子顕微鏡により拡大して、Sn相20やAg_3Sn相22の相寸法dを測定し、この測定値dを4乗して相成長評価パラメータSとする。 - 特許庁

To provide a simulation device and a plasma discharge processing device supporting system correctly calculating electron energy distribution or the like in a plasma of the plasma discharge processing device applying a treatment in the region of atmospheric pressure by a time-dependent Boltzmann equation or the like, and deciding a control parameter.例文帳に追加

大気圧近傍で処理を行うプラズマ放電処理装置におけるプラズマ中の電子エネルギー分布等を時間依存のボルツマン方程式等により正確に算出して制御パラメータを決定するシミュレーション装置およびプラズマ放電処理装置支援システムを提供する。 - 特許庁

例文

The measurement on the plurality of items is performed, in which the AMP (auto measurement parameter) registration is performed for the setting of the parameters regarding the preparation of a line profile from a SEM (scanning electron microscope) image, as the common condition to all measurement items, and in which the plurality of AMP registrations for the edge detection method and the distance measurement value calculation method are performed.例文帳に追加

本発明においては、SEM画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を全測定項目において共通の条件としてAMP登録を行い、また、エッジ検出方法と測長値算出方法を複数のAMP登録を行うことによって、複数項目の測定を行うようにした。 - 特許庁

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