extended defectとは 意味・読み方・使い方

At the time of inspection a pixel brighter than a corresponding pixel on the extended image and a pixel darker than a corresponding pixel on the reduced image about the image to be inspected are extracted and the existence of a defect is discriminated from a defect extraction image obtained by integrating the extracted results.例文帳に追加

検査時には、検査対象画像について、膨張画像上の対応画素よりも明るい画素と収縮画像上の対応画素よりも暗い画素とを抽出し、その抽出結果を統合した欠陥抽出画像から欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

To prevent occurrence of an image defect such as gloss streaks and to reduce sliding resistance even in a configuration where an image heating nip is extended in a twin belt type image heating apparatus.例文帳に追加

ツインベルト方式の画像加熱装置において、画像加熱ニップを長くする構成とした場合であっても、光沢スジなどの画像不良の発生を防止する、摺動抵抗を小さくする。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect extended in a vertical direction produced due to a potential dip of a horizontal transfer register and correcting a pixel signal of the detected linear defect when an operating temperature of a solid-state image sensor is low, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

固体撮像素子の動作温度が低い場合、水平転送レジスタのポテンシャルディップに起因して発生する垂直方向に延びる線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide means for reliable evaluation using a standard sample that can be used stably for an extended period, relating to a method of optically evaluating a defect of a semiconductor wafer by a copper deposition method.例文帳に追加

半導体ウェーハの欠陥を銅デポジション法により光学的に評価する評価方法において、長期間安定して使用可能な標準試料を用いて信頼性の高い評価を行う手段を提供すること。 - 特許庁

The imaging device 10 includes: a camera 12 for picking up the image of the surficial defect in the object S to be inspected; and at least one leg part 14 arranged in the camera 12 and extended toward the image pickup direction of the camera 12.例文帳に追加

撮像装置１０は、被検査物Ｓにおける表面欠陥の撮像を行うカメラ１２と、カメラ１２に設けられると共にカメラ１２の撮像方向に向けて延びる、少なくとも一つの脚部１４とを備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a wafer carrier whose structure is improved so that not only the carrier has an excellent abrasion resistance and a remarkably extended use life but also it avoids occurrence of a defect at edges of a wafer when the wafer is subjected to both-side polishing operation.例文帳に追加

耐摩耗性に優れて使用寿命が画期的に延びるだけでなく、ウェーハの両面研磨時にウェーハのエッジに欠陥が発生しないようにその構造が改善されたウェーハキャリアの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrochromic light control element excellent in heat resistance and in durability which is further maintained over an extended time period, generating no visual defect such as white turbidity inside the element and no variation of performance of the element such as response speed and having high reliability.例文帳に追加

耐熱耐久性に優れ、しかもその耐久性が長期に渡って維持され、素子内部に白濁等の外観上の欠陥が発生したり、応答速度等の素子性能が変化せず、信頼性が高いエレクトロクロミック調光素子の提供。 - 特許庁

An inspection device 1 gets a reference image obtained by picking up an image of a model having no defect prior to inspection, executes extension processing and reduction processing and stores obtained extended and reduced images in an image memory 3 built in the device 1.例文帳に追加

検査装置１は、検査に先立ち、欠陥のないモデルを撮像して得られた基準画像を取り込み、膨張処理および収縮処理を行い、得られた膨張画像および収縮画像を装置内の画像メモリ３内に保存する。 - 特許庁