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failure point measurementとは 意味・読み方・使い方
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「failure point measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 7件
To facilitate the analysis of a faulty circuit by specifying a part at which a failure has occurred, one point of failure examination at measurement on a device though the use of a tester.例文帳に追加
デバイスのテスタ測定時に不良調査ポイントの一つである不良発生箇所の特定を行うことで、故障回路の解析を容易にすることを課題とする。 - 特許庁
To provide a technology for failure transmission route inferring system, that can add a measurement result to a failure inferring result that is inferred before measurement and execute inferring processing, and recalculate only a part relating to a measuring point, at a high speed in a large-scaled circuit.例文帳に追加
測定結果を測定前に推定した故障箇所推定結果に付加して、推定処理を行い、また、大規模回路において、測定点に関係する部分のみを高速に再計算することのできる故障伝搬経路推定システムに関する技術を提供する点にある。 - 特許庁
To provide a cell voltage measurement device of a fuel cell capable of automatically detecting occurrence of contact failure, disconnection and instantaneous interruption of a separator terminal and of setting the potential of a separator terminal where contact failure, disconnection or instantaneous interruption does not occur as a measurement reference voltage point.例文帳に追加
セパレータ端子の接触不良や断線及び瞬断が発生したことを自動的に検出することができ接触不良や断線及び瞬断が発生していないセパレータ端子の電位を測定基準電圧点とすることが可能な燃料電池セル電圧計測装置を実現する。 - 特許庁
By the prediction of the positions of the mobile identifier transmitters at the next point of position measurement, the brittleness of the access device with respect to its response time and failure is improved.例文帳に追加
次のポジション測定点における移動型識別子発信器のポジションの予測により、アクセス装置の応答時間と障害に対する脆弱性が改善される。 - 特許庁
In accordance with a pattern of a measurement of the charging voltage of the read capacitor Ca at every time point, a failure spot in an insulation state detection unit 10 is then identified.例文帳に追加
そして、各時点における読込用コンデンサCaの充電電圧の測定値のパターンによって、絶縁状態検出ユニット10の故障箇所を特定するようにした。 - 特許庁
To provide a method for generating tray data of a surface mounter for no tray part suction point measurement error, data generation error, and part suction failure, while part suction error as well as mounter suspension caused by it and the like are reduced in a surface-mounting process.例文帳に追加
トレイ部品吸着点測定ミス、データ作成ミス及び部品吸着不良がなく、表面実装工程において、部品吸着ミス、それによる実装機の停止時間の発生等を低減できる表面実装機トレイデータ作成方法を提供することにある。 - 特許庁
In a test method for a semiconductor device in which measurement is performed for a plurality of cells varying measurement conditions and a plurality of measuring points deciding success or failure of the semiconductor device from obtained data of each cell are set, difference data of data of each cell between continuous measuring points of the plurality of measuring point are obtained, and the difference data are stored.例文帳に追加
複数のセルに対して測定条件を変えて測定を行ない、得られた各セルのデータから半導体装置の合否を判定する測定ポイントが複数設定されている半導体装置の試験方法において、前記複数の測定ポイントの連続した測定ポイント間の各セルのデータの差分データを求め、その差分データを保存する。 - 特許庁
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