functional block levelとは 意味・読み方・使い方

Thus, the voltage level of a third functional block input signal IN3 is promptly decreased to be as low as around the second power supply V2.例文帳に追加

よって、第３機能ブロック入力信号ＩＮ３の電圧レベルは第２電源Ｖ２付近まで速やかに引き下げられる。 - 特許庁

A functional block 10 comprises internal standard cells 11-16 and level converter cells 17-19, which are arranged at the peripheral part inside the function block 10.例文帳に追加

機能ブロック１０は、内部スタンダードセル１１〜１６及びレベルコンバータセル１７〜１９を含み、レベルコンバータセル１７〜１９は、機能ブロック１０の内周辺部に配置される。 - 特許庁

An output voltage 16 from an integration circuit 15 becomes higher when a high level duty of an end clock signal 3 acquired in a functional block at an end of a clock tree 2 is increased, and becomes lower when the high level duty is decreased.例文帳に追加

積分回路１５の出力電圧１６は、クロックツリー２の末端における機能ブロックで得られた末端クロック信号３のハイレベルデューティーが大きくなると高くなり、小さくなると低くなる。 - 特許庁

To follow up a failure propagation route in a case when a memory block having only the functional description and not having the information on a gate description level exists in a failure signal propagation route.例文帳に追加

機能記述のみでゲート記述レベルの情報を持たないメモリブロックが故障信号の伝播経路上に存在する場合に、故障伝播経路の追跡を実用的な労力および時間で実行する。 - 特許庁

To reduce variations in the occupancy of each wiring layer influencing the manufacturing quality, while maintaining the quality of a power supply at an operating level in laying out a functional circuit block by using a standard cell.例文帳に追加

スタンダードセルを利用して機能回路ブロックをレイアウトする際、供給電源の品質を動作レベルに保ちながら、製造品質を左右する各配線層の占有率のばらつきを少なくする。 - 特許庁

When the functional block is about to require an increased level of power, the associated clock is provided to drive switches of the at least one regulator overriding their normal drive signal, which has a lower frequency.例文帳に追加

機能ブロックが電力レベルの増大を要求しようとするとき、低い周波数である通常の駆動信号をオーバーライドして、関連するクロックが少なくとも１つのレギュレータのスイッチを駆動するために提供される。 - 特許庁

By using the latch 1 in a cell or the like, wherein logical circuits are constituted every functional block, the edge trigger operation and the level sense operation are switched flexibly, and hereby a test time for the scan path test is shortened, and simultaneously the fault detection rate can be improved.例文帳に追加

機能ブロック毎に論理回路が構成されているセルなどにラッチ１を用いることにより、エッジトリガ動作とレベルセンス動作とをフレキシブルに切り換えることによって、スキャンパステストのテスト時間を短縮しながら故障検出率を向上させることができる。 - 特許庁