inspection batchとは 意味・読み方・使い方

To obtain a function for avoiding the collision of a batch discharged by a discharge conveyor with the preceding batch, a function for taking out the batch produced first for the purpose of inspection and a function for taking out the stagnated batch after the completion of production, using a common means.例文帳に追加

排出コンベアによって排出されるバッチが先行バッチに衝突することを回避する機能と、検品のために最初に生産されたバッチを取出す機能と、生産終了時に滞留バッチを取出す機能とを共通の手段を用いて得る。 - 特許庁

A substrate 20 for inspection of a wafer end batch inspection device equipped with a wafer tray 11 for holding a semiconductor wafer 12 and the substrate 20 for inspection is formed with a plurality of terminals 18 for inspection.例文帳に追加

半導体ウェハ１２を保持するウェハトレイ１１と、検査用基板２０とを備えたウェハ一括検査装置の、検査用基板２０には複数の検査用端子１８が形成されている。 - 特許庁

To provide a control system of an inspection unit group that performs positioning or the like of each inspection unit and allows batch control of positions of a plurality of inspection means.例文帳に追加

検査ユニット毎の位置調整等の便宜を図る一方で、複数の検査手段の位置の一括制御をも可能とした検査ユニット群の制御システムを提供する。 - 特許庁

The defects or position deviations of conductive balls 3 on a wafer 2 mounted in a batch mounting equipment part 10 are examined with an inspection equipment part 20.例文帳に追加

検査装置部２０により、一括搭載装置部１０において搭載したウエハ２上の導電性ボール３の欠落あるいは位置ずれを検査する。 - 特許庁

The communication terminal 10 designates a batch mode and transmits an inspection instruction file to the apparatus 50 (S107, S108).例文帳に追加

通信端末１０は、バッチモードを指定して、装置５０に検査指示ファイルを送信する（Ｓ１０７，１０８）。 - 特許庁

To provide a method for the inspection of a semiconductor device capable of reliably carrying out the batch inspection of electrical characteristics of a plurality of semiconductor devices formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハに形成された複数の半導体素子の電気的特性の一括検査を確実に実施できる半導体素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the development man-hours, and to provide stable LSIs by avoiding, in advance, the faults in the inspection of functional block units by malfunctions caused by power source drop and performing inspection of the functional block units in batch.例文帳に追加

電源ドロップに起因する誤動作で機能ブロック単体検査不具合を事前に回避し、機能ブロック単体検査を一括実施することで開発工数の削減し、安定したＬＳＩの提供を実現する。 - 特許庁

A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.例文帳に追加

エピタキシャル成長工程である工程２を終えたバッチＡから、先行ロットＰを選択し、この先行ロットＰを、バッチＡの他のロットに先行して工程３から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁