「inspection batch」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an error inspection and recover system of batch processing, which is flexible to error processing.例文帳に追加

エラー処理に柔軟性をもつバッチ処理のエラー検査復旧システムを提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR WAFER FOR BATCH BURNING-IN例文帳に追加

半導体装置の検査方法、検査装置および一括的バーンイン用の半導体ウェーハ - 特許庁

A substrate 20 for inspection of a wafer end batch inspection device equipped with a wafer tray 11 for holding a semiconductor wafer 12 and the substrate 20 for inspection is formed with a plurality of terminals 18 for inspection.例文帳に追加

半導体ウェハ１２を保持するウェハトレイ１１と、検査用基板２０とを備えたウェハ一括検査装置の、検査用基板２０には複数の検査用端子１８が形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for preventing an exfoliation and a scattering of a nonconductor resin applied for a batch wafer probing inspection even when a usual probing inspection is conducted after the batch wafer probing inspection, and to provide its inspecting method.例文帳に追加

ウェーハ一括プロービング検査後に通常プロービング検査を実施する場合でも、ウェーハ一括プロービング検査のために塗布した不導体樹脂の剥がれや飛散を防止する半導体装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a control system of an inspection unit group that performs positioning or the like of each inspection unit and allows batch control of positions of a plurality of inspection means.例文帳に追加

検査ユニット毎の位置調整等の便宜を図る一方で、複数の検査手段の位置の一括制御をも可能とした検査ユニット群の制御システムを提供する。 - 特許庁

The communication terminal 10 designates a batch mode and transmits an inspection instruction file to the apparatus 50 (S107, S108).例文帳に追加

通信端末１０は、バッチモードを指定して、装置５０に検査指示ファイルを送信する（Ｓ１０７，１０８）。 - 特許庁

To obtain a function for avoiding the collision of a batch discharged by a discharge conveyor with the preceding batch, a function for taking out the batch produced first for the purpose of inspection and a function for taking out the stagnated batch after the completion of production, using a common means.例文帳に追加

排出コンベアによって排出されるバッチが先行バッチに衝突することを回避する機能と、検品のために最初に生産されたバッチを取出す機能と、生産終了時に滞留バッチを取出す機能とを共通の手段を用いて得る。 - 特許庁

To provide a method for the inspection of a semiconductor device capable of reliably carrying out the batch inspection of electrical characteristics of a plurality of semiconductor devices formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハに形成された複数の半導体素子の電気的特性の一括検査を確実に実施できる半導体素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display panel employing a batch contact system on each signal line, in which an inspection region formed on the liquid crystal display panel can be decreased without damaging stability of the contact operation, and to provide an inspection device and an inspection method.例文帳に追加

各信号線に一括コンタクトされる液晶表示パネルについて、コンタクトの安定性を損なうことなく液晶表示パネルに形成される検査用領域を小さくできる液晶表示パネル、検査装置、および検査方法の提供。 - 特許庁

The defects or position deviations of conductive balls 3 on a wafer 2 mounted in a batch mounting equipment part 10 are examined with an inspection equipment part 20.例文帳に追加

検査装置部２０により、一括搭載装置部１０において搭載したウエハ２上の導電性ボール３の欠落あるいは位置ずれを検査する。 - 特許庁

To reduce the development man-hours, and to provide stable LSIs by avoiding, in advance, the faults in the inspection of functional block units by malfunctions caused by power source drop and performing inspection of the functional block units in batch.例文帳に追加

電源ドロップに起因する誤動作で機能ブロック単体検査不具合を事前に回避し、機能ブロック単体検査を一括実施することで開発工数の削減し、安定したＬＳＩの提供を実現する。 - 特許庁

To provide a program, device and method for print management, capable of easily managing the printing state and inspection state of documents distributed by a batch document distribution system.例文帳に追加

文書一括配布システムにより配布した文書の印刷状況、検収状況を容易に管理することができるプリント管理プログラム、装置および方法を提供する。 - 特許庁

When a time-out state occurs, the state is shifted to the inspection state, a plurality (M) of probe request packets are immediately sent in a batch (successively without time intervals), and an answer is waited for.例文帳に追加

そして、タイムアウトが生じたら検査状態に遷移して直ちにプローブ要求パケットを複数個(Ｍ個)まとめて（時間間隔をあけずに、連続的に）送って応答を待つ。 - 特許庁

To provide an inspection substrate of high density that can integrally and electrically inspect the circuit of a high-density semiconductor device in batch, which is formed on a semiconductor wafer, with high accuracy.例文帳に追加

半導体ウェハ上に形成された高密度の半導体素子の回路を、一括して高精度に電気検査が行える高密度の検査基板を提供すること。 - 特許庁

A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.例文帳に追加

エピタキシャル成長工程である工程２を終えたバッチＡから、先行ロットＰを選択し、この先行ロットＰを、バッチＡの他のロットに先行して工程３から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁

To realize a wafer end batch inspection device for equally press-fitting bump terminals to electrodes for inspection, and for preventing a contact resistance between the bump electrodes and the electrodes for inspection from being increased even when the peripheral edge part of a substrate for inspection is deformed so as to be made closer to a wafer tray side than a central part by setting the peripheral closed space of a wafer holding part in a decompressed status.例文帳に追加

ウェハ保持部の周囲の密閉空間を減圧状態とすることにより、検査用基板の周縁部が中心部よりもウェハトレイ側に接近するように変形した場合においても、バンプ端子が検査用電極に均等に圧接され、バンプ端子と検査用電極との間の接触抵抗が上昇することがないウェハ一括検査装置を実現できるようにする。 - 特許庁

In the IC test data output system 1, a data processing means 10 receives IC inspection data in a batch from a memory IC, and the data is processed into data complying with respective output formats on the basis of respective programs matching the various output formats in an output device 30.例文帳に追加

ＩＣ試験データ出力システム１は、メモリＩＣのＩＣ試験データをデータ加工手段１０が一括して受け取り、出力装置３０における種々の出力形式に対応した各プログラムに基づいて、当該データを各出力形式に応じたデータに加工する。 - 特許庁

To enable the inspections of the electrical characteristics of a plurality of semiconductor devices with electrical pads arranged on their peripheral parts only at the same time in batch, whereby yield of the manufacture of the devices is raised, manufacturing cost of the devices is reduced and a semiconductor inspection device is realized, which is low in cost and has high reliability.例文帳に追加

周辺部のみに電極パッドが配列された複数の半導体装置を一括同時に電気的特性の検査を可能とし、それによって製造歩留まりを向上させ、製造コストを低減し、安価で高信頼性を有する半導体検査装置を実現する。 - 特許庁

This operation system for the running support road system has a system operation management device performing online-processing of daily operation monitoring of equipment constituting the running support road system at all times in a batch and is provided with functions for giving a remote diagnostic processing command for daily inspection and operation test and recording test operation by this device.例文帳に追加

走行支援道路システムの運用方式であって、走行支援道路システムを構成する設備機器の日常の常時動作監視を一括オンライン処理するシステム運用管理装置を有し、この装置で日常点検、動作試験のリモート診断処理指令、試験動作記録機能を具えている。 - 特許庁