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lattice coefficientとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 格子係数
「lattice coefficient」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
METHOD AND DEVICE FOR UPDATING REFLECTION COEFFICIENT OF LATTICE TYPE FILTER例文帳に追加
ラティス型フィルタの反射係数の更新方法及び、装置 - 特許庁
A quantum dot layer is formed on a cross-hatched crystal layer with its lattice coefficient different from that of the substrate and with its lattice strain relieved.例文帳に追加
本発明の骨子は、基板と格子定数が異なり格子歪緩和してクロスハッチングができた結晶層上に量子ドット層を形成する。 - 特許庁
The method for updating the reflection coefficient of the lattice type filter updates the reflection coefficient so as to minimize a forward prediction error.例文帳に追加
本発明のラティス型フィルタの反射係数の更新方法により、前向き予測誤差が最小となるように、反射係数を更新する。 - 特許庁
A tap coefficient calculation section 202 uses a reference signal and a backward prediction error signal sequence generated by the lattice filter to calculate a tap coefficient.例文帳に追加
タップ係数計算部202は、参照信号およびラティスフィルタにより生成された後向き予測誤差信号系列を用いて、タップ係数を算出する。 - 特許庁
The digital camera holds a matrix coefficient set for achieving the conversion processing by a matrix operation, calculates values of the respective lattice points of the three-dimensional lattice point data table using the matrix coefficient set, and sets the calculated values to the three-dimensional lattice data table to be used in the conversion processing.例文帳に追加
デジタルカメラは、上記変換処理をマトリクス演算により実現するためのマトリクス係数セットを保持し、このマトリクス係数セットを用いて3次元格子点データテーブルの各格子点の値を算出し、算出された値を上記変換処理で用いられる3次元格子データテーブルに設定する。 - 特許庁
An estimation device 42 corrects a prediction value on a mesh lattice point g from the observation value, the prediction value and the weight coefficient.例文帳に追加
推定装置42は、観測値、予測値及び重み係数から、メッシュ格子点gの予測値を修整する。 - 特許庁
A lattice filter 201 uses an input signal sequence to generate a backward prediction error and a backward reflection coefficient.例文帳に追加
ラティスフィルタ201は、入力信号系列を用いて後向き予測誤差および後向き反射係数を生成する。 - 特許庁
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「lattice coefficient」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
To provide a method and device for updating the reflection coefficient which can be used for reducing the number of division calculations required for updating the reflection coefficient of a lattice type filter and for allowing the lattice type filter to be used to identify the characteristics of an unknown system.例文帳に追加
本発明の目的は、ラティス型フィルタの反射係数の更新に必要な除算回数を減らし、且つ、ラティス型フィルタが未知系の特性を同定することに使用できる反射係数の更新方法及び更新装置を提供することである。 - 特許庁
A tap coefficient conversion section 203 uses the backward reflection coefficient generated by the lattice filter 201 to generate a conversion matrix and generates a tap coefficient applicable to a transversal filter through a matrix arithmetic operation using the tap coefficient calculated by the tap coefficient calculation section 202 and the conversion matrix.例文帳に追加
タップ係数変換部203は、ラティスフィルタ201により生成された後向き反射係数を用いて変換行列を作成し、タップ係数計算部202により算出されたタップ係数と上記変換行列とを用いた行列演算により、トランスバーサル形フィルタに適用可能なタップ係数を生成する。 - 特許庁
In the p-type semiconductor layer 103, at least one of a lattice constant and a coefficient of thermal expansion differs from that of the silicon substrate 101.例文帳に追加
p型半導体層103は、シリコン基板101に対して格子定数および熱膨張係数のうち少なくとも1つが異なる。 - 特許庁
Thereby dislocation generated based on a lattice constant difference or thermal expansion coefficient difference can be prevented and thus the superior quality of inexpensive compound semiconductor substrate can be obtained.例文帳に追加
よって、格子定数差や熱膨張率差に基づいて発生する転位を防ぎ、良質で安価な化合物半導体基板を作ることができる。 - 特許庁
When the lattice mismatching coefficient is lower than -0.20%, the n-type Al_xIn_zP current block layer 50 alleviates the lattice for the n-type GaAs substrate 41 and the p-type Al_xGa_yIn_zP second clad layer 45 in order to eliminate the effect of distortion.例文帳に追加
尚、上記格子不整合率が−0.20%よりも下の場合には、n型Al_xIn_zP電流ブロック層50がn型GaAs基板41およびp型Al_xGa_yIn_zP第2クラッド層45に対して格子緩和して歪みの効果が無くなる。 - 特許庁
To provide an improved method for growing a growth layer on a substrate where the thermal expansion coefficient and/or lattice constant of the layer is largely different from that of the substrate.例文帳に追加
基板上に、熱膨張係数及び/又は格子定数がその基板と大幅に相違する成長層を成長させるための改良された方法を提供すること。 - 特許庁
A lattice mismatching coefficient of an n-type Al_xIn_zP current block layer 50 for an n-type GaAs substrate 41 is set to the uniform value of -0.10% within the n-type Al_xIn_zP current block layer 50.例文帳に追加
n型GaAs基板41に対するn型Al_xIn_zP電流ブロック層50の格子不整合率を、n型Al_xIn_zP電流ブロック層50内で一様に−0.10%とする。 - 特許庁
To suppress defects by suppressing a crack due to a thermal expansion coefficient difference and lattice constant difference of a growing III-V compound semiconductor layer and a substrate crystal.例文帳に追加
成長するIII−V族化合物半導体層と基板結晶の熱膨張係数差、および格子定数差によって生じるクラックを抑え、欠陥の導入を抑制する。 - 特許庁
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