length of sampleとは 意味・読み方・使い方

To provide a sample introduction device and a sample introduction method capable of introducing an optional amount of sample without being restricted by the length of an offset of a double-T type microchip.例文帳に追加

ダブルＴ型マイクロチップのオフセットの長さに制約されずに、任意の量の試料を導入することができる試料導入装置および試料導入方法を提供すること - 特許庁

To miniaturize a durometer by reducing the stroke length of an XY stage for a large sample.例文帳に追加

大型の供試体に対してＸＹステージのストローク長を短くして小型化を図る。 - 特許庁

To provide a length measuring method by a scanning electron microscope, capable of preventing a length measuring error from being generated by the constitution of a sample, a kind of film or the like.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

In a preferred embodiment of the sample holder, the sample holder driving mechanism makes it possible to vary an insertion depth of the sample holder into a holding tube of the sample holder, independently of a driving mechanism of nearly a length direction of a sample holder set differently of the sample holder.例文帳に追加

また、本発明の試料ホルダーの好ましい実施態様において、前記試料ホルダー駆動機構は、前記試料ホルダーとは別個に設置された試料ホルダーの略長手方向の駆動機構とは無関係に、試料ホルダーの保持筒への試料ホルダーの挿入深さを可変することが可能であることを特徴とする。 - 特許庁

A level converting means 13 converts the level of the hold length block of the delayed sample/hold signal SHd into the level of the hold length block of the second sample/hold signal SH2, and generates a noise mask signal So.例文帳に追加

レベル変換手段１３は、遅延サンプルホールド信号ＳＨｄのホールド長区間のレベルを、第２のサンプルホールド信号ＳＨ２のホールド長区間のレベルに変換してノイズマスク信号Ｓｏを生成する。 - 特許庁

A signal obtained from the sample cell having the length fit for the sample gas concentration is separated from among the signals from the detector 6, to calculate the concentration of the sample gas.例文帳に追加

この検出器６からの信号のうち、試料ガス濃度に適した長さを有する試料セルから得られる信号を分離して、試料ガスの濃度を算出する。 - 特許庁

A frame-setting circuit 1 sets the frame length of a waveform sample, which is generated by a waveform sample generating circuit 2 at the waveform sample generating circuit 2, on the basis header information.例文帳に追加

フレーム設定回路１は、ヘッダ情報に基づいて、波形サンプル生成回路２において生成される波形サンプルのフレーム長を波形サンプル生成回路２に設定する。 - 特許庁

To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁