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mark frequencyとは 意味・読み方・使い方
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「mark frequency」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 66件
Diffraction lights of even order other than diffraction lights of zero order is removed in mark lights obtained from an irradiated area including the mark, a frequency component corresponding to the each diffraction light of odd degree included in the mark lights is extracted from an image signal of the mark lights, and the positional information of the mark is measured using the extracted frequency component.例文帳に追加
マークを含む被照射領域から得られるマーク光は、０次回折光以外の偶数次回折光が除去されており、マーク光の画像信号から、マーク光に含まれる奇数次回折光に対応する周波数成分を抽出し、その抽出された周波数成分を用いてマークの位置情報を計測する。 - 特許庁
To calculate a frequency correction amount with reduced processing loads even when the detection mistake of a servo mark is caused.例文帳に追加
サーボマークの検出ミスが発生した場合であっても、処理負荷少なく周波数補正量を算出する。 - 特許庁
To provide a method for supplying an angle mark signal having high resolution, including detection of an angle mark signal having low resolution as a rotation trigger, wherein an angle mark having a frequency determined by multiplying by a multiple settable beforehand is generated from an angle mark having low resolution.例文帳に追加
高い解像度の角度マーク信号を供給するための方法は、低い解像度の角度マーク信号を回転トリガーとしても検出することも含み、そして、低い解像度の角度マークから、予め設定可能な倍数で逓倍した周波数を持つ角度マークを生成するものである。 - 特許庁
To provide a mark length measuring device which can measure mark length with high accuracy in order to improve the accuracy of calculation of a fundamental frequency and deal with the speedup of the rotation of a disk, and to provide a mark length measuring method.例文帳に追加
基本周波数の算出の精度を向上させるために精度の高いマーク長の測定を行うことができ、ディスクの回転の高速化にも対応可能なマーク長測定装置、及びマーク長測定方法を提供する。 - 特許庁
Thus, fluctuations of the mark start and end edges on the disk due to the superimposition of the high frequency component can be avoided.例文帳に追加
これにより高周波成分の重畳によるマーク始端および終端のディスク上の変動を避けることができる。 - 特許庁
Thereby, variation on a disk of the mark start end and the finish end due to superposition of the high frequency component can be prevented.例文帳に追加
これにより高周波成分の重畳によるマーク始端および終端のディスク上の変動を避けることができる。 - 特許庁
Thereby, variation of the mark start end and the finish end due to superimposition of the high frequency component on the disk can be prevented.例文帳に追加
これにより高周波成分の重畳によるマーク始端および終端のディスク上の変動を避けることができる。 - 特許庁
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「mark frequency」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 66件
Thus, fluctuation of the mark start and end edges on the disk due to superimposition of the high frequency component can be avoided.例文帳に追加
これにより高周波成分の重畳によるマーク始端および終端のディスク上の変動を避けることができる。 - 特許庁
Thus, the fluctuation of the beginning end and finish end of the mark on the disk caused by the superposition of high frequency component can be evaded.例文帳に追加
これにより高周波成分の重畳によるマーク始端および終端のディスク上の変動を避けることができる。 - 特許庁
A bit clock signal BC generated by a PLL circuit 20 synchronized with a fine clock mark signal FCM is frequency divided by frequency dividers 204, 38 to be imparted to a phase comparator 42.例文帳に追加
ファインクロックマーク信号ＦＣＭに同期してＰＬＬ回路２０により生成されるビットクロック信号ＢＣを分周器２０４，３８により分周して位相比較器４２に与える。 - 特許庁
Even when the first mark pattern 43 and the second mark pattern 44 as interfering with each other are formed on a large glass substrate, each mark pattern 43, 44 can be reliably and selectively recognized by enhancing frequency components corresponding to the dimension and spacing of the patterns 46, 47 in an image picked up the large substrate.例文帳に追加
第１マークパターン43と第２マークパターン44とを干渉した状態で大判ガラス基板に形成した状態でも、大判基板を撮像した画像にてパターン46，47の寸法および間隔に対応する周波数成分を強調することで、各マークパターン43，44を確実に選択的に認識できる。 - 特許庁
The flow of high frequency in the heating chamber 10 when the baking plate 80 for the microwave oven is put in the heating chamber 10 is shown by a void arrow mark.例文帳に追加
加熱室１０内にレンジ焼き皿８０が載置された際の、該加熱室１０内の高周波の流れが、白抜きの矢印で示されている。 - 特許庁
Waveform fluctuations in the short mark period are enhanced by such a high-frequency region enhancement processing, and a zero-crossing state over a slice level is improved.例文帳に追加
かかる高域強調処理により、短マーク期間における波形変動が強調され、スライスレベルに対するゼロクロス状態が改善される。 - 特許庁
To solve the problem that a method of detecting the position of a mark by image processing cannot grasp high-frequency positional variation due to the time required in the processing.例文帳に追加
画像処理によりマークの位置を検出する方法は、処理に時間を要するため、高周波の位置変動を捉えることができない。 - 特許庁
A high frequency superimposition controller is provided to stop high frequency component superimposition at predetermined time before the start and end timing of the mark forming semiconductor laser drive current and also to start the high frequency component superimposition after predetermined time thereto.例文帳に追加
マーク形成用半導体レーザ駆動電流の開始タイミングおよび終了タイミングに対して所定時間先行して高周波成分の重畳を停止し、さらに所定時間後に高周波成分の重畳を開始する高周波重畳制御手段を設けた。 - 特許庁
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