mass-spectraとは 意味・読み方・使い方

To provide a mass spectrum analysis apparatus capable of accurately analyzing mass spectra, and to provide mass spectrum analysis method and a mass spectrum analysis program.例文帳に追加

マススペクトルを的確に分析することができるマススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、マススペクトル解析プログラムを提供すること。 - 特許庁

First and second time-of-flight mass spectrometer spectral parts 22, 23 accelerate the ion, first and second ion detectors 24, 25 detect the ion to output the multiple spectra Ai, Bi corresponding to ±1, and first and second averagers 30, 31 integrate the multiple spectra Ai, Bi, and accumulate them.例文帳に追加

第１、第２TOFMS分光部22,23はイオンを加速し、第１、第２イオン検出器24,25はイオンを検出して±１に対応した多重スペクトルＡ_i,Ｂ_iを出力し、第１、第２アベレージャ30,31は多重スペクトルＡ_i,Ｂ_iを積算し蓄える。 - 特許庁

UV absorption spectra of constituents of the solutes may be compared to predetermined calibration curves to accurately determine the mass and concentration of a single droplet.例文帳に追加

溶質の成分の紫外線吸収スペクトルは、１滴の液滴の質量及び濃度を精密に測定するために、所定の検量線と比較され得る。 - 特許庁

To automatically and accurately allow mutual mass-spectra, originating from the same compound to correspond to each other, between two-dimensional peak data obtained from a plurality of analysis experiments.例文帳に追加

複数の分析実験から得られた２次元ピークデータ間で、同一の化合物由来のマススペクトル同士を自動的かつ正確に対応付ける。 - 特許庁

To improve efficiency of operations such as comparison of mass spectra by an analyst with visual inspection or confirmation of waveform on extracted ion chromatogram (EIC) when components are identified based on the retention time of peaks on the chromatogram or an intensity pattern of mass spectra.例文帳に追加

クロマトグラム上のピークの保持時間やマススペクトルの強度パターンに基づいた成分同定に際し、分析者の目視によるマススペクトル比較や抽出イオンクロマトグラム（ＥＩＣ）の波形確認等の作業の効率改善を図る。 - 特許庁

In the method for secondary ion mass spectrometry, mass spectrometry is performed on a sample by bringing a reagent that acts on organic matters containing double bonds to change the secondary ion mass spectra of the organic matters into contact with the sample.例文帳に追加

二重結合を有する有機物に作用して、該有機物の二次イオン質量スペクトルを変化させる試薬を、事前に試料に接触させて試料の質量分析することを特徴とする二次イオン質量分析法 - 特許庁

A surface analyzing apparatus includes a means for irradiating a sample surface with two types of ions having different sizes; an instrument for measuring mass spectra of ions emitted from the sample surface by a time-of-flight secondary ion mass spectrometer; and an information processing device for outputting the difference between two mass spectra measured by irradiation with different types of ions from the measured mass spectra.例文帳に追加

試料表面にサイズの異なる少なくとも２種類のイオンをそれぞれ照射する手段、前記試料表面から放出されるイオンの質量スペクトルを飛行時間型二次イオン質量分析器により計測する計測器、および計測された質量スペクトルから異なる種類のイオン照射で計測された２つの質量スペクトルの差を出力する情報処理装置を有することを特徴とする表面解析装置。 - 特許庁

In both of those modes, a mass spectrum is acquired, then the mass spectra acquired in two different modes are compared to recognize parent ions and daughter ions at the end of trial.例文帳に追加

両方のモードで質量スペクトルが取得され、試行の最後に、２つの異なるモードで得られた質量スペクトルを比較することにより、親イオンと娘イオンが認識される。 - 特許庁