microscope microscopyとは 意味・読み方・使い方

SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD例文帳に追加

走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

Accordingly, an objective phase ring effective for enabling wavelength-specific phase microscopy may not interfere with normal usage of the microscope for other applications such as, for example, fluorescence microscopy.例文帳に追加

それ故、波長特異的位相顕微鏡検査を可能にするために有効な対物位相リングは、例えば、蛍光顕微鏡検査のような他の適用のための顕微鏡の一般的な使用法を阻害しない。 - 特許庁

A SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) having a y-direction illumination light source and a z-direction detection light camera is disclosed.例文帳に追加

ｙ方向の照明光源とｚ方向検出光カメラとを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁

To remove a loss of exciting light or detection light in a main beam splitter, for a scanning microscopy and a confocal scanning microscope.例文帳に追加

走査型顕微鏡法または共焦点走査型顕微鏡において、主ビームスプリッタでの励起光または検出光の損失を除去する。 - 特許庁

An SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) has a y-direction illumination light source 4 and a z-direction detection light camera 16.例文帳に追加

ｙ方向の照明光源４とｚ方向検出光カメラ１６とを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁

To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。 - 特許庁