multilayer sampleとは 意味・読み方・使い方

To provide a multilayer thin-film analysis and a measuring apparatus for applying white X rays to a sample surface at an extremely low angle and for determining a multilayer film structure useful for specification of a thin film, a multilayer film, or the like by selecting a depth.例文帳に追加

試料表面に極く低角に白色Ｘ線を入射し、薄膜や多層膜等の特定化に有用な多層膜構造を深さを選択しながら決定できる多層薄膜分析方法および測定装置を提供する。 - 特許庁

A computer 10 analyzes the optical characteristics of the sample 30 at every layer of the multilayer film on the basis of a measured result and the calculated value from the model formed corresponding to the sample 30.例文帳に追加

コンピュータ１０は、測定結果及び試料３０に応じて作成したモデルからの算出値に基づき試料３０の光学特性を多層膜の層毎に分けて解析する。 - 特許庁

In this case, laser beams 4 are applied to a surface 3 in the sample 1 from a light source 8, the temperature of the back of the sample 1 at that time is measured by a radiation thermometer 6 via a hole 10 in the heater 5 and a transparent sample holder 2, thus measuring the thermal physical properties of the sample by using the temperature response properties of a multilayer model.例文帳に追加

このとき光源８からレーザ４を試料１の表面３に照射し、その際の試料１の裏面の温度をヒータ５の穴１０、透明な試料ホルダ２を介して放射温度計６で測定し、多層モデルの温度応答性を用いて試料の熱物性を測定する。 - 特許庁

The sample processed into a needle-point shape is shaped such that the layer direction of the multilayer structure becomes parallel to the longitudinal direction of the needle.例文帳に追加

また、針先形状に加工された試料は多層構造の層方向が針の長手方向に平行となるように形成する。 - 特許庁

To provide a multilayer reagent test specimen for quantifying a glycated protein in a liquid sample, and a method and a kit using the same.例文帳に追加

液体サンプル中の糖化タンパク質を定量するための多層試薬試験片並びにこれを使用する方法およびキットを提供する。 - 特許庁

A simulation system includes: an X-ray CT device 11 for acquiring a tomographic image of a porous sample; and a device 14 for simulating a mercury intrusion technique by processing multilayer tomographic images of the sample.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、多孔質の試料の断層画像を取得するＸ線ＣＴ装置１１と、試料の断層積層画像を処理して水銀圧入法をシミュレーションする装置１４とを備える。 - 特許庁

To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers.例文帳に追加

多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To reliably analyze a failure of a sample W or evaluate the material thereof by measuring the surface potential in a different state such as a non-operation state and an operation state of the sample W such as a multilayer ceramic device.例文帳に追加

積層セラミックデバイス等の試料Ｗの非動作状態及び動作状態等の異なる状態での表面電位を測定することにより、試料Ｗの故障解析又は材料評価を確実に行う。 - 特許庁