1153万例文収録!

「multilayer sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > multilayer sampleに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

multilayer sampleの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 30



例文

To nondestructively evaluate the layer structure and the interface roughness of a multilayer film as a sample, with the multilayer film being irradiated with X-rays.例文帳に追加

X線を多層膜試料に照射して、層構造や界面粗さを非破壊で評価することを目的とする。 - 特許庁

To provide a multilayer film analyzer and a multilayer film analyzing method capable of measuring the thickness of a multilayer film sample having wavelength dependence with higher accuracy.例文帳に追加

波長依存性を有する多層膜試料の膜厚をより高い精度を測定することが可能な多層膜解析装置および多層膜解析方法を提供する。 - 特許庁

To easily prepare a plane TEM sample selectively remaining a specific surface between layers of a sample comprising a multilayer film.例文帳に追加

多層膜からなる試料の層間にある特定面を選択的に残存させた平面TEM試料を容易に作製する。 - 特許庁

This device is a container assembly equipped with a multilayer coating composition, preferably equipped with a multilayer coating composition for coagulating the blood sample quickly.例文帳に追加

本発明は、多層コーティング組成物を具えた容器アセンブリであり、より好ましくは、血液試料を迅速に凝固させるための多層コーティング組成物を具える。 - 特許庁

例文

To provide a method of polarizing a multilayer ferroelectric sample, which prevents deviated cracks from occurring.例文帳に追加

偏向クラックの発生を防止する、多層強誘電体サンプルを分極化する方法を提供する。 - 特許庁


例文

MULTILAYER REAGENT TEST SPECIMEN AND METHOD FOR QUANTIFYING GLYCATED PROTEIN IN PHYSIOLOGICAL SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

多層試薬試験片およびこれを使用した生理学的サンプル中の糖化タンパク質の定量方法 - 特許庁

The sample 30 is constituted by providing a multilayer film and an electrode on a substrate and the light reflected by the sample 30 is taken in a light acquisition unit 5 to be measured by a spectroscope 7.例文帳に追加

試料30は基板の上に多層膜及び電極を設けており、試料30で反射した光を光取得器5で取り込んで分光器7で測定する。 - 特許庁

To provide a multilayer thin-film analysis and a measuring apparatus for applying white X rays to a sample surface at an extremely low angle and for determining a multilayer film structure useful for specification of a thin film, a multilayer film, or the like by selecting a depth.例文帳に追加

試料表面に極く低角に白色X線を入射し、薄膜や多層膜等の特定化に有用な多層膜構造を深さを選択しながら決定できる多層薄膜分析方法および測定装置を提供する。 - 特許庁

A computer 10 analyzes the optical characteristics of the sample 30 at every layer of the multilayer film on the basis of a measured result and the calculated value from the model formed corresponding to the sample 30.例文帳に追加

コンピュータ10は、測定結果及び試料30に応じて作成したモデルからの算出値に基づき試料30の光学特性を多層膜の層毎に分けて解析する。 - 特許庁

例文

In this case, laser beams 4 are applied to a surface 3 in the sample 1 from a light source 8, the temperature of the back of the sample 1 at that time is measured by a radiation thermometer 6 via a hole 10 in the heater 5 and a transparent sample holder 2, thus measuring the thermal physical properties of the sample by using the temperature response properties of a multilayer model.例文帳に追加

このとき光源8からレーザ4を試料1の表面3に照射し、その際の試料1の裏面の温度をヒータ5の穴10、透明な試料ホルダ2を介して放射温度計6で測定し、多層モデルの温度応答性を用いて試料の熱物性を測定する。 - 特許庁

例文

The sample processed into a needle-point shape is shaped such that the layer direction of the multilayer structure becomes parallel to the longitudinal direction of the needle.例文帳に追加

また、針先形状に加工された試料は多層構造の層方向が針の長手方向に平行となるように形成する。 - 特許庁

To provide a multilayer reagent test specimen for quantifying a glycated protein in a liquid sample, and a method and a kit using the same.例文帳に追加

液体サンプル中の糖化タンパク質を定量するための多層試薬試験片並びにこれを使用する方法およびキットを提供する。 - 特許庁

A simulation system includes: an X-ray CT device 11 for acquiring a tomographic image of a porous sample; and a device 14 for simulating a mercury intrusion technique by processing multilayer tomographic images of the sample.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、多孔質の試料の断層画像を取得するX線CT装置11と、試料の断層積層画像を処理して水銀圧入法をシミュレーションする装置14とを備える。 - 特許庁

To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers.例文帳に追加

多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To reliably analyze a failure of a sample W or evaluate the material thereof by measuring the surface potential in a different state such as a non-operation state and an operation state of the sample W such as a multilayer ceramic device.例文帳に追加

積層セラミックデバイス等の試料Wの非動作状態及び動作状態等の異なる状態での表面電位を測定することにより、試料Wの故障解析又は材料評価を確実に行う。 - 特許庁

The device for preparing a plane TEM sample comprises a glow discharge emission spectral analysis (GDS) device part 102 and an ion milling device part 103, and sets a control program corresponding to a specific element contained in a sample 5 comprising a multilayer film.例文帳に追加

平面TEM試料作製装置はグロー放電発光分光分析(GDS)装置部102とイオンミリング装置部103とを備え、多層膜からなる試料5に含まれる特定元素に対応した制御プログラムを設定する。 - 特許庁

To avoid necessity of moving a sample and an X-ray source and make one kind of multilayer film mirror enough, when performing an X-ray spectro scope, while switching two kinds of wavelengths.例文帳に追加

2種類の波長を切り換えてX線を分光するときに、試料もX線源も移動させる必要がなく、かつ、1種類の多層膜ミラーだけで足りるようにする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring the thicknesses of a multilayer thin film, which can instantaneously measure each film thicknesses of the multilayer thin film of functional resin films or informational electronic materials with higher accuracy, and which can also be applied to a dynamic sample.例文帳に追加

機能性樹脂フィルムや情報電子材料の多層薄膜の各膜厚を一層高精度に且つ瞬時に測定でき、動態の試料に対しても適用することが出来る多層薄膜の膜厚測定方法および膜厚測定装置を提供する。 - 特許庁

To pick up an image with high picture quality of even an area where a sufficient signal amount is not easily obtained from a sample, such as a low-layer area of a multilayer and a hole bottom of a hole pattern.例文帳に追加

多層レイヤにおける下層領域やホールパターンの穴底など,試料から十分な信号量が得られにくい領域に対しても高画質である画像を撮像する。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のSEM EDS、EELSマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

To make parallel X rays applied to a sample and to fully secure the X-ray intensity by irradiating the sample with dispersion X rays coming out of a light reception slit after condensation by a curved crystal monochromator after turning the dispersion X rays into parallel beams by a parabolic multilayer mirror.例文帳に追加

湾曲結晶モノクロメータで集光されて受光スリットから出てくる発散X線を,放物面多層膜ミラーで平行ビームにしてから試料に照射することにより,試料に照射するX線を平行化し,かつ,そのX線強度も十分に確保する。 - 特許庁

To provide a method for identifying thermophysical properties of a multilayer laminate by unsteady heating, which can identify thermophysical property values even when thermophysical property values of all of materials constituting a laminate sample are unknown.例文帳に追加

積層試料を構成する物質の全ての熱物性値が未知の場合にも、熱物性値を同定することができる非定常加熱による多層積層材の熱物性同定方法を提供する。 - 特許庁

the multilayer semiconductor sample 31 is irradiated with UV-rays 30a having a wavelength in a range of 200-350 nm for one hour in the atmosphere at the room temperature and then heat-treated at 700°C for 30 min thus activating the p-type impurities.例文帳に追加

この半導体積層試料31に対して、大気中、室温にて波長200nm〜350nmの紫外線30aを1時間照射し、その後700℃で30分加熱処理することによりp型不純物を活性化させる。 - 特許庁

At a part to be evaluated (e.g. the part of a plug or wiring) of an evaluation sample 1 having a multilayer wiring structure, an indenter having a forward end diameter suitable for the structure at that part is arranged.例文帳に追加

多層配線構造が形成された評価サンプル1の評価対象部分(例えばプラグの部分、配線の部分など)に、その部分の構造に合った先端径を有するインデンター(圧子)を配置する。 - 特許庁

To realize a method of manufacturing a membrane sample for a scanning transmission electron microscope which is suitable for being used in the inspection of a multilayer structure in a semiconductor device and which is handled easily, and to realize an observation method for the membrane sam ple.例文帳に追加

半導体デバイスの多層構造の検査に用いて好適であり、取り扱いが容易な走査透過電子顕微鏡用薄膜試料作製方法および薄膜試料の観察方法を実現する。 - 特許庁

The pathological sample-preserving bag is composed of a multilayer film having at least one layer of layer A consisting mainly of an ethylene-vinyl alcohol copolymer (A) having 20-65 mol% ethylene content and ≥90 mol% saponification degree and the layer A is constituted so as not to directly come in contact with a fixed liquid of the pathological sample.例文帳に追加

エチレン含有量20〜65モル%、けん化度90モル%以上のエチレン−ビニルアルコール共重合体(A)を主成分とするA層を少なくとも一層有する多層フィルムからなり、該A層が、病理標本固定液と直接接触しないように構成されている病理標本保存袋が提供される。 - 特許庁

When an insulation film of SiO_2 is formed for these two kinds of sample and the cross-sectional structure is observed, the SiO_2 covering the multilayer film of Au/Pt does not overhang but is formed with a gentle slope.例文帳に追加

前記2種類の試料に対し、SiO_2の絶縁膜形成を行い断面構造を観察したとき、テーパー形状を有するAu/Pt多層膜をカバレージしているSiO_2膜はオーバーハングすることなく、緩やかなテーパー形状に形成されている。 - 特許庁

The method for determining the quantity of cholesterol in the high specific gravity lipoprotein includes a first step for adding a sample onto a multilayer dry slide, where at least one layer contains phosphotungstic acid and another layer contains a high specific gravity lipoprotein selective surfactant.例文帳に追加

高比重リポタンパク質中のコレステロールの前記定量方法は、少なくとも1層がリンタングステン酸を含み、そして他の1層が高比重リポタンパク質選択性界面活性剤を含む多層乾式スライド上にサンプルを添加する最初のステップを含む。 - 特許庁

An analyzer for dioxins is equipped with a high-pressure extractor 12 which extracts a sample 11 containing the dioxins under high pressure from an object substance to be analyzed, a multilayer column chromatography 13 which separates coexisting substances from a high-pressure extract, and a low resolution gas chromatography-mass spectrometer 14 which analyzes the concentrations of the homologues of the dioxins.例文帳に追加

分析対象物質からダイオキシン類を含む試料11を高圧で抽出する高圧抽出器12と、高圧抽出物から共存物質を分離させる多層カラムクロマトグラフィー13と、ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置14とを具備してなるものである。 - 特許庁

例文

This penetration endurance evaluating testing device for evaluating the penetration endurance of the sheet-like material by freely dropping the sharp cutting tool in the vertical direction, comprises a mechanism part for freely dropping the cutting tool from an arbitrary height, and the penetration profile of a multilayer structure is measured by continuously measuring the damping energy from the collision of the cutting tool with the sample to its stop.例文帳に追加

鋭利な刃物を鉛直方向に自由落下させて、シート状材料の耐貫通性を評価するための装置において、刃物を任意の高さから自由落下させる機構部と、刃物が試料に衝突してから停止するまでの減衰エネルギーを連続的に測定することにより多層構造物の貫通プロファイルを測定することを可能とした耐貫通性評価装置とする。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS