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n- or oとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 ノロ
「n- or o」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 215件
Switching between character sets is done using the shift functions ^N (SO or LS1), ^O (SI or LS0), ESC n (LS2), ESC o (LS3), ESC N (SS2), ESC O (SS3), ESC ~ (LS1R), ESC } (LS2R), ESC | (LS3R).発音を聞く 例文帳に追加
文字集合の切り替えはシフトファンクション ^N (SO または LS1),^O (SI または LS0), ESC n (LS2), ESC o (LS3), ESC N (SS2), ESC O (SS3),ESC ~ (LS1R), ESC } (LS2R), ESC | (LS3R) を使って行われる。 - JM
If required, either or both of O and N are further contained in the range of O+1.6N≤0.7%.例文帳に追加
更に必要に応じてO若しくはNの何れか一方或いは両方をO+1.6N≦0.7%の範囲で含有させる。 - 特許庁
The amidomalonate N,O-Pt complex having the chemical structure shown in the figure is provided, which is essentially purely obtained by a process including the step of bringing the corresponding amidomalonate O,O'-Pt complex or a mixture of amidomalonate O,O'-Pt and N,O-Pt complex into contact with an aqueous solution of pH 6.0-10.0.例文帳に追加
対応するアミドマロネートO,O'-Pt錯体またはアミドマロネートO,O'-PtおよびN,O-Pt錯体の混合物をpH 6.0〜10.0の水溶液に接触させる段階を含むプロセスによって本質的に純粋に得られる、以下の化学構造を有するアミドマロネートN,O-Pt錯体を用いる。 - 特許庁
When the power source voltage VCC is lower than or equal to the voltage VI_/O at the end of the I/O circuit, a voltage of the N-well of the transistor M1 is clamped at the voltage VI_/O at the end of the I/O circuit.例文帳に追加
一方、電源電圧Vccが入力/出力回路端の電圧V_I/Oより低い場合に、トランジスタM1のNウエルの電圧は入力/出力回路端の電圧V_I/Oにクランプされる。 - 特許庁
Each of the aluminum oxynitride layers is formed of an Al-O-N solid solution, an Al-O-N compound or a mixture of both of them, and AIN may additionally be mixed to it.例文帳に追加
酸窒化アルミニウム層は、Al−O−N固溶体、もしくはAl-N-O化合物もしくは両者の混合物からなり、更に、AlNを添加することもあり得る。 - 特許庁
The adhesion interfacial layer is formed from a Ge-N or Ge-O-N substance.例文帳に追加
前記粘着界面層は、Ge−NまたはGe−O−N物質から形成される。 - 特許庁
A plasma, an excimer laser 4 or an ion beam is irradiated on a silicon oxide or nitride film to cut coupling of Si-O or Si-N.例文帳に追加
プラズマ、エキシマレーザ、イオンビームなどを酸化シリコン膜もしくは窒化シリコン膜状に照射することによって、Si-OもしくはSi-Nの結合を切断することができる。 - 特許庁
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「n- or o」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 215件
When a power source voltage VCC is equal to or higher than a voltage VI_/O at an end of the I/O circuit, a voltage of the N-well of the transistor M1 is clamped at the power source voltage VCC.例文帳に追加
電源電圧Vccが入力/出力回路端の電圧V_I/O以上の場合に、トランジスタM1のNウエルの電圧が電源電圧Vccにクランプされる。 - 特許庁
The glycogen synthase kinase 3β inhibitor comprises a compound represented by the general formula: S=C=N-(CH_2)_n-S(O)_m-R (wherein, R is a lower alkyl group; m is 1 or 2; and n is an integer of 2-10) as an active ingredient.例文帳に追加
一般式:S=C=N-(CH_2)_n-S(O)_m-R(Rは低級アルキル基、mは1または2、nは2〜10の整数である)で表される化合物を有効成分とすることを特徴とする。 - 特許庁
The masteralloy can include Cr, B, Ta, Nb, C, Mo, W, Zr, Zn, Cu, Hf, O, Si or N.例文帳に追加
母合金には、Cr,B,Ta,Nb,C,Mo,W,Zr,Zn,Cu,Hf,O,Si又はNを含むことができる。 - 特許庁
An interface layers (12/14) which adjoin a phase change optical recording film (13) comprises Zr (zirconium), O (oxygen), N (nitrogen) and Y (yttria), or Nb (niobium), or Y and Nb.例文帳に追加
相変化光記録膜(13)に隣接する界面層(12/14)が、Zr(ジルコニューム)、O(酸素)、N(窒素)、およびY(イットリア)、もしくはNb(ニオブ)、またはYおよびNbから構成される。 - 特許庁
and branch type compound (D) expressed by the following general formula wherein R1, R2, R3 represents either of ethylene or 1, 2-propylene group and total sum of m, n, o is 2≤m+n+o≤8.例文帳に追加
(上記式中、R^1、R^2、R^3はエチレン、1,2−プロピレン基のいずかであり、m、n、oの総和が2≦m+n+o≦8である。) - 特許庁
In the formula, R^1 represents an alkyl group, an aryl group or a heteroaryl group; Ar represents an o-arylene group or an o-heteroaryl group; X represents O or S; and n represents 1 or 2.例文帳に追加
R^1はアルキル基、アリール基又はヘテロアリール基を表し、Arはo−アリーレン基又はo−ヘテロアリール基を表し、XはO又はSを表し、nは1又は2を表す。 - 特許庁
The novel ionic compound with a low melting point comprises an onium type cation having at least a heteroatom such as N, O, S and P bearing a positive charge and an anion including, wholly or partially, at least an ion imidide such as (FX^1O)N^-(OX^2F) (wherein X^1 and X^2 are identical or different and comprise SO or PF).例文帳に追加
本発明は、オニウム系陽イオンが正電荷をもつN、O、S又はPのようなヘテロ原子の少なくとも1種を有し、陰イオンが全部又は一部に式(FX^1O)N^-(OX^2F)(式中、X^1及びX^2は同じか又は異なり、SO又はPFである。 - 特許庁
The lower layer 31 is formed by any of Ta-Si-O, Ta-Si-O-N, Ta-Si-Al-O, or Ta-Si-Al-O-N, and the heat generating resistor layer 33 is also formed by the same composition.例文帳に追加
下部層31はTa−Si−O、Ta−Si−O−N、Ta−Si−Al−O又はTa−Si−Al−O−Nのいずれかで形成され、発熱抵抗層33も同様の組成で形成される。 - 特許庁
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