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oblique rayとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 斜光線
「oblique ray」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 33件
To provide a multifunction X-ray inspecting apparatus that can realize functions of a horizontal X-ray CT, oblique X-ray CT, rotating X-ray CT, vertical X-ray fluoroscopy, and oblique X-ray fluoroscopy.例文帳に追加
水平X線CT、傾斜X線CT、回転X線CT、垂直X線透視、傾斜X線透視の諸機能を実現できる多機能X線検査装置を提供する。 - 特許庁
In the cases of the horizontal X-ray CT, the oblique X-ray CT, the vertical X-ray fluoroscopy and the oblique X-ray fluoroscopy, the arm is made to turn in a range of 0-90°, and an image is captured at this angle.例文帳に追加
水平X線CT、傾斜X線CT、垂直X線透視、傾斜X線透視では、0から90°の範囲で回転させ、その角度で撮像する。 - 特許庁
INTENSITY CORRECTION AT OBLIQUE INCIDENCE TO DETECTOR OF DIFFRACTION X-RAY IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS例文帳に追加
X線構造解析における回折X線の検出器への斜め入射時の強度補正 - 特許庁
The X-ray microscope 1 is equipped with: an X-ray source 10 emitting an X-ray; an oblique incidence mirror for illumination 20; an oblique incidence mirror for image formation 30; an X-ray detector 40; and a moving means 50.例文帳に追加
X線顕微鏡1は、X線を発するX線源10、照明用斜入射ミラー20、結像用斜入射ミラー30、X線検出器40及び移動手段50を備えている。 - 特許庁
SAMPLE HOLDER AND OBLIQUE-INCIDENCE FLUORESCENT X-RAY ANALYZER例文帳に追加
試料ホルダおよびそれを備えた斜入射蛍光X線分析装置 - 特許庁
OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加
斜出射電子線プローブマイクロX線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロX線分析装置 - 特許庁
Consequently, the oblique light ray from the back light directs in a perpendicular direction.例文帳に追加
これによって、バックライト14からの斜めの光が垂直方向に向く。 - 特許庁
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「oblique ray」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 33件
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
斜出射電子線プローブマイクロX線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁
The X-ray detector 40 detects the X-ray focused to form the image by the oblique incidence mirror for image formation 30 on the light receiving surface 41.例文帳に追加
X線検出器40は結像用斜入射ミラー30により結像されたX線を受光面41において検出する。 - 特許庁
To provide an X-ray radiographic table which does not cause deviation on a photographic device even when performing oblique incidence radiography, oblique incidence photography or tomography.例文帳に追加
斜入透視から斜入撮影、または、断層撮影を行っても、撮影装置上でずれを生じないX線透視撮影台を提供する。 - 特許庁
The pointer body 80 of this luminous pointer is provided with a light guide member 81, an oblique ray layers 82 covering the light guide member 81, and a metallic color half mirror layer 83 covering the oblique ray layer 82.例文帳に追加
発光指針の指針本体80は、導光部材81と、この導光部材81を被覆する斜光層82と、この斜光層82を被覆する金属調の色のハーフミラー層83とを有する。 - 特許庁
To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.例文帳に追加
斜出射EPMA分析において、複数の波長分散形X線分光器に対するX線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁
Thereby, in the device using the oblique incidence mirror as the objective lens, the imaging magnification can be changed without exchanging the oblique incidence mirror in the X-ray image magnifying device.例文帳に追加
これにより、斜入射ミラーを対物レンズとして用いるX線像拡大装置において、斜入射ミラーを交換することなく結像倍率を変更することができる。 - 特許庁
A soft X-ray oblique incidence reflecting mirror 3 has a reflective coat consisting of an Mo layer 2 whose film is formed on a concave substrate 1.例文帳に追加
軟X線斜入射反射ミラー3は、凹状の基板1に成膜されたMo層2からなる反射膜を有する。 - 特許庁
OBSERVATION/ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE SURFACE BY OBLIQUE EMISSION PROTON BEAM INDUCED CHARACTERISTIC X- RAY ANALYSIS AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
斜出射プロトンビーム誘起特性X線分析による試料表面の観察・分析方法およびそのための装置 - 特許庁
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