principal reference planeとは 意味・読み方・使い方

The principal surface 55a of the substrate 55 forms an angle larger than 61 degrees with reference to a reference plane perpendicular to a reference axis VC55 extending in a c-axis direction of the group III nitride semiconductor.例文帳に追加

基板５５の主面５５ａは、該III族窒化物半導体のｃ軸方向に延びる基準軸ＶＣ５５に直交する基準平面を基準にして６１度より大きい角度を成す。 - 特許庁

The principal surface 13a of the semiconductor region 13 is inclined at an angle α relative to a flat plane Sc orthogonal to a reference axis Cx of the [0001] axis of the principal surface 13a.例文帳に追加

半導体領域１３の主面１３ａは、該主面１３ａにおける［０００１］軸方向の基準軸Ｃｘに直交する平面Ｓｃに対して角度αで傾斜する。 - 特許庁

A principal surface 13a of the group-III nitride semiconductor support 13 shows non-polarity inclined to a reference plane Sc orthogonal to a reference axis Cx, which in turn extends along a (c) axis of a group-III nitride semiconductor.例文帳に追加

III族窒化物半導体支持体１３の主面１３ａは、基準軸Ｃｘに直交する基準平面Ｓｃに対して傾斜する非極性を示しており、基準軸ＣｘはIII族窒化物半導体のｃ軸方向に延びる。 - 特許庁

The forming of the data structure having the multiple Z-plane images includes a step of automatically focusing at a principal reference focal plane, a step of capturing and digitizing an optically magnified reference Z-image, and a step of shifting the specimen 31 relative to the lens system 15 by a predetermined increment to capture and digitize another Z-plane image.例文帳に追加

複数のＺ平面画像を有するデータ構造の形成には、主基準焦点面に自動的に焦点を合わせるステップ、光学的に拡大された基準Ｚ画像を捕獲し、かつ、ディジタル化するステップ、および他のＺ平面画像を捕獲し、かつ、ディジタル化するために、標本３１を所定の増分だけレンズ系１５に対してシフトさせるステップが含まれている。 - 特許庁

The formation of the data structure having the multiple Z-plane images preferably includes automatically focusing at a principal reference focal plane and capturing and digitizing an optically magnified reference Z-image and then shifting the specimen 31 relative to the lens system 15 by a predetermined increment to capture and digitize another Z-plane image.例文帳に追加

複数のＺ平面画像を有するデータ構造の形成には、主基準焦点面に自動的に焦点を合わせるステップ、光学的に拡大された基準Ｚ画像を捕獲し、かつ、ディジタル化するステップ、および他のＺ平面画像を捕獲し、かつ、ディジタル化するために、標本３１を所定の増分だけレンズ系１５に対してシフトさせるステップが含まれている。 - 特許庁

The forming of the data structure having the multiple Z-plane images preferably includes automatically focusing at a principal reference focal plane and capturing and digitizing an optically magnified reference Z-image and then shifting the specimen (31) relative to the lens system (15) by a predetermined increment to capture and digitize another Z-plane image.例文帳に追加

複数のＺ平面画像を有するデータ構造の形成には、主基準焦点面に自動的に焦点を合わせるステップ、光学的に拡大された基準Ｚ画像を捕獲し、かつ、ディジタル化するステップ、および他のＺ平面画像を捕獲し、かつ、ディジタル化するために、標本３１を所定の増分だけレンズ系１５に対してシフトさせるステップが含まれている。 - 特許庁

The dielectric multilayer film is formed by arranging the substrate such that its horizontal reference plane is inclined by a prescribed tilt angle ϕ from a horizontal direction H, making dielectric material incident along a fixed entrance direction by vacuum vapor deposition, and laminating and depositing it on the principal plane of the substrate.例文帳に追加

誘電体多層膜は、基板をその水平基準面が水平方向Ｈから所定のチルト角φ傾くように配置して、誘電体材料を真空蒸着により一定の入射方向に沿って入射させ、基板主面に積層成膜させて形成する。 - 特許庁

The principal surface 17a is inclining in the direction of the m-axis of a hexagonal nitride semiconductor at an angle of ALPHA in the range of 63 degree or more and less than 80 degree with reference to a plane orthogonal to a reference axis Cx extending in the direction of the c-axis of the hexagonal nitride semiconductor.例文帳に追加

この主面１７ａは、六方晶系窒化物半導体のｃ軸の方向に延在する基準軸Ｃｘに直交する面を基準に６３度以上８０度未満の範囲の角度ＡＬＰＨＡで六方晶系窒化物半導体のｍ軸の方向に傾斜している。 - 特許庁