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process averageとは 意味・読み方・使い方
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「process average」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 407件
First and second shift average process circuits 28a, b take an average shift by the amount of a GI length.例文帳に追加
第1,第2移動平均処理回路28a,bは、GI長分の移動平均をとる。 - 特許庁
The remaining k (=j-i) pieces of data are made the object of the average process, the background value as the average value is obtained.例文帳に追加
残りのk(=j−i)個のデータが平均処理の対象とされ、それらから平均値としてのバックグランド値が求められる。 - 特許庁
Further, in the longitudinal direction of the steel tubular members, the average r-value is ≥1.5, and/or the average process-hardening index n-value is ≥0.15.例文帳に追加
また、鋼管部材の長手方向において、r値の平均が1.5以上及び/又はn値の平均が0.15以上であることを特徴とする。 - 特許庁
In this process, a pixel value to be computed is found as a composition of an average value of the four pixels and a fluctuation component.例文帳に追加
このとき、演算される画素値を4つの画素の平均値と揺らぎ成分の合成として求める。 - 特許庁
This method for producing the chlorinated polyolefin includes a process for chlorinating a polyolefin powder pulverized to have an average particle diameter of ≤500 μm.例文帳に追加
平均粒径500μm以下に粉砕したポリオレフィン粉体を塩素化する。 - 特許庁
The second smoothing process applies a moving average filter to the positioned inspection image.例文帳に追加
第2平滑化処理は、位置合わせされた検査画像に移動平均フィルタをかける。 - 特許庁
Also, in the preparing process, the average particle size of the fine particles may be of the order of 0.1-5 μm.例文帳に追加
また、前記製造方法において、微粒子の平均粒径は、0.1〜5μm程度であってもよい。 - 特許庁
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「process average」の部分一致の例文検索結果
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An average particle diameter of the projection material 7 used in the recess forming process is preferably 50-80 μm.例文帳に追加
また、凹部形成工程で用いる投射材7の平均粒径は、50〜80μmであるのが好ましい。 - 特許庁
The (a) process is a process which mixes a hydrophobic silica powder having 5-100 nm of an average primary particle diameter with a resin liquid, and the (b) process is a process which cures the silica containing resin liquid obtained at the (a) process.例文帳に追加
(a)工程:平均一次粒子径5〜100nmの疎水性シリカ粉末と樹脂液とを混合する工程、(b)工程:(a)工程で得られたシリカ含有樹脂液を硬化させる工程。 - 特許庁
The evaluation method of skin dullness has the process of photographing a UV image of the skin and the process of calculating the average value of the brightness of the photographed UV image.例文帳に追加
肌のくすみの評価方法は、肌のUV画像を撮影する工程と、撮影されたUV画像の輝度の平均値を算出する工程を有する。 - 特許庁
To provide a catalyst for converting hydrocarbonaceous oils to products of an average lower molecular weight and an average lower boiling point, and to provide a process for converting hydrocarbonaceous oils to products of an average lower molecular weight and an average lower boiling point using the catalyst.例文帳に追加
炭化水素系油類をより小さい平均分子量でより低い平均沸点の生成物へ転化するための触媒、並びにこの触媒を使って炭化水素系油類をより小さい平均分子量でより低い平均沸点の生成物へ転化する方法。 - 特許庁
Oxygen storage capacity OSC showing deterioration condition of the catalyst, a catalyst temperature average value at the detection process, THCAV, and an intake air amount average value at the detection process, GAAV, are detected (step 132).例文帳に追加
触媒の劣化状態を表す酸素吸蔵容量OSCと、その検出過程における触媒温度の平均値THCAVと、その検出過程における吸入空気量の平均値GAAVとを検出する(ステップ132)。 - 特許庁
In a second process, an average value A is calculated from load data per unit width at respective positions, and in a third process, a brush roll of which the average value A is A>0.065 mgf/mm is evaluated as a brush to be rejected.例文帳に追加
第2の工程では、各箇所における単位幅当たりの荷重データから平均値Aを演算し、第3の工程で、平均値Aが、A>0.065mgf/mmのものを否と評価する。 - 特許庁
The method for determining the minimum time route from the plurality of routes and providing it to a user comprises a first process of obtaining an average driving time of each of a plurality of route segments, a second process of accumulating the average driving time of the plurality of route segments in the plurality of routes, and a third process of selecting a route in which the accumulated average driving time is the minimum.例文帳に追加
複数の経路の中から最短時間経路を決定し、ユーザに通知する方法であって、該方法が複数の経路セグメント各々の平均運転時間を取得する第1工程と、該複数の経路それぞれにおける該複数の経路セグメント各々の該平均運転時間を累計する第2工程と、累計平均運転時間が最短の経路を選択する第3工程とを含む。 - 特許庁
Succeedingly, the average evaluation scores related to the films on a predetermined number of substrates before the substrate concerned by an average evaluation score acquiring part 214 and the separation degree showing the ratio of the evaluation score of the film on the substrate is calculated with respect to the average evaluation score by a process inspection part 215.例文帳に追加
続いて、平均評価点取得部214により当該基板以前の所定数の基板上の膜に係る平均評価点が求められ、工程検査部215により当該平均評価点に対する当該基板上の膜の評価点の割合を示す乖離度が求められる。 - 特許庁
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