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Weblio例文辞書での「ram test」に類似した例文

ram test

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「ram test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 92



例文

RAM TEST CIRCUIT例文帳に追加

RAMテスト回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT OF RAM例文帳に追加

RAMのテスト回路 - 特許庁

TEST METHOD FOR RAM例文帳に追加

RAMのテスト方法 - 特許庁

RAM TEST DATA GENERATING CIRCUIT例文帳に追加

RAMテストデータ生成回路 - 特許庁

TAG-RAM TEST METHOD AND DEVICE FOR THE TEST例文帳に追加

TAG−RAM試験方法およびそのための装置 - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, AND WRITE-IN METHOD FOR RAM TEST DATA BY THE CIRCUIT例文帳に追加

RAMのテスト回路およびその回路によるRAMテストデータの書き込み方法 - 特許庁

例文

RAM TEST CIRCUIT, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND RAM TESTING METHOD例文帳に追加

RAMテスト回路、情報処理装置、及びRAMテスト方法 - 特許庁

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「ram test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 92



例文

MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY RAM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR RAM AND BUS, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

RAM及びバスの検査方法、記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD, RAM/ROM TEST CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびそのテスト方法、RAM/ROMテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

Thereby, the test of a RAM and a bus can be performed.例文帳に追加

これによってRAM及びバスの検査を行うことができる。 - 特許庁

SELF-TEST ARCHITECTURE TO IMPLEMENT DATA COLUMN REDUNDANCY IN RAM例文帳に追加

RAMにおいてデータ列冗長を実施するための自己試験アーキテクチャ - 特許庁

To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加

LSIに内蔵されたRAM等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁

In a test of RAM 13, a CPU 12 performs write/read operation of data for the RAM 13.例文帳に追加

RAM13の試験において、CPU12は、RAM13に対するデータの書き込み/読み出し動作を行う。 - 特許庁

例文

FUNCTIONAL TEST FACILITATING CIRCUIT FOR RAM AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE PROVIDED WITH IT例文帳に追加

RAM用機能試験容易化回路及びこれを備えた集積回路装置 - 特許庁

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