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scan operationとは 意味・読み方・使い方
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「scan operation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 436件
SCAN OPERATION DISPLAY DEVICE AND METHOD, AND IMAGE FORMATION DEVICE WITH SCAN OPERATION DISPLAY DEVICE例文帳に追加
スキャン動作表示装置および方法、並びにこれを備える画像形成装置 - 特許庁
To prevent occurrence of erroneous operation in a scan test circuit.例文帳に追加
スキャンテスト回路での誤動作の発生を防止する。 - 特許庁
The images of the ct scan 3 hours after the operation was erased on purpose.例文帳に追加
オペ終了 3時間後からの CT検査画像が➡ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Prepare for a ct scan and operation!例文帳に追加
ストレッチャー持ってきます! CTとオペの準備も! - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Each time the user performs a scan operation, addition to a scan execution frequency counter is carried out (S105).例文帳に追加
ユーザがスキャン動作を行う度に、スキャン実行回数カウンタへの加算を行なう(S105)。 - 特許庁
To automatically execute a scan and processing after the scan together by simple operation.例文帳に追加
簡単な操作で、スキャンとスキャン後の処理をまとめて自動実行可能にする。 - 特許庁
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「scan operation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 436件
The control means performs a second AF scan operation different from the first AF scan operation to perform focus adjusting operation when performing the image-taking preparation operation.例文帳に追加
制御手段は、撮影準備時に、第1のAFスキャン動作と異なる第2のAFスキャン動作を行って合焦動作を実施する。 - 特許庁
At least a given one of the scan cells of the scan chain comprises output control circuitry which is configured to disable a functional data output of the scan cell in the scan shift mode of operation and to disable a scan output of the scan cell in the functional mode of operation.例文帳に追加
スキャンチェーンのスキャンセルの少なくとも所与の1つは、スキャンシフト動作モードではスキャンセルの機能データ出力をディスエーブルし、機能動作モードではスキャンセルのスキャン出力をディスエーブルするように構成された出力制御回路を備える。 - 特許庁
When the instructions for deciding the in-focus position is given, the control means performs second scan operation different from the first scan operation, so as to perform focus adjusting operation.例文帳に追加
制御手段は、合焦位置確定指示がなされた場合は、第1のスキャン動作とは異なる第2のスキャン動作を行って合焦動作を行う。 - 特許庁
The control means performs a second AF scan operation different from the first AF scan operation by performing an AF scan operation to carry out a focusing operation in photographing preparation.例文帳に追加
制御手段は、撮影準備時に、AFスキャン動作を行い合焦動作を実施して第1のAFスキャン動作と異なる第2のAFスキャン動作を行う。 - 特許庁
To prevent the generation of excessive IR drop in a scan test circuit performing a functional test of a flip-flop connected to a scan chain in parallel to a plurality of scan chains by a scan shift operation and a scan capture operation.例文帳に追加
スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のIRドロップの発生を防ぐ。 - 特許庁
The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加
スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも1つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁
An IP address is assigned for each operation, such as Print operation, Scan operation, Fax communication, and network command control.例文帳に追加
Print,Scan,Fax,ネットワークコマンド制御など、動作ごとにIPアドレスを割り当てる。 - 特許庁
During preparation for photography, the second operation to perform focusing operation by performing the AF scan operation is carried out.例文帳に追加
撮影準備時に、AFスキャン動作を行って合焦動作をする第2の動作を実施する。 - 特許庁
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