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semiconductor functional blockとは 意味・読み方・使い方
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「semiconductor functional block」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
The semiconductor integrated circuit includes a first functional circuit block 11, a second functional circuit block 12, a relay circuit block 13, a first protection circuit block 15, and a second protection circuit block 16.例文帳に追加
半導体集積回路は、第１の機能回路ブロック１１と、第２の機能回路ブロック１２と、中継回路ブロック１３と、第１の保護回路ブロック１５と、第２の保護回路ブロック１６とを備えている。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, FUNCTIONAL CIRCUIT BLOCK, MEMORY, AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加
半導体集積回路装置，機能回路ブロック，メモリおよび情報処理装置 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit allowing knowledge of power consumption of each functional block.例文帳に追加
各々の機能ブロックの消費電力を知ることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
The semiconductor integrated circuit 100 is mounted with functional block circuits 130, 140 and a switching capacitor 150.例文帳に追加
半導体集積回路100は、機能ブロック回路130、140と、スイッチングキャパシタ部150と、を搭載している。 - 特許庁
The semiconductor device comprises first and second functional blocks and a signal line 3a, which extend from the second functional block.例文帳に追加
半導体装置は、第１および第２の機能ブロックと、第２の機能ブロックから伸びる信号線３ａとを備える。 - 特許庁
To suppress an increase in the number of test patterns in each functional block, regarding a semiconductor device which comprises a plurality of functional blocks.例文帳に追加
複数の機能ブロックを有する半導体装置について、各機能ブロックのテストパターン数の増加を抑制する。 - 特許庁
This function verification method is provided with a process for preparing a first functional block 100a capable of operating a function required inside a semiconductor integrated circuit, a process for preparing a second functional block 100b serving as a verification object having the substantially same configuration as the first functional block, and a process for verifying the function of the second functional block 100b by the first functional block 100a.例文帳に追加
本発明の機能検証方法では、半導体集積回路内で要求された機能を実行することが可能な第１の機能ブロック１００ａを用意する工程と、第１の機能ブロックと実質的に同一の構成を有する検証対象となる第２の機能ブロック１００ｂを用意する工程と、第１の機能ブロック１００ａによって第２の機能ブロック１００ｂの機能を検証する工程を有している。 - 特許庁
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「semiconductor functional block」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing.例文帳に追加
半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。 - 特許庁
The semiconductor device 1 comprises a functional block 2, a plurality of power source terminals 4a-4d for supplying power to the functional block 2, and a plurality of switches 3a-3d for controlling electrical connections between the functional block 2 and respective power source terminals 4a-4d.例文帳に追加
半導体装置１は、機能ブロック２と、機能ブロック２に電源供給するための複数の電源端子４ａ〜４ｄと、機能ブロック２と各電源端子４ａ〜４ｄとの電気的接続を制御する複数のスイッチ３ａ〜３ｄと、を備える。 - 特許庁
The method of manufacturing the semiconductor integrated circuit by combining at least one standardized functional block and a newly developed custom functional block includes a step for forming a basic block chip that embodies the standardized functional block, a step for forming another custom block chip that embodies the custom functional block, and a step for coupling the basic block chip and the custom block chip.例文帳に追加
少なくとも一つの標準化された機能ブロックと、新たに開発したカスタム機能ブロックとを組み合わせて半導体集積回路を製造する方法において、前記標準化された機能ブロックを具現する基本ブロックチップを形成する工程と、前記カスタム機能ブロックを具現する別途のカスタムブロックチップを形成する工程と、前記基本ブロックチップと前記カスタムブロックチップとを結合する工程とを有する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device which functional circuits in a sense amplifier block can be laid out efficiently in a small area.例文帳に追加
センスアンプブロック内の各機能回路を小さい面積内に効率よくレイアウトすることのできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for inspecting a semiconductor integrated circuit capable of shortening the inspection time of a negative voltage generation circuit for supplying a functional block with a negative voltage.例文帳に追加
機能ブロックに負電圧を供給する負電圧発生回路の検査時間を短縮できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit which can determine the configuration of a plurality of components included in a functional block.例文帳に追加
機能ブロックに含まれる複数の要素の構成を判定することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
The plurality of power source terminal 4a-4d electrically connect each other in the semiconductor device 1 only with the functional block 2 interposing.例文帳に追加
複数の電源端子４ａ〜４ｄは、機能ブロック２を介さなければ、半導体装置１内において互いに電気的に接続されていない。 - 特許庁
A functional block 13, which is constituted of a semiconductor elment and a local wiring, is arrayed in the interior of each region 11.例文帳に追加
各素子配置領域１１の内部には、半導体素子とローカル配線とから構成される機能ブロック１３が配置されている。 - 特許庁
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