sequential selectionとは 意味・読み方・使い方

To simplify the selection of a scanning line, and to reduce a scanning speed, in a field sequential system that drives a display.例文帳に追加

表示装置を駆動するフィールドシーケンシャル方式において、走査線の選択を簡略化させ且つ走査速度を低下させる。 - 特許庁

To provide a digital broadcasting receiving apparatus capable of speedily changing a channel to a desired channel where a program is broadcast during sequential selection of channels.例文帳に追加

チャンネルの順選局時に、番組が放送されている所望のチャンネルへの切り替えを迅速に行うことができるデジタル放送受信装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device, an electrooptical device control program, and a scanning line selection order determining method which are suitably applied to display an image by using selection processing for scanning lines by a non-sequential scanning system.例文帳に追加

非順次走査方式による走査線の選択処理を用いて画像を表示するのに好適な電気光学装置、電気光学装置制御プログラム及び走査線選択順番決定方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises sequential circuits 1 to 3, combinational circuits 4, 5, a scan test circuit 6, a storage circuit 7, a BIST circuit 8, and a selection circuit 9.例文帳に追加

この発明は、順序回路１〜３と、組み合わせ回路４、５と、スキャンテスト回路６と、記憶回路７と、ＢＩＳＴ回路８と、選択回路９とを備えている。 - 特許庁

Furthermore, an information selection section 50 extracts update information in a time-sequential order, stored in the update information storage section 61 and outputs the update information for screen display.例文帳に追加

また、情報選択部５０は、更新情報蓄積部６１に格納された時系列順の更新情報を抽出して、画面表示させるために出力する。 - 特許庁

Further, the backlight driving circuit 7 selectively shifts the belt-like areas on the emission surface in the selective directions of the scanning lines Y, in synchronism with the sequential selection of the scanning lines Y.例文帳に追加

それとともに、バックライト駆動回路７は、走査線Ｙの順次選択と同期して、発光面上の帯状領域を走査線Ｙの選択方向に順次シフトさせる。 - 特許庁

A polarity reversal means 32 reverses the polarities of the sequential analog video signals VSIG based on the polarity selection signals POLSEL generated by the comparison means 31.例文帳に追加

極性反転手段３２は、比較手段３１が生成する極性選択信号ＰＯＬＳＥＬを元に順次アナログ映像信号ＶＳＩＧの極性を反転する。 - 特許庁

The selection circuit 9, at the time of the burn-in test, selects the burn-in test data written to the storage circuit 7 and distributes it into the sequential circuits 1 to 3.例文帳に追加

選択回路９は、バーンインテスト時に、記憶回路７に書き込まれているバーンインテスト用データを選択して順序回路１〜３に分配するようになっている。 - 特許庁