simultaneous inspectionとは 意味・読み方・使い方

To heighten efficiency of an inspection work using a general-purpose inspection device, to shorten an inspection time, and to reduce inspection cost, by enabling simultaneous inspection by combining flexibly different kinds of semiconductor devices.例文帳に追加

異なる種類の半導体装置を柔軟に組み合わせて同時検査を実施できるようにし、汎用検査装置を用いた検査作業の効率向上、検査時間の短縮ならびに検査コストの低減を実現する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SIMULTANEOUS OR CONTINUOUS, MULTIPLE, SLANT-VIEWED SPECIMEN DEFECT INSPECTION例文帳に追加

同時のまたは連続的な多重の斜視的な試料欠陥検査のためのシステムおよび方法 - 特許庁

To obtain a considerable cost reduction effect in a chip test by making an expensive chip tester unnecessary and shortening the inspection time of a chip to be tested by simultaneous parallel inspection.例文帳に追加

高価なチップテスターを不用とし、また同時並列検査による被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果を得る。 - 特許庁

To provide a hard disk inspecting device achieving the stabilization and uniformization of the quantity of the illumination light to the inspection target region of a hard disk and suitable even for the adaptation to the simultaneous inspection of the surface (recording surface part) and edge face (edge part) of the hard disk or the simultaneous inspection of both surfaces.例文帳に追加

ハードディスクの検査対象領域に対する照明光の光量の安定化・均一化を図り、ディスク表面（記録面部分）及び端面（エッジ部）の同時検査や両面の同時検査への適用にも好適なハードディスク検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe assembly which facilitates simultaneous inspection of a plurality of chips of LSIs having narrow pitches and multiple pins.例文帳に追加

狭ピッチでかつ多ピンを有するＬＳＩの複数チップ同畤検査を容易にするプローブ組立体を提供すること。 - 特許庁

Therefore, an expensive chip tester is made unnecessary and the inspection time of the chip to be tested is shortened by simultaneous parallel inspection, whereby a considerable cost reduction effect is obtained in the chip test.例文帳に追加

これにより、高価なチップテスターが不用になり、また同時並列検査によって被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果が得られる。 - 特許庁

For indexes in the parity inspection matrix corresponding to the indefinite solution part, a solving part substitutes the respective quantization values calculated by the quantizing part to k simultaneous linear equations with n variables representing the parity inspection condition to result in the k simultaneous linear equations with k variables, solves the k simultaneous linear equations with the k variables, and calculates a solution x^n that satisfies the parity inspection condition.例文帳に追加

求解部は、不定解部分に対応するパリティ検査行列内のインデックスについて、量子化部により算出された量子化値をパリティ検査条件を表すｎ変数のｋ連立一次方程式にそれぞれ代入してｋ変数のｋ連立一次方程式に帰着させ、ｋ変数のｋ連立一次方程式を解いて、パリティ検査条件を満足する解ｘ^ｎを算出する。 - 特許庁

To facilitate the simultaneous inspection of plural electronic parts by simplifying the constitution of a carrying device depending on the shape of electronic parts.例文帳に追加

電子部品の形状に依存する搬送装置の構成を削減し、複数個の電子部品の同時検査を容易にする。 - 特許庁