surface chemical analysisとは 意味・読み方・使い方

To provide a device for performing quantitative and qualitative analysis of chemical components or physical properties, at a proximity of a distance of several mm or shorter from the surface by using a relatively normal light source, a normal light-receiving element, and a simple condensing means.例文帳に追加

比較的普通の光源及び普通の受光素子と簡単な集光手段で表面から数ｍｍ以内の近傍の化学成分あるいは物性の定量、定性分析を行う。 - 特許庁

To provide a method of finding an accurate relationship among a leaked surface acoustic wave velocity, a chemical composition ratio and a linear expansion coefficient required for evaluating TiO_2-SiO_2 glass, by an ultrasonic device for material characteristic analysis.例文帳に追加

超音波材料特性解析装置によりTiO_2-SiO_2ガラスを評価するために必要となる漏洩弾性表面波速度と化学組成比や線膨張係数との間の正確な関係を求める方法を与える。 - 特許庁

In the fiber structure, the ratio of number of atoms represented by OIS/CIS and NIS/CIS of a polyester-based fiber surface obtained by measurement using electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA) by X ray irradiation is increased by 0.02, compared with a value of a part which is least ≥0.5 μm deeper from the fiber surface.例文帳に追加

ポリエステル系繊維表面の、Ｘ線照射による電子分光法（ＥＳＣＡ）による測定で求められる原子数比Ｏ1S／Ｃ1SおよびＮ1S／Ｃ1Sの値が、繊維表面から少なくとも０．５μｍ以上の深部での値に比べて０．０２以上増加していることを特徴とするポリエステル系繊維構造物。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The chemical mechanical polishing pad according to the present invention is a chemical mechanical polishing pad comprising a polishing layer, whose surface subjected to polishing has a silicon atom concentration or fluorine atom concentration of 0.5 to 10 atom% calculated by elemental analysis using x-ray photoelectron spectroscopy (XPS).例文帳に追加

本発明に係る化学機械研磨パッドは、研磨層を備えた化学機械研磨パッドであって、前記研磨層の研磨に供される表面を、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）によって元素分析することにより算出されるケイ素原子濃度またはフッ素原子濃度が、０．５ａｔｏｍ％以上１０ａｔｏｍ％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

In the analysis of the chemical bond of carbon by an X-ray photoelectron spectroscopic analysis method, coating layers 2 of polyphenylene ether-based organic matter are formed on the upper and lower surfaces of a liquid crystal polymer layer 1 of 7-18% area ratio caused by carboxy groups in the C1s peak area of the surface.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析法による炭素の化学結合状態の分析で、表面のＣ１ｓピーク面積におけるカルボキシル基に起因する面積の割合が７〜１８％である液晶ポリマー層１の上下面にポリフェニレンエーテル系有機物から成る被覆層２を形成して成ることを特徴とする絶縁フィルム３。 - 特許庁

A high-cleanliness gas is used in a sealed vessel as a ventilating current; a clean condensation tool is horizontally disposed in it; a chemical solution of an analysis object can be easily subjected to a pretreatment by dripping it on a surface of the tool and by depressurizing and drying it to a level preventing its bumping to cope with the required decomposition/condensation specification.例文帳に追加

密閉容器中に高清浄度ガスを気流に用い、その中に清浄な濃縮治具を水平に置き、この治具表面に分析対象の薬液を滴下して、突沸しない程度に減圧乾燥することで容易に前処理可能で、要求される分解、濃縮仕様に対応できる。 - 特許庁

The fiber structure containing a polyester fiber has the surface atom number ratios O1S/C1S and N1S/C1S determined by electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA) by X-ray irradiation is higher than that of the part at a depth of ≥0.5μm from the surface by ≥0.02.例文帳に追加

ポリエステル系繊維を含む繊維構造物であって、該ポリエステル系繊維表面の、Ｘ線照射による電子分光法（ＥＳＣＡ）による測定で求められる原子数比Ｏ1S／Ｃ1SおよびＮ1S／Ｃ1Sの値が、繊維表面から少なくとも０．５μｍ以上の深部の値に比べて０．０２以上増加していることを特徴とするものである。 - 特許庁