test for selectionとは 意味・読み方・使い方

A test pattern conversion part 7 converts the test patterns and test vectors selected by the selection part 5 into test patterns for the LSI tester.例文帳に追加

そして、テストパターン変換部７は、変換テストパターン選択部５によって選択されたテストパターンおよびテストベクタをＬＳＩテスタ用テストパターンに変換する。 - 特許庁

A test circuit 10 including a fuse for cut off test (parity fuse) 11 is provided in a redundant memory cell selection decoder 20.例文帳に追加

冗長メモリセル選択デコーダ２０に、切断試験用ヒューズ（パリティ・ヒューズ）１１を含むテスト回路１０を設ける。 - 特許庁

This mounted chip test/selection device includes a rotation unit 1 used for carrying a plurality of mounted chips C, a chip test unit 2, and a chip selection unit 4.例文帳に追加

実装チップ検査・選別装置は、複数の実装チップＣを搬送するために用いる回転ユニット１と、チップテストユニット２と、チップ選別ユニット４とを備える。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, AND WORD LINE MULTIPLE SELECTION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のワード線多重選択試験方法 - 特許庁

A test pixel section 310 is formed in a serial circuit of an external amplifier transistor 312 and a pixel selection transistor 314 for test.例文帳に追加

テスト画素部３１０は、画素外アンプトランジスタ３１２とテスト用画素選択トランジスタ３１４の直列回路にする。 - 特許庁

When the test selection signal S2 for selecting a selection signal S1 for ordinary operation is inputted into the test selection circuit part 7, an ordinary signal at the ordinary operation time inputted from the combinational circuit part 2 is supplied to the data selection circuit part 3.例文帳に追加

また、通常動作用選択信号Ｓ１を選択するテスト用選択信号Ｓ２をテスト用選択回路部７へ入力すれば、組合せ回路部２から入力される通常動作時の通常信号がデータ選択回路部３へ供給される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for test pattern selection for computational lithography model calibration.例文帳に追加

コンピュータリソグラフィモデル較正のためのテストパターン選択のための方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

A memory control unit for a hard macro or a soft macro can be selected by a memory control unit selection part 10, and a test item to be applied can be selected by a test item selection part 11.例文帳に追加

メモリ制御部選択部１０によりハードマクロかソフトマクロのメモリ制御部を選択でき、テスト項目選択部１１で適用テスト項目を選択できる。 - 特許庁