test for setting timeとは 意味・読み方・使い方

Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加

入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁

To provide a quality control method of electronic parts capable of setting a load condition for a burn-in, an accelerated test, or the like in a short time.例文帳に追加

バーンインや加速試験のための負荷条件の設定などを短時間で行うことのできる電子部品の品質管理方法を提供する。 - 特許庁

During the shifting operation of a scan path in time from setting of a write value to the setting completion of a read value in a scan flip-flop for setting a value in a test target memory, a value for a refreshing operation is included in a value passed through a flip-flop for setting a value in a test target memory.例文帳に追加

テスト対象メモリに対し値を設定するスキャンフリップフロップに対し、書き込み値を設定し、その後の一連のシフト動作を介して、読み出し値の設定が完了するまでの間の、スキャンパスのシフト動作中に、テスト対象メモリに対し値を設定するフリップフロップを通過してゆく値に対して、リフレッシュ動作を行わせる値を含ませる。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for a random number generation circuit, capable of easily setting an operation time for generating random numbers which never cause collision to the random number generation circuit.例文帳に追加

乱数発生回路に対して衝突が発生しない乱数を発生させるための動作時間の設定を簡単に行うことができる乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法を提供する。 - 特許庁

When a user selects an item of 'setting of utilized image' in a test mode for setting various utilizing forms, the automatic photo vending machine displays a utilized image setting menu, and the user can set an available image in edit processing for each time window in the utilized image setting menu.例文帳に追加

写真自動販売機においては、各種利用形態の設定を行なうテストモードにおいて「利用画像設定」を選択すること利用画像設定画面が表示され、利用画像設定画面において、時間帯ごとに、編集処理において利用可能な画像を設定することができる。 - 特許庁

At the time of verifying a high speed operation logic circuit, a high speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register directly from a bypass signal 5 to the selector section 2.例文帳に追加

一方、高速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）としての高速テストパターンをバイパス信号（５）からセレクタ部（２）へ直接に入力する。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁