「test for selection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test program 10 selects a real table to be used for the test based on a test procedure and gives an instruction to a data selection program 30 (S2).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト手順に基づいて、テストに使用する実テーブルを選択し、データ切替プログラム30に指示を出す（S2）。 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

A test pattern conversion part 7 converts the test patterns and test vectors selected by the selection part 5 into test patterns for the LSI tester.例文帳に追加

そして、テストパターン変換部７は、変換テストパターン選択部５によって選択されたテストパターンおよびテストベクタをＬＳＩテスタ用テストパターンに変換する。 - 特許庁

A test circuit 10 including a fuse for cut off test (parity fuse) 11 is provided in a redundant memory cell selection decoder 20.例文帳に追加

冗長メモリセル選択デコーダ２０に、切断試験用ヒューズ（パリティ・ヒューズ）１１を含むテスト回路１０を設ける。 - 特許庁

This mounted chip test/selection device includes a rotation unit 1 used for carrying a plurality of mounted chips C, a chip test unit 2, and a chip selection unit 4.例文帳に追加

実装チップ検査・選別装置は、複数の実装チップＣを搬送するために用いる回転ユニット１と、チップテストユニット２と、チップ選別ユニット４とを備える。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, AND WORD LINE MULTIPLE SELECTION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のワード線多重選択試験方法 - 特許庁

A test pixel section 310 is formed in a serial circuit of an external amplifier transistor 312 and a pixel selection transistor 314 for test.例文帳に追加

テスト画素部３１０は、画素外アンプトランジスタ３１２とテスト用画素選択トランジスタ３１４の直列回路にする。 - 特許庁

When the test selection signal S2 for selecting a selection signal S1 for ordinary operation is inputted into the test selection circuit part 7, an ordinary signal at the ordinary operation time inputted from the combinational circuit part 2 is supplied to the data selection circuit part 3.例文帳に追加

また、通常動作用選択信号Ｓ１を選択するテスト用選択信号Ｓ２をテスト用選択回路部７へ入力すれば、組合せ回路部２から入力される通常動作時の通常信号がデータ選択回路部３へ供給される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for test pattern selection for computational lithography model calibration.例文帳に追加

コンピュータリソグラフィモデル較正のためのテストパターン選択のための方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

A memory control unit for a hard macro or a soft macro can be selected by a memory control unit selection part 10, and a test item to be applied can be selected by a test item selection part 11.例文帳に追加

メモリ制御部選択部１０によりハードマクロかソフトマクロのメモリ制御部を選択でき、テスト項目選択部１１で適用テスト項目を選択できる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON例文帳に追加

テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁

In a use mode, a use mode selection signal S13c is outputted from a signal for a test generating part 13.例文帳に追加

使用モードでは、テスト用信号発生部13から使用モードの選択信号S13cが出力される。 - 特許庁

When the user listens a plurality of these test listening pieces in test sequentially and selects the test listening piece that he thinks that it is suitable for an image of the question by pressing a selection button 104b on the screen, this selection information is transmitted to the server device.例文帳に追加

ユーザは、これらの複数の試聴曲を順次試聴して、前記質問のイメージに合うと思う試聴曲を画面上の選択ボタン１０４ｂで選択すると、この選択情報はサーバ装置に送信される。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

The circuit comprises a data error correction means for comparing data with parity data to correct data, a data selection means for outputting the data or the corrected data as selected data in response to a test selection signal, and a test result output means for receiving the selected data and the parity data to output a test result signal in response to the test selection signal.例文帳に追加

本発明は、データとパリティデータを比較して修正データを出力するデータエラー修正手段、テスト選択信号に応答し、前記データ又は修正データを選択データとして出力するデータ選択手段、及び前記選択データと前記パリティデータが入力され、前記テスト選択信号に応答してテスト結果信号を出力するテスト結果出力手段を含む。 - 特許庁

In the system for voluntary test for communication facility, a server 10 for voluntary testing the communication facility, generates a plan for the voluntary test by referring a selection table for testing items stored in a voluntary test database 20, a data for test team members stored in a tester name list database 30, and items, purposes, and method of the voluntary test and a desision criterion stored in a decision criterion database 40.例文帳に追加

設備自主検査サーバ１０は、自主検査データベース２０に格納された検査項目選定表，検査実施者名簿データベース３０に格納された検査体制の構成員のデータおよび判定基準データベース４０に格納された自主検査の項目とその目的，方法および判定基準を参照して自主検査計画書を作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and a method therefor capable of accurately and meticulously applying conforming article/nonconforming article discrimination to semiconductor chips formed on a substrate, which cannot be attained only by an electric selection test for discriminating whether or not a test specification is satisfied.例文帳に追加

基板に形成された半導体チップについて、試験スペックを満たすか否かを判定する電気的選別試験のみでは得られない正確且つきめ細かな良品／不良品判定を行う。 - 特許庁

To provide a test circuit for hysteresis voltage width measurement and a measuring method of the hysteresis voltage width capable of simplifying the test circuit by dispensing with installation of a mode decoder for test signal selection, and suppressing to the minimum the increase of a chip area for the test circuit.例文帳に追加

テスト信号選択用のモードデコーダを設けなくて済んでテスト回路を簡略化することができるとともに、テスト回路のためのチップ面積の増加を最小限に抑えることができるヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのヒステリシス電圧幅の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test for confirming adhesion strength which enables the ready selection of an optimal adhesive corresponding to the material of a case housing.例文帳に追加

ケースハウジングの材質に応じた最適の接着剤を容易に選択できる接着強度の確認試験の提供。 - 特許庁

Then, an output selection picture following the picture quality adjusting picture for selecting main print and test print is displayed on the monitor 3.例文帳に追加

画質調整画面の次には、本プリントおよびテストプリントを選択させる出力選択画面をモニタ３に表示する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit includes a user logic circuit 20 to be used by a user and a test mode generation circuit 30 for generating a test mode selection signal TM for the user logic circuit 20.例文帳に追加

ユーザが使用するユーザロジック回路２０と、そのユーザロジック回路２０に対するテストモード選択信号ＴＭを生成するテストモード生成回路３０を有する半導体集積回路である。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for supporting the confirmation of a sales test result of an automatic vending machine for easily and surely confirming the sales test result by confirming a selected selecting means even after the selection even if a commodity is dispensed in a sales test mode.例文帳に追加

販売テストモードにおいて、商品が払い出されても、選択した選択手段を後からでも確認でき、販売テストの確認動作を容易かつ確実に行える自動販売機の販売テスト確認支援方法を提供する。 - 特許庁

When the memory test of a DRAM macro 2 is performed, a macro selection signal MSL is input into a decode circuit DC2 for decoding.例文帳に追加

ＤＲＡＭマクロ２に対してメモリテストを行う場合、マクロ選択信号ＭＳＬをデコード回路ＤＣ２に入力してデコードする。 - 特許庁

In consequence of this determination, when it is normal, it is determined whether this product is a good product for changing functions after performing defect relieving for changing DRAM functions, assembly, a defect acceleration test, a selection test (step S10-S14).例文帳に追加

この判定の結果、正常の場合は、ＤＲＡＭ機能変更欠陥救済、組立、不良加速試験、選別試験を行った後に、機能変更良品か否かを判定する（ステップＳ１０〜Ｓ１４）。 - 特許庁

The selection signal generation circuit activates one of selection signals corresponding to each of word line in accordance with an external command signal indicating a test operation mode and an external selection code signal for specifying word line voltage used for the memory device, during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage is a desired level or not.例文帳に追加

選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの１つを活性化する。 - 特許庁

A color test pattern of a different type is outputted by changing selection of a three dimensional lookup table used for LUT transform processing.例文帳に追加

ＬＵＴ変換処理に用いる３次元ルックアップテーブルの選択を変えることによって異なる種類のカラーテストパターンを出力する。 - 特許庁

Into a mode selection circuit 15, a scan mode signal SM for designating either a normal operation mode or the scan test mode is input.例文帳に追加

モード選択回路１５には、通常動作モードとスキャンテストモードのいずれかのモードを指定するスキャンモード信号ＳＭが入力する。 - 特許庁

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

This device is constituted so that an address for block selection selecting plural blocks of a cell array 1 alternatively and successively is generated using a binary counter 14 being cascade-connected conforming to an address for block selection for a single test.例文帳に追加

この発明は、単一のテスト用のブロック選択用アドレスにしたがって、縦続接続されたバイナリカウンタ１４を用いてセルアレイ１の複数のブロックを択一的に順次選択するブロック選択用アドレスを生成するように構成される。 - 特許庁

The selection signal generating circuit activates one signal out of selection signals corresponding to each of word line voltage in accordance with an external selection code signal for specifying word line voltage used for an external instruction signal indicating a test operation mode and word line voltage used for the memory device during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage has a required level or not.例文帳に追加

選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの１つを活性化する。 - 特許庁

With this arrangement, when a test for detecting a bad address is performed in a wafer state, a defect of a column selection line can be detected.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態で行われる不良アドレスの検出試験を行う際に、カラム選択線の不良を検出することが可能となる。 - 特許庁

According to input operation for selection of an icon representing the test position data displayed in a display part 7, the photograph data matching the test position data are displayed in the display part 7.例文帳に追加

そして、表示部７に表示される検査位置データを示すアイコンが入力操作され選択されることに伴い、その検査位置データに対応する撮像データを表示部７に表示する構成にした。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its electrical inspection device capable of reducing cost by shortening a test (final test) time for electrical selection, concerning the semiconductor device having a built-in capacitor.例文帳に追加

コンデンサが内蔵された半導体装置において、電気的選別のためのテスト（ファイナルテスト）時間を短縮してコストダウンを図ることが可能な半導体装置と、その電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit in which an address is not fixed in a test mode and a defect mode of address multiplexed selection can be detected by a read test for NOR flash memory and the like.例文帳に追加

テストモード時にアドレスを非固定状態にする回路を提供し、ＮＯＲ型フラッシュメモリ等について、Ｒｅａｄテストによってアドレス多重選択の不良モードの検出を可能とすることを目的とする。 - 特許庁

By changing the level of a control signal C2 from a mode selection part 40, the operation mode of a function part 10 is changed over from normal mode to test mode for reading data from a ROM 30 in which command codes for test are stored.例文帳に追加

モード選択部４０からの制御信号Ｃ２のレベルを変えることによって、機能部１０の動作モードを通常モードから、テスト用の命令コードを格納したＲＯＭ３０からデータを読み出すテストモードに切り替える。 - 特許庁

The adjusting means have a detection means to detect an unused amount of the test area, and a selection means to select a test area to be used for adjustment and a recording parameter for adjustment in accordance with the detected unused amount.例文帳に追加

前記調整手段は、テストエリアの未使用量を検出する検出手段と、検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択する選択手段と、を有する。 - 特許庁

To realize a selection of an analyzing logic for acquiring a test piece like a biochemically analyzing unit or analysis information without mistake.例文帳に追加

生化学解析装置において、生化学解析用ユニットのような試験片や解析情報取得のための解析ロジックを間違いなく選択できるようにする。 - 特許庁

A test signal generation part 220 successively generates a test voice signal by voice output setting following the candidates of a plurality of reception voice reproduction conditions configured of the combination of a selection speaker to be selected for the reproduction output of a received voice and a sound volume to be outputted from the selection speaker.例文帳に追加

受信音声の再生出力用に選択される選択スピーカと、その選択スピーカから出力される音量との組み合わせからなる複数の受信音声再生条件の候補に従って音声出力設定で、順次、テスト信号発生部２２０がテスト音声信号を発生させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory that optimum burn-in operation is performed to realize shortening of a process burn-in time and a selection test time by providing plural test modes improving access duty for a memory array system.例文帳に追加

メモリアレイ系へのアクセスデューティを上げるテストモードを複数搭載することで、最適なバーンインオペレーションを行い、工程バーンイン時間の短縮、選別試験時間の短縮を実現できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

On the fixed layer, scan clock wiring 11 for supplying a scan clock performing scan test to a selection circuit 4, and clock wiring for supplying the output from the selection circuit 4 to a flip-flop 51 on a scan path are formed.例文帳に追加

固定層には、スキャンテストを行なうためのスキャンクロックを選択回路４に対して供給するスキャンクロック配線１１と、選択回路４の出力をスキャンパス上のフリップフロップ５１に対して供給するクロック配線とを形成している。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CORROSIVE ENVIRONMENT OF MOBILE BODY, DESIGN METHOD, METHOD FOR CORROSION TEST OF MATERIAL OF MOBILE BODY, SELECTION METHOD, SURFACE TREATED STEEL SHEET, AND ANTI-CORROSION STEEL PRODUCT例文帳に追加

移動体の腐食環境計測方法および設計方法ならびに移動体材料の腐食試験方法および選定方法ならびに表面処理鋼板および耐食鋼材。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

This device is characterized by being provided with a selection part for selecting a test object output pin by a plurality of relays, at least one current source for sending a current to the output pin selected by the selection part, and a control part for controlling switching of the relay of the selection part and allowing the current source to send a current at the on-time of the relay.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力ピンを、複数のリレーにより選択する選択部と、この選択部が選択した出力ピンに電流を流す少なくとも１つの電流源と、選択部のリレーの切替を制御すると共に、リレーのオン時に、電流源に電流を流させる制御部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a device and a system that are effective when selection of the test mode of an information communication device to be tested is required in the house test for the information communication device comprising e.g. a central processing section, a storage section, a communication control section and a peripheral control section.例文帳に追加

たとえば中央処理部、記憶部、通信制御部、周辺制御部から構成される情報通信機器の社内試験等を行う際に、機器の試験モード切替えが必要な場合に有効な装置、方式を提供する。 - 特許庁