To provide a semiconductor device 10 having a structure in which a plurality of semiconductor chips are stacked, which can be tested without contact with a bump electrode BP_0 and increase in the load capacity of a penetrating-electrode TSV_0.例文帳に追加

複数の半導体チップが積層された構造を有する半導体装置において、パンプ電極ＢＰ＿０に接触せずに、かつ、貫通電極ＴＳＶ＿０の負荷容量を増やさずにテストできる半導体装置１０を提供する。 - 特許庁

A metabolism measuring agent of CYP3A4 serves as substrates of CYP3A4 and CYP2C19 and contains a ^13C labeled substrate compound having a capacity for generating ^13CO_2 by CYP2C19 after medicating to a mammal to be tested.例文帳に追加

ＣＹＰ３Ａ４及びＣＹＰ２Ｃ１９の基質となり、被験哺乳類に投与した後にＣＹＰ２Ｃ１９によって^13ＣＯ_2を生成する能力を有する^13Ｃ標識基質化合物を含有するＣＹＰ３Ａ４の代謝機能測定剤。 - 特許庁

As for the microwave-proofness of the film case, tested by filling the film case with water to its half capacity and then heating the case for five minutes in a microwave oven with a rated high frequency output 500 W, the rate of a size change is 20% or less.例文帳に追加

この際の電子レンジ適性としては、フィルムケース内に水を半分入れて、定格高周波出力５００Ｗの電子レンジにて５分間加熱した際に寸法変化率が２０％以下であった。 - 特許庁

Determination means 222 determines the remaining life of the battery to be tested 1 based on the measured voltage value by the voltage measuring means 212 and correlation data which indicates the correlation between the voltage, the number of charging/discharging cycles and the battery capacity of the secondary battery.例文帳に追加

判定手段２２２は、電圧測定手段２１２による測定電圧値と、二次電池の電圧、充放電サイクル数および電池容量の相関を示す相関データと、に基づいて被試験電池１の余寿命を判定する。 - 特許庁

In this evaluation method of the anion-exchange resin for testing an ion exchange capacity relative to the anion-exchange resin taken out from ion exchange equipment, after polystyrene sulfonic acid having a molecular weight below 3,000 is adsorbed onto the anion-exchange resin taken out from the ion exchange equipment, the ion exchange capacity is tested.例文帳に追加

イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂についてイオン交換能を試験するアニオン交換樹脂の評価方法において、イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂に分子量３０００以下のポリスチレンスルホン酸を吸着させた後、イオン交換能を試験する。 - 特許庁

To obtain the output buffer circuit which enables a stable test to be conducted without being affected by delay caused by additional capacitor a connected tester side by increasing the driving capability of an output buffer having low driving capacity when the output buffer circuit is tested.例文帳に追加

弱いドライブ能力の出力バッファ回路のテスト時に、出力バッファのドライブ能力を高くすることで、接続されたテスタ側の付加容量による遅延などの影響を受けることなく、安定なテストが行える出力バッファ回路を得る。 - 特許庁

To execute required tests, even with a small-capacity tester by forming a common testing electrode such that when it is brought into contact with a tested printed circuit board, independent wiring networks will not form an electrically closed circuit through the common testing electrode.例文帳に追加

被検査電極よりも大きなピッチの検査用電極を有し、小容量のテスターにより被検査プリント基板について所要の検査を実施することができ、設計および製造が容易なプリント基板検査用治具基板を提供すること、並びに当該検査用治具基板を用いるプリント基板検査方法を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor tester having a termination function for terminating a DUT output signal outputted from an IC pin in a device to be tested has a load current reducing means for reducing a load current flowing to a terminating resistor corresponding to the current drive capacity of the output end of DUT to a prescribed value.例文帳に追加

被試験デバイスのＩＣピンから出力されるＤＵＴ出力信号を所定の終端抵抗で終端する終端機能を備える半導体試験装置において、ＤＵＴの出力端の電流駆動能力に対応して終端抵抗に流れる負荷電流を所定に低減する負荷電流低減手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁