testing of digital circuitとは 意味・読み方・使い方

To provide a pipeline analog-to-digital converter testing circuit, and a pipeline analog-to-digital converter equipped with this, which directly measures the characteristics of each component of the pipeline analog-to-digital converter in a short period of time.例文帳に追加

短時間でパイプラインＡ／Ｄ変換器の各構成要素の特性を直接測定することが可能なパイプラインＡ／Ｄ変換器の試験回路及びこれを備えたパイプラインＡ／Ｄ変換器を実現する。 - 特許庁

To provide a circuit device for testing a ROM decoder, capable of executing multiple detection for the decoder by a digital circuit operation and by a simple structure circuit.例文帳に追加

デコーダの多重検出をデジタル的な回路動作で、且つ、より簡単な構成の回路によって行うことができるＲＯＭのデコーダテスト回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a jitter testing circuit that can accurately measure the amount of jitters, without being affected by the manufacturing factors or the usage environment, and is composed of a digital circuit that is strong with respect to noise.例文帳に追加

製造要因、使用環境に影響されずに正確にジッタ量を測定でき、ノイズに強いディジタル回路で構成されるジッタテスト回路を提供する。 - 特許庁

The receiver 3b receives the digital-analog signal wave transmitted to the track circuit 2T, separates the digital modulation components, and improves the noise resistance by testing the period and the order of the frequency of the digital modulation components that are separated.例文帳に追加

受信器３ｂは軌道回路２Ｔに送信されているデジアナ信号波を受信してデジタル変調成分を分離し、分離したデジタル変調成分の周波数の周期と順番を検定して耐雑音性を向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which enables easy testing of variation in an output clock frequency of a built-in clock generator, outside an LSI chip, by a digital tester.例文帳に追加

内蔵されたクロックジェネレータの出力クロック周波数の変動をＬＳＩチップ外部でデジタルテスタにより容易に試験できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit in which winings connecting a digital circuit and an analog circuit are inspected accurately and easily, and to provide a testing method therefor, for an integrated circuit, in which digital circuits are connected via a plurality of wirings and an analog circuit controlled, based on digital values supplied via a plurality of wirings is provided, and to provide a test method therefor.例文帳に追加

ディジタル回路とディジタル回路と複数の配線を介して接続され、複数の配線を介して供給されるディジタル値に基づいて制御されるアナログ回路とを有する集積回路及びその試験方法に関し、ディジタル回路とアナログ回路とを接続する配線の検査を正確、かつ、容易に行える集積回路及びその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit device testing system, an input signal conversion circuit is installed at the prestage of an analog/digital conversion circuit on a probe card, thus achieving precise measurement, in agreement with the measurement purpose.例文帳に追加

本半導体集積回路装置テストシステムにおいては、プローブカード上のアナログデジタル変換回路の前段に入力信号変換回路を設置し、測定目的に合致して且つ高精度な測定を可能としている。 - 特許庁

This test selection circuit 10 is integrated in a semiconductor integrated circuit, and selects one out of a plurality of digital signals appearing in its inside, to be output to an outside via a test output terminal 114, when testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

テストセレクト回路１０は、半導体集積回路に集積化され、半導体集積回路のテスト時において、内部に現れる複数のデジタル信号から、ひとつを選択して外部にテスト出力端子１１４を介して出力する。 - 特許庁