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和英日本標準商品分類での「units for testing」の意味

Units for testing


「units for testing」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 10



例文

There are provided methods, port units, and computer readable storage media for testing network connections.例文帳に追加

ネットワーク接続を試験するための方法、ポートユニット、およびコンピュータ可読保存媒体。 - 特許庁

There are provided a plurality of programmable distribution type testing units 12, individually communicating with a related device in a plurality of devices; networks 24, 36 for transmitting information among the plurality of distribution type testing units 12; and a system monitoring unit 16 for communicating with a plurality of programmable distribution type testing units 12 via the networks 24, 36.例文帳に追加

複数のデバイスの内の関連するデバイスと個別に通信を行う複数のプログラム可能な分散形試験ユニット12と、複数の分散形試験ユニット12の間で情報を伝達させるネットワーク24,36と、このネットワーク24,36を通して複数のプログラム可能な分散形試験ユニット12と通信を行うシステムモニタユニット16とを備える。 - 特許庁

To lower a failure rate of a semiconductor testing device by reducing the number of central processing units necessary for control of a test.例文帳に追加

試験の制御に必要な中央処理装置の数を減少させることで、半導体試験装置の故障率を低下させる。 - 特許庁

To provide a refrigerator condensation unit capable of reducing manufacturing cost required for manufacturing units with different refrigerator capacities and development cost and development periods required for design and testing.例文帳に追加

冷凍機容量の異なるユニットを製造する際の製造コスト、設計や試験にかかる開発コストおよび開発期間を低減化することのできる冷凍機凝縮ユニットが要求されている。 - 特許庁

To provide a method for testing the detection voltage level kept by the voltage detection circuit of the semiconductor voltage detection circuit with a small number of DC measurement units for the semiconductor integrated circuit with a built-in voltage detection function.例文帳に追加

電圧検出機能を内蔵した半導体集積回路において、その半導体集積回路の電圧検出回路が保持する検出電圧レベルを少ないDC測定ユニットで検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and system for updating software in a network element of a telecommunication network the units of which are divided into an original side and testing side, wherein the system include a network element having units that are logically divided into the original side and the testing side, original software for performing traffic transmitting tasks and a new piece of software to be tested and/or introduced.例文帳に追加

テレコミュニケーションネットワークのネットワーク要素におけるソフトウェア更新方法及びシステムであって、そのユニットがオリジナル側とテスト側に分割され、そして上記システムは、オリジナル側とテスト側に論理的に分割されるユニットより成るネットワーク要素と、トラフィック送信タスクを実行するためのオリジナルソフトウェアと、テスト及び/又は導入されるべきソフトウェアの新たな断片とを含むような方法及びシステムに係る。 - 特許庁

例文

In the coating device provided with an unwinding unit of the web, an infield unit, one or more coating units, an outfield unit and a winding unit for the web and for coating the moving web, one or more devices for testing to grasp and examine the coating state on the web are provided.例文帳に追加

ウェブの巻出しユニットと、インフィールドユニットと、1つ又は複数のコーティングユニットと、アウトフィールドユニットと、ウェブの巻取りユニットとを備え、移動するウェブにコーティングを施すコーティング装置において、ウェブのコーティング状態を把握検査する装置を1つ又は複数備えることを特徴とするコーティング装置。 - 特許庁

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「units for testing」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 10



例文

To provide a mm wave radar testing apparatus that is incorporated into a mm wave radar apparatus for measuring the distance between mobile units and the relative speed especially by using an FM-CW system regarding the mm wave radar apparatus, and can perform an analog test singly by the apparatus.例文帳に追加

ミリ波レーダ装置に関し、特にFM−CW方式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定するミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.例文帳に追加

システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスDUT1〜DUT4を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスDUT1〜DUT4とLSIテスタ100とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスDUT1〜DUT4ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットDLY1〜DLY4を設ける。 - 特許庁

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