顕微鏡技術の英語

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。例文帳に追加

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever. - 特許庁

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工による欠陥修正に要する時間を短縮できるようにする。例文帳に追加

To reduce time required for correcting a defect due to mechanical processing using an atomic force microscope (AFM) technique. - 特許庁

顕微鏡の主対物レンズの焦点距離変化に伴う照明のセンタリングを簡単な技術で達成すること。例文帳に追加

To achieve centering of illumination following a change in a focal distance of the main objective lens of a microscope by simply technique. - 特許庁

顕微鏡利用者に対して過度に作業負担を掛けることなく、適切に画像を調整する技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for appropriately adjusting an image without excessively imposing an operation burden on a microscope user. - 特許庁

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method. - 特許庁

光学顕微鏡を用いたグローバルアライメント（ウェーハの位置ずれ・回転検出）を安定かつ自動に行う技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology used for performing global alignment (detection of displacement and rotation of a wafer) stably and automatically by using an optical microscope. - 特許庁

多光子励起顕微鏡の設定に応じて、非共焦点検出光学系を最適化する技術を提供する。例文帳に追加

To optimize a non-confocal detection optical system in accordance to a setting of a multi-photon excitation microscope. - 特許庁

原子間力顕微鏡技術を用いたマスクの欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工を実現する。例文帳に追加

To realize working, without overetching or insufficient shaping in defect correction on a mask using atomic force microscope techniques. - 特許庁