「"構造検査"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

電池の封止構造検査方法および電池の封止構造検査装置例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF BATTERY SEALING STRUCTURED AND BATTERY-SEALING STRUCTURE INSPECTION DEVICE - 特許庁

真珠や宝石の内部構造検査方法及び内部構造検査装置例文帳に追加

INTERNAL STRUCTURE INSPECTING METHOD AND INTERNAL STRUCTURE INSPECTING DEVICE FOR PEARL OR PRECIOUS STONES - 特許庁

ボールの内部構造検査方法及びその装置例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING INTERNAL STRUCTURE OF BALL AND APPARATUS THEREFOR - 特許庁

プリント基板配線の配線分岐構造検査装置、基板図データ設計装置、および、配線分岐構造検査方法例文帳に追加

WIRING BRANCH STRUCTURE INSPECTION EQUIPMENT OF PRINTED CIRCUIT BOARD WIRING, CIRCUIT BOARD DIAGRAM DATA DESIGNING DEVICE AND WIRING BRANCH STRUCTURE INSPECTING METHOD - 特許庁

半導体デバイスの内部構造検査方法及びその検査装置例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING INTERNAL STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND INSPECTING DEVICE THEREOF - 特許庁

積層構造検査法、Ｘ線反射率装置および磁気記録再生装置例文帳に追加

LAMINATED STRUCTURE INSPECTION METHOD, X-RAY REFLECTANCE DEVICE, AND MAGNETIC RECORDING AND REPRODUCING DEVICE - 特許庁

構造検査方法、パターン形成方法、プロセス条件決定方法、及び半導体装置の製造方法例文帳に追加

STRUCTURE INSPECTION METHOD, PATTERN FORMING METHOD, PROCESS CONDITION DETERMINING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

人体の内部構造をより正確に検査できる内部構造検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an internal structure inspection device, capable of more accurately inspecting the internal structure of a human body. - 特許庁

長周期規則構造体の構造検査方法および検査装置および長周期規則構造体例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR STRUCTURE INSPECTION ON LONG- PERIOD REGULAR STRUCTURE AND LONG-PERIOD REGULAR STRUCTURAL BODY - 特許庁

ろう付け状態を非破壊検査で容易に検査することのできる接合構造、検査装置及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a joining structure, an inspection device, and its inspection method providing easy inspection of a brazed state by non-destructive inspection. - 特許庁

構造化文書に署名付与、暗号化などの処理を施すと文書の構造が変化するため、署名付与、暗号化などの処理を施さない文書と同じ方法で構造検査を実施することができない。例文帳に追加

To resolve the problem wherein a structured document which has been subjected to processing such as signing and encryption cannot be structurally examined by the method used for documents not subjected to the processing because the structure of documents is changed after being subjected to the processing. - 特許庁

基板上に２層以上の薄膜を形成した積層体において、積層数が増えても容易に積層構造を解析でき、かつ、容易に入射角補正が可能な積層構造検査法と、最小二乗法解析で得た解析値の信頼性を求める方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a layered structure inspection method for easily analyzing a layered structure in a layered body formed of two or more thin films layered on a base board in spite of increase in the number of layers and easily correcting an incident angle and to provide a method for finding reliability of an analysis value obtained by least square method analysis. - 特許庁

本発明により、構造化文書の全部または一部に署名が付与される、または、構造化文書の全部または一部が暗号化されるなどの理由により文書構造が変化する場合でも、暗号化部分の検査者の復号化可否に関わらず、文書全体の構造検査を実施することが可能となる。例文帳に追加

Even in the case that the document structure is changed because the signature is given to the whole or a part of the structured document, or the structured document is entirely or partially enciphered, the structure of the entire document can be examined regardless of whether an examiner can decipher an enciphered part. - 特許庁

被測定対象の表面及び表面近傍内部についての静的・動的弾性特性を、大気の揺らぎや被測定対象の表面凹凸に影響されることなく安定・高精度・高感度に非接触・非破壊で１フレーム同時一括収集して構造検査や探傷等を動的・静的に診断する非破壊検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a non-destructively inspecting apparatus for stably, accurately, highly sensitively, non-destructively simultaneously batch collecting static or dynamic elastic characteristics of a surface to be measured and an interior near the surface in one frame without contact structure-inspecting or dynamically or statically diagnosing a flaw or the like without influence to atmospheric fluctuation or surface irregularities to be measured. - 特許庁