例文 (256件) |
繰り返し反射の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 256件
演算処理装置b1は、スペクトル情報に基づき算出される歪を用いた第1の形状同定演算と、スペクトル情報に基づき反射光のスペクトル形状による第2の形状同定演算とを、先の同定結果を後の形状同定演算の初期値として用いながら、交互に繰り返し行って接着層a3のはく離形状を同定する。例文帳に追加
The arithmetic processing unit b1 identifies the separation shape of the adhesion layer a3 by alternately repeatedly executing first shape identification calculation using strain calculated based on the spectrum information, and second shape identification calculation by a spectrum shape of the reflected light based on the spectrum information while using a previous identification result for an initial value of succeeding shape identification calculation. - 特許庁
従来のフーリエ変換フィルタを用いた検査装置及び検査方法では、繰り返しパターンからの回折光の除去には有効であるが、不規則な回路パターンのエッジ部からの反射光は除去できず、エッジ部処理やエッジ部近傍における異物と疑似不良の識別等高度な画像処理が必要でありる。例文帳に追加
To solve the problem in conventional inspection apparatus and inspection method using a Fourier transform filter that a reflecting light from an edge of an irregular circuit pattern cannot be removed although the apparatus and method are effective to remove a diffraction light from a repeated pattern, and consequently sophisticated image processing such as processing the edge, distinguishing foreign matters from false failures in the vicinity of the edge, etc., is required. - 特許庁
また、同一の外形寸法を有すると共に複数の光透過部を含む同一のマスクパターンが形成された単位マスク領域を複数有し、単位マスク領域が所定方向に沿って隣接して繰り返し配置されたフォトマスクにおいて、所定方向における前記単位マスク領域の幅が600μm以上であるフォトマスクを用い、フォトリソグラフィー法を用いて拡散反射板を形成する。例文帳に追加
Further in the photomask which has a plurality of unit mask regions having the same external size and the same mask pattern including a plurality of light transmission sections formed thereon and on which the unit mask regions are adjacently and repeatedly arranged along the predetermined direction, the photomask in which width of the unit mask region in the predetermined direction is ≥600μm is used and the diffuse reflection board is formed by using photolithography. - 特許庁
空間に観測用信号を繰り返し送信し、空間から受信された受信信号から測定対象物によって反射された観測用信号を検出することにより、測定対象物を検出する物体検出装置であって、観測用信号の受信率を求める受信率判定部22を含み、受信率判定部22において求められた受信率により処理を制御する物体検出装置。例文帳に追加
This object detector for detecting the measuring object by transmitting repeatingly signals for observation into a space, and by detecting the signals for the observation reflected by the measuring object, based on reception signals received from the space includes a reception rate determination part 22 for finding a reception rate of the signals for the observation, and controls processing based on the reception rate found in the reception rate determination part 22. - 特許庁
直線状光源に対し、その片側には、複数の平行な稜線を有するレンチキュラーレンズアレイおよび反射偏光子が配置されており、かつレンチキュラーレンズアレイの稜線は直線状光源の長軸に概略平行に配置されており、もう一方の片側には、稜線を有し、かつ繰り返し傾斜構造を有する反射板が、反射板の稜線と直線状光源の長軸とが概略直交するように配置されていることを特徴とする直下型バックライト。例文帳に追加
In the direct backlight, a lenticular lens array having a plurality of parallel ridgelines arranged nearly parallelly with the axes of linear light sources, and the reflecting polarizer are disposed to one side of the linear light sources, and a reflecting plate having ridgelines and repeating slant structure is disposed to the other side of the linear light sources such that the ridgelines of the reflecting plate and the axes of the linear light sources nearly cross. - 特許庁
ホログラムからなる位置出しマーク5が設けられたホログラム製品4の位置出し方法において、ホログラム製品4の一端6から照明光13を入射させ、ホログラム製品4内を繰り返し反射により位置出しマーク5位置へ導光させ、位置出しマーク5によりホログラム製品4外に回折された回折光15を用いてホログラム製品の位置出しを行うホログラム製品の位置出し方法。例文帳に追加
In the method for positioning a hologram product 4 on which a positioning mark 5 consisting of a hologram is formed, illumination light 13 is made incident from one end 6 of the product 4 and led to the position of the mark 5 by repeatedly reflecting the light 13 in the product 4 and the product 4 is positioned by using diffracted light 15 diffracted from the mark 5 to the outside of the product 4. - 特許庁
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