「電子顕微鏡試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

フラウンホーファー・インラインホログラフィーが、電子顕微鏡法において試験されてきた。例文帳に追加

Fraunhofer in-line holography has been tested in electron microscopy.  - 科学技術論文動詞集

電子顕微鏡１２は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Ｔに電子線を照射して試験体Ｔの形状を測定する。例文帳に追加

The electron microscope 12 electronically scans, radiates an electron beam to the tested element T after the deterioration has been promoted, and measures a shape of the tested element T. - 特許庁

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。例文帳に追加

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope. - 特許庁

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample. - 特許庁

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。例文帳に追加

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction. - 特許庁