「Auger analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To perform accurate Auger spectroscopic analysis in the surface analysis of a sample with an insulating surface.例文帳に追加

絶縁性の表面を有する試料の表面分析において、正確なオージェ分光分析を可能とする。 - 特許庁

Electron beams are irradiated correctly to an analysis position, and a correct Auger spectrum can be obtained.例文帳に追加

このように絶縁物試料９は帯電しないので、分析位置に正確に電子線が照射され、正確なオージェスペクトルを得ることができる。 - 特許庁

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

Then, only Auger electrons AE, having emission polar angles in a range of 26±2 degrees and being selected from the Auger electrons, are introduced into a space between an inner cylindrical electrode 13 and an outside cylindrical electrode 14 arranged so as to surround the electron gun 11 and deflected by a deflection electric field, whereby an analysis is carried out.例文帳に追加

次いで、前記オージェ電子の内、放出極角が２６±２度の範囲にあるオージェ電子ＡＥのみを、電子銃１１を囲むようにして設けられた内円筒電極１３及び外円筒電極１４間に導入し、偏向電場により偏向させて分析に供する。 - 特許庁

To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device.例文帳に追加

オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。 - 特許庁

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

One X-ray spectrum is obtained from the photoelectrons and Auger electrons emitted from the sample S in an electron yield spectrum detecting section 25 of an XAFS analysis apparatus 1.例文帳に追加

ＸＡＦＳ分析装置１の電子収量スペクトル検出部２５において試料Ｓから放出された光電子及びオージェ電子に基づいてＸ線吸収スペクトルを得る。 - 特許庁

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.例文帳に追加

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁

When analyzing three components of aluminum, carbon, and oxygen in the surface of the aluminum electrode layer 5 by Auger electron analysis, the percentage of aluminum is 85% or above.例文帳に追加

上記アルミニウム電極層５の表面についてアルミニウム、炭素及び酸素の３成分をオージェ電子分析で分析したときの上記３成分中のアルミニウムの割合が８５％以上である。 - 特許庁

When analyzing the change of the toner concentration in the stirring part, a particle behavior analysis model by a distinct element method equivalent to one cycle of an auger is formed, and particle behavior is calculated by filling with particles equivalent to carrier, arranging predetermined amount of toner on an upstream side in a developer conveying direction, and rotating the auger for a predetermined time.例文帳に追加

攪拌部におけるトナー濃度変化解析を行なう際、オーガ一周期分に相当する個別要素法による粒子挙動解析モデルを作成し、キャリアに相当する粒子を充填し、現像剤搬送方向の上流側に所定量のトナーを配置し、所定時間オーガを回転させた粒子挙動を計算する。 - 特許庁

In the austenitic stainless steel, the content of Cu is 0.5 to 3.0 mass%, and concentration of Cu in an outermost surface layer measured by Auger electron spectral analysis is ≤0.5 atomic%, preferably, ≤0.1 atomic%.例文帳に追加

Ｃｕ含有量が０.５〜３.０質量％であり、オージェ電子分光分析により測定される極表層のＣｕ濃度が０.５原子％以下好ましくは０.１原子％以下であるオーステナイト系ステンレス鋼材。 - 特許庁

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured.例文帳に追加

オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。 - 特許庁

In this stainless steel member in which a passive film has been deposited on the surface of a base material, in the case the concentration (atomic %) of Fe in the base material is defined as [Fe], and the concentration (atomic %) of Cr in the passive film is defined as [Cr] in the Auger analysis of the passive film, [Cr]/[Fe] is ≥0.25.例文帳に追加

母材表面に不働態皮膜が形成されたステンレス鋼部材であって、この不働態皮膜のオージェ分析による母材のＦｅの濃度（原子％）を[Ｆe]とし、不働態皮膜におけるＣｒの濃度(原子％)を[Ｃr]とした場合に、[Ｃr]／[Ｆe]が０.２５以上であるステンレス鋼部材である。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁