「Automatic test equipment」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a self test adapter (STA) (22) for automatic test equipment (ATE).例文帳に追加

自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）（２２）を提供すること。 - 特許庁

To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.例文帳に追加

スキャンベースの集積回路中のＡＴＥでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁

To provide a method and structure for protecting protected circuitry within automatic test equipment from electrostatic discharge (ESD).例文帳に追加

自動試験装置内の保護対象回路構成に対してＥＳＤ保護を提供する。 - 特許庁

A distributed operating system for a semiconductor test system such as automatic test equipment (ATE) is described.例文帳に追加

自動テスト機器（ATE）のような半導体テストシステム用の分散オペレーティングシステムが記載されている。 - 特許庁

A test can be executed on an ATE (automatic test equipment) by using a simple test vector, and is executed by a field engineer on a actual board provided with a chip.例文帳に追加

テストは、簡単なテストベクタを用いてＡＴＥ（自動試験装置）上で実行されえ、チップを備える実際のボード上でフィールドエンジニアによって実行されえる。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁

The structure 100 and method operable to provide ESD protection for protected circuitry 110 of automatic test equipment (ATE).例文帳に追加

自動試験装置の保護対象回路構成(110)に対するＥＳＤ保護を提供するよう動作可能な構成(100)及び方法である。 - 特許庁

To aim at reduction of man-hours by automatic measurement by taking a device capable of conveying a semiconductor chip element after being packaged by an insulating resin into automatic test equipment (ATE) for semiconductor wafer measurement, and to reduce man-hours and to heighten accuracy of electric test evaluation of the semiconductor chip element after being packaged.例文帳に追加

絶縁性樹脂によるパッケージ後の半導体チップ素子を半導体ウェハ測定用の自動試験装置（ＡＴＥ）に搬送できる工夫を取り入れ、自動測定による工数削減を狙うものであり、パッケージ後の半導体チップ素子の電気的試験評価の工数削減及び高精度化を図る。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁

To provide a method and system for synchronizing phases and frequencies between channels of automatic test equipment (ATE) even at different frequencies.例文帳に追加

異なる周波数でも可能な、自動テスト装置（ＡＴＥ）のチャネル間の位相と周波数同期化を提供することのできる方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

To provide fire alarm equipment which facilitates confirmation operation that there is no omission in checking of terminal devices in the fire alarm equipment which is equipped with functions of automatic or manual examinations of the terminal device and accumulates and stores a history of the above test results.例文帳に追加

端末機器の自動試験または手動試験の機能を具備し、上記試験結果の履歴を蓄積保管する火災報知設備において、端末機器の点検漏れの無いことを確認する作業が容易である火災報知設備を提供することを目的とするものである。 - 特許庁